基本信息:
- 专利标题： 基于Zernike正交矩和哈希算法的缺陷检测方法
- 申请号：CN202411973781.2 申请日：2024-12-30
- 公开(公告)号：CN119887708A 公开(公告)日：2025-04-25
- 发明人： 李东洁 , 张宇 , 顾瑞益 , 张富越 , 徐东昊 , 杨柳 , 王雪莹 , 邓立为 , 于智龙
- 申请人： 哈尔滨理工大学
- 申请人地址： 黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号
- 专利权人： 哈尔滨理工大学
- 当前专利权人： 哈尔滨理工大学
- 当前专利权人地址： 黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号
- 代理机构： 哈尔滨市松花江联合专利商标代理有限公司
- 代理人： 杨晓辉
- 主分类号： G06T7/00
- IPC分类号： G06T7/00 ; G06V10/75 ; G06V10/46 ; G06T7/136 ; G06T7/11
摘要：
本发明属于缺陷检测领域，尤其涉及基于Zernike正交矩和哈希算法的缺陷检测方法。本发明目的是解决现有电子元件点胶缺陷检测技术的检测效率低的问题。本发明建立了一种模糊集合实现图像增强的方式，在突出感兴趣区域的同时也能保障信息的完整。针对不同胶体缺陷，考虑采用不同检测方法以及检测区域来进行判断。通过Zernike正交矩的方法，得到点胶槽内外两侧的检测区域，用图像的哈希替代原图进行计算可以有效地减少计算时间。同时在平均哈希算法的基础上建立一种通过逼近减少待匹配区域面积的算法可以有效地减少匹配计算所需要的时间，再结合零均值归一化积相关算法可以极大的提高运算效率，提高了电子元件点胶缺陷检测的效率。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G06 | 计算；推算；计数 |
| ----G06T | 一般的图像数据处理或产生 |
| ------G06T7/00 | 图像分析，例如从位像到非位像 |