
基本信息:
- 专利标题: 跨领域小样本异常检测方法、装置、电子设备及存储介质
- 申请号:CN202510363946.2 申请日:2025-03-26
- 公开(公告)号:CN119887762A 公开(公告)日:2025-04-25
- 发明人: 朱炳科 , 朱贵波 , 古兆鹏 , 陈盈盈 , 王金桥
- 申请人: 中国科学院自动化研究所
- 申请人地址: 北京市海淀区中关村东路95号
- 专利权人: 中国科学院自动化研究所
- 当前专利权人: 中国科学院自动化研究所
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区中关村东路95号
- 代理机构: 北京路浩知识产权代理有限公司
- 代理人: 聂俊伟
- 主分类号: G06T7/00
- IPC分类号: G06T7/00 ; G06V10/764 ; G06V10/26 ; G06V10/82 ; G06N3/08
摘要:
本发明涉及异常检测技术领域,提供一种跨领域小样本异常检测方法、装置、电子设备及存储介质,其中方法包括:提取正常图像对应的图像内容知识的文本特征;基于测试图像的图像子块特征和正常图像的图像子块特征之间的匹配差异,确定测试图像的测试图像重建结果,基于测试图像重建结果对应的重建差异,确定测试图像中的低级语义异常检测结果;基于测试图像的第一子成分特征和正常图像的第二子成分特征,确定测试图像中的中级语义异常检测结果;基于文本特征与测试图像的图像整体特征,确定高级语义异常检测结果,基于低级、中级和高级语义异常检测结果,确定目标异常检测结果。本方法不需要使用大量样本进行训练,从而降低了异常检测训练的成本。
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G06 | 计算;推算;计数 |
----G06T | 一般的图像数据处理或产生 |
------G06T7/00 | 图像分析,例如从位像到非位像 |