基本信息:
- 专利标题： 一种能量色散X射线荧光光谱检测食品中锡的方法
- 申请号：CN202411727208.3 申请日：2024-11-28
- 公开(公告)号：CN119555717A 公开(公告)日：2025-03-04
- 发明人： 王宗义 , 赵修平 , 高静怡 , 何世慧
- 申请人： 北京农学院
- 申请人地址： 北京市昌平区回龙观镇北农路7号
- 专利权人： 北京农学院
- 当前专利权人： 北京农学院
- 当前专利权人地址： 北京市昌平区回龙观镇北农路7号
- 代理机构： 陕西铭一知识产权代理有限公司
- 代理人： 冯小凯
- 主分类号： G01N23/223
- IPC分类号： G01N23/223 ; G01N23/2202
摘要：
本发明涉及分析检测技术领域，具体涉及一种能量色散X射线荧光(EDXRF)光谱检测食品中锡的方法。包括以下步骤：称取待检食品样，加入溶解剂，搅拌均匀，得到待检样；称取待检食品空白样，加入溶解剂和锡标准溶液，搅拌均匀，得到标准样。对标准样和待检样进行EDXRF光谱扫描，依据X射线荧光谱线Kα1(25.271KeV)与Kα2(25.044KeV)强度之和，进行外标法定量。本发明解决了锡箔包装饮料、婴幼儿米粉、乳粉和面粉中的锡的EDXRF光谱法检测问题，克服了系列标准样不易制备和商品化获得难得问题，找到了解决了基质效应的方法，成功实现了锡的快速检测。该方法无需样品消解、人员环境友好，简单快速，成本低廉，为食品中锡含量的合格性快筛的提供了有效支撑。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/223 | ..通过用X射线辐照样品以及测量X射线荧光 |