基本信息:
- 专利标题： 用于测量非热远红外辐射的方法和系统
- 申请号：CN202411300423.5 申请日：2024-09-18
- 公开(公告)号：CN119666161A 公开(公告)日：2025-03-21
- 发明人： 魏庆堂
- 申请人： 魏庆堂
- 申请人地址： 美国
- 专利权人： 魏庆堂
- 当前专利权人： 魏庆堂
- 当前专利权人地址： 美国
- 代理机构： 北京市铸成律师事务所
- 代理人： 张帆; 李文颖
- 优先权： 18/370,289 2023.09.19 US
- 主分类号： G01J5/52
- IPC分类号： G01J5/52 ; G01J5/48
摘要：
本发明总体上涉及用于检测和测量来自远红外辐射(FIR)光子发射物体的表面的在3‑16μm波长谱内的非热FIR的辐射功率和发射率的装置、系统和方法，更具体地，该非热FIR在8‑14μm波长范围内。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01J | 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法 |
| ------G01J5/00 | 辐射高温测定法 |
| --------G01J5/50 | .用下列各组指明的技术 |
| ----------G01J5/52 | ..应用与参考源作比较的方法，例如，隐丝高温计 |