基本信息:
- 专利标题： 局部放电光源特性测试分析系统及方法
- 申请号：CN202411956067.2 申请日：2024-12-28
- 公开(公告)号：CN119881551A 公开(公告)日：2025-04-25
- 发明人： 寇晓适 , 辛伟峰 , 宋伟 , 董曼玲 , 黄小川 , 詹振宇 , 张嘉涛 , 张卓 , 张朝峰 , 杨章 , 任明 , 姚伟 , 马云瑞 , 石泽岩 , 郭磊 , 郭培 , 马德英 , 付海金 , 陈泰羽
- 申请人： 国网河南省电力公司电力科学研究院 , 国网河南省电力公司 , 西安交通大学 , 国家电网有限公司
- 申请人地址： 河南省郑州市二七区嵩山南路85号
- 专利权人： 国网河南省电力公司电力科学研究院,国网河南省电力公司,西安交通大学,国家电网有限公司
- 当前专利权人： 国网河南省电力公司电力科学研究院,国网河南省电力公司,西安交通大学,国家电网有限公司
- 当前专利权人地址： 河南省郑州市二七区嵩山南路85号
- 代理机构： 北京知己知识产权代理有限公司
- 代理人： 唐金欣
- 主分类号： G01R31/12
- IPC分类号： G01R31/12 ; G01J3/02 ; G01J3/28
摘要：
本发明公开了一种局部放电光源特性测试分析系统及方法，属于局放测试技术领域，系统包括气密式全反射光学积分球、工频交流电压及测试回路、高压电极、放电缺陷模型、标准光源、光纤、光谱仪、高频电流传感器、电子示波器；高压电极一端插入气密式全反射光学积分球内部，并且端部连接放电缺陷模型，另一端与工频交流电压及测试回路连接；标准光源设置在气密式全反射光学积分球内部；光纤的输入端伸入气密式全反射光学积分球内，输出端与光谱仪连接；高频电流传感器一端与放电缺陷模型连接，另一端与电子示波器连接，高频电流传感器下侧连接接地线。本发明建立了局部放电的标准光学模型，为放电光学检测的装置设计和布局提供有效参考。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/12 | .测试介电强度或击穿电压 |