基本信息:
- 专利标题： 一种失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计方法
- 申请号：CN202510353805.2 申请日：2025-03-25
- 公开(公告)号：CN119885676A 公开(公告)日：2025-04-25
- 发明人： 苏昱太 , 周圳锐 , 李泽新
- 申请人： 西北工业大学 , 西安西测测试技术股份有限公司
- 申请人地址： 陕西省西安市碑林区友谊西路127号
- 专利权人： 西北工业大学,西安西测测试技术股份有限公司
- 当前专利权人： 西北工业大学,西安西测测试技术股份有限公司
- 当前专利权人地址： 陕西省西安市碑林区友谊西路127号
- 代理机构： 西安正华恒远知识产权代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 郭宁
- 主分类号： G06F30/20
- IPC分类号： G06F30/20 ; G06F17/10 ; G06N7/01 ; G06F119/02 ; G06F119/12 ; G06F111/08
摘要：
本发明公开了一种失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计方法，涉及电子设备可靠性预测领域，包括收集各个电子设备失效单元的失效物理模型参数，通过失效机理分析确立失效物理模型；对电子设备失效单元进行可靠性参数计算，获得失效物理预测值；基于电子设备可靠性预计手册进行可靠性分析，获得电子设备失效单元的失效率，并计算各失效单元的平均无故障工作时间；使用贝叶斯公式进行系统层面可靠性分析，获得系统失效率和系统平均故障时间，完成失效物理贝叶斯融合的电子设备可靠性预计。本发明解决了现有技术中对电子设备可靠性进行预测时，难以同时兼顾失效物理机理与实际试验数据、以及缺乏动态修正能力所导致的预测不准确等问题。
IPC结构图谱:
| G06F30/20 | 设计优化、验证或模拟 |