基本信息:
- 专利标题： 一种入射ICF靶丸X射线辐射流的原位测量方法及装置
- 申请号：CN202510292009.2 申请日：2025-03-12
- 公开(公告)号：CN119781000B 公开(公告)日：2025-05-23
- 发明人： 任宽 , 任国利 , 刘杰 , 董建军 , 孙奥 , 刘云婷 , 赵航 , 刘耀远 , 郑建华 , 杨正华 , 杜华冰 , 刘伟 , 邓克立 , 吴玉迟 , 王峰 , 杨冬 , 李志超
- 申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 申请人地址： 四川省绵阳市绵山路64号
- 专利权人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人地址： 四川省绵阳市绵山路64号
- 代理机构： 广州粤高专利商标代理有限公司
- 代理人： 高棋
- 主分类号： G01T1/29
- IPC分类号： G01T1/29
摘要：
本发明公开一种入射ICF靶丸X射线辐射流的原位测量方法及装置，所述方法包括以下步骤：向预设ICF黑腔内发射激光束，所述激光束照射在所述预设ICF黑腔的内壁上形成光斑区，并确定所述预设ICF黑腔的内壁上除光斑区外的区域为非光斑区；分别测量所述光斑区和所述非光斑区的X射线辐射流；根据所述预设ICF黑腔和所述ICF靶丸构建黑腔‑靶丸模型，并根据所述黑腔‑靶丸模型、所述光斑辐射流和所述非光斑辐射流，得到入射至所述ICF靶丸的4空间X射线辐射流分布。本发明能够实现对入射ICF靶丸的4空间X射线辐射流分布的原位测量，提高了对X射线辐射流的实验测量能力。
公开/授权文献:
- CN119781000A 一种入射ICF靶丸X射线辐射流的原位测量方法及装置 公开/授权日：2025-04-08
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01T | 核辐射或X射线辐射的测量 |
| ------G01T1/00 | X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量 |
| --------G01T1/29 | .对辐射束流的测量，例如，测量射束位置或截面；辐射的空间分布的测量 |