基本信息:
- 专利标题： 用于确定样本的热质量度量的方法
- 申请号：CN202380044368.5 申请日：2023-05-16
- 公开(公告)号：CN119301436A 公开(公告)日：2025-01-10
- 发明人： V·哈格曼 , C·韦伯 , J·韦博
- 申请人： 肖特股份有限公司
- 申请人地址： 德国美因茨
- 专利权人： 肖特股份有限公司
- 当前专利权人： 肖特股份有限公司
- 当前专利权人地址： 德国美因茨
- 代理机构： 北京思益华伦专利代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 赵飞
- 优先权： 102022113940.9 2022.06.02 DE
- 国际申请： PCT/EP2023/063152 2023.05.16
- 国际公布： WO2023/232461 EP 2023.12.07
- 进入国家日期： 2024-12-02
- 主分类号： G01N21/64
- IPC分类号： G01N21/64 ; G01N25/72 ; G01N33/38
摘要：
本发明涉及用于以空间解析的方式来确定样本(1)的热质量度量的方法，其中，用入射光(13、27)照射样本的表面区域(3)，分别为表面区域(3)的一个或多个子区域中的每个子区域测量温度并且基于为相应的子区域测量的温度和参考温度以及入射光的入射到相应的子区域上的光功率为每个子区域获得质量特征值。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/63 | ..光学激发的 |
| ------------G01N21/64 | ...荧光；磷光 |