基本信息:
- 专利标题： 用于测量冷等离子体能量分布的能谱仪
- 申请号：CN202510377439.4 申请日：2025-03-28
- 公开(公告)号：CN119882013A 公开(公告)日：2025-04-25
- 发明人： 李毅人 , 何世湘 , 汪毓明 , 陈满明 , 刘凯 , 郝新军 , 潘宗浩
- 申请人： 中国科学技术大学 , 合肥国家实验室
- 申请人地址： 安徽省合肥市包河区金寨路96号
- 专利权人： 中国科学技术大学,合肥国家实验室
- 当前专利权人： 中国科学技术大学,合肥国家实验室
- 当前专利权人地址： 安徽省合肥市包河区金寨路96号
- 代理机构： 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理人： 樊晓
- 主分类号： G01T1/36
- IPC分类号： G01T1/36 ; G01T7/00
摘要：
本发明提供了一种用于测量冷等离子体能量分布的能谱仪，可以应用于电离层等离子体探测技术领域。该能谱仪包括：第一接地外壳设有入口通道；第二接地外壳中半球形结构外壳的半球面设有第一通道孔径，第一圆环结构外壳设有第二通道孔径；第一偏置电极产生的第一匀强电场通过第二通道孔径在第一圆环结构外壳和第一接地外壳的顶部之间产生第一边缘溢出场；第二偏置电极中半球形结构电极的底部中心位置设有孔隙，半球面设有第三通道孔径，第二偏置电极产生的第二匀强电场通过第一通道孔径在半球形结构外壳和第一接地外壳的顶部之间产生第二边缘溢出场，半球形结构电极内部为无场漂移区；能量分布确定系统用于确定接收到的冷等离子体的能量分布信息。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01T | 核辐射或X射线辐射的测量 |
| ------G01T1/00 | X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量 |
| --------G01T1/36 | .测量X射线或核辐射的能谱分布 |