基本信息:
- 专利标题： 离子相位差预测和校正方法
- 申请号：CN202411494993.2 申请日：2024-10-24
- 公开(公告)号：CN119574685A 公开(公告)日：2025-03-07
- 发明人： 朱涛 , 刘立鹏 , 虞哲睿 , 夏子寒 , 段炼 , 胡建坤 , 韩双来 , 俞晓峰 , 张国敏 , 郑晓霞
- 申请人： 杭州谱育科技发展有限公司
- 申请人地址： 浙江省杭州市临安区青山湖街道科技大道2466-1号
- 专利权人： 杭州谱育科技发展有限公司
- 当前专利权人： 杭州谱育科技发展有限公司
- 当前专利权人地址： 浙江省杭州市临安区青山湖街道科技大道2466-1号
- 主分类号： G01N27/64
- IPC分类号： G01N27/64 ; G06F18/10 ; G06F17/14 ; G01N27/623
摘要：
本发明提供了一种离子相位差预测和校正方法，包括以下步骤：包括以下步骤：（S1）采集标准物质的多次原始瞬态信号；（S2）对所述原始瞬态信号预处理，降低噪声，获得时域信号f(t)；（S3）将时域信号f(t)转换为幅度谱M(ω)和相位φ(ω)：获得角频率ω和相位φ，相位φ与初始相位φ
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N27/00 | 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料 |
| --------G01N27/02 | .通过测试阻抗 |
| ----------G01N27/64 | ..利用波或粒子辐射电离气体，例如在电离室内 |