基本信息:
- 专利标题： 一种薄膜红外变温反射率测试用的变温附件及测试方法
- 申请号：CN202510085829.4 申请日：2025-01-20
- 公开(公告)号：CN119881002A 公开(公告)日：2025-04-25
- 发明人： 张祯 , 曹薛丰 , 刘佳 , 谭福春
- 申请人： 西安交通大学
- 申请人地址： 陕西省西安市咸宁西路28号
- 专利权人： 西安交通大学
- 当前专利权人： 西安交通大学
- 当前专利权人地址： 陕西省西安市咸宁西路28号
- 代理机构： 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 庄华红
- 主分类号： G01N25/20
- IPC分类号： G01N25/20 ; G01N21/3563 ; G01N21/55 ; G01N21/01
摘要：
本发明属于反射率光谱测量技术领域，公开了一种薄膜红外变温反射率测试用的变温附件及测试方法，所述变温附件为包括依次叠层设置的绝缘层、加热层、隔热层和金属夹具；其中，绝缘层内连接有电源线；所述隔热层和所述金属夹具均可拆卸安装于所述绝缘层上，以便于将待测薄膜样品安装于所述加热层与所述隔热层之间；所述隔热层和所述金属夹具的中部均开设有圆孔，以通过所述圆孔使安装的所述待测薄膜样品的部分上表面漏出形成待测薄膜样品的测试区域。本发明的变温附件能够用于Bruker VERTEX70型显微红外光谱仪，且能够结合镜面反射法能够实现对薄膜在25℃～200℃的变温红外反射率的微区测试。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N25/00 | 应用热方法测试或分析材料 |
| --------G01N25/20 | .通过测量热的变化，即量热法，例如通过测量比热，测量热导率 |