
基本信息:
- 专利标题: 一种分体式、双模式、多尺度数字图像全场变形测量系统
- 申请号:CN202411920905.0 申请日:2024-12-25
- 公开(公告)号:CN119354093B 公开(公告)日:2025-04-18
- 发明人: 白雨濛 , 周俊龙 , 李一康 , 胡澍东 , 姚德涵 , 李飞 , 白强强
- 申请人: 中国建筑第六工程局有限公司
- 申请人地址: 天津市滨海新区杭州道街杭州道72号
- 专利权人: 中国建筑第六工程局有限公司
- 当前专利权人: 中国建筑第六工程局有限公司
- 当前专利权人地址: 天津市滨海新区杭州道街杭州道72号
- 代理机构: 天津市新天方专利代理有限责任公司
- 代理人: 王伟
- 主分类号: G01B11/16
- IPC分类号: G01B11/16 ; G01B11/02 ; G01B5/00
摘要:
本发明是一种分体式、双模式、多尺度数字图像全场变形测量系统,包括计算机和两台测量装置,测量装置包括支撑结构、DIC图像采集系统、数据处理计算单元和远程通讯传输单元。与现有的测量模式单一、测量距离受限、视场角度固定的一体式数字图像变形测量系统相比,本发明采用分体式测量装置,提供了2D和3D测量模式,每个测量装置都具备独立的二维场变形测量功能,可单独使用,两台测量装置组合为一套测量系统使用时具备三维全场变形测量功能;测量装置中涵盖了三套测量尺度不同的DIC图像采集单元,可根据不同工程应用场景需求选择合适的测量单元并调整装置的测量位置和角度;功能丰富、结构紧凑、布置灵活,应用场景广,易携带使用。
公开/授权文献:
- CN119354093A 一种分体式、双模式、多尺度数字图像全场变形测量系统 公开/授权日:2025-01-24
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量 |
------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |
--------G01B11/16 | .用于计量固体的变形,例如光学应变仪 |