基本信息:
- 专利标题： 一种大口径平板玻璃应力双折射面成像测量方法
- 申请号：CN202510421862.X 申请日：2025-04-07
- 公开(公告)号：CN119935368B 公开(公告)日：2025-05-30
- 发明人： 高波 , 李强 , 王凤蕊 , 魏小红 , 刘昂 , 何宇航 , 柴立群 , 李东 , 石振东
- 申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 申请人地址： 四川省绵阳市绵山路64号
- 专利权人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人地址： 四川省绵阳市绵山路64号
- 代理机构： 成都浩跃专利代理事务所(普通合伙)
- 代理人： 赵瑶
- 主分类号： G01L1/24
- IPC分类号： G01L1/24 ; G01N21/23 ; G01N21/01
摘要：
本发明公开了一种大口径平板玻璃应力双折射面成像测量方法，属于光学测量技术领域，其目的在于解决现有技术中存在的玻璃应力双折射测量效率低的技术问题。包括：将待测样品、1/4波片移出测量光路，旋转起偏器找到消光位置并在附近旋转起偏器N个角度，得到角度；保持起偏器与检偏器不变，将1/4波片移入测量光路中，旋转1/4波片，找到消光位置；在消光位置附近旋转起偏器N个角度，得到角度；保持1/4波片和检偏器位置、方向不变，将待测样品移入起偏器与1/4波片之间的测量光路中；通过起偏旋转机构旋转起偏器，当起偏器与参考坐标系x轴的夹角分别为0°、60°、120°时，通过CCD相机得到三幅图像的光强，并根据三个光强得到待测样品的应力双折射。
公开/授权文献:
- CN119935368A 一种大口径平板玻璃应力双折射面成像测量方法 公开/授权日：2025-05-06
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01L | 测量力、应力、转矩、功、机械功率、机械效率或流体压力 |
| ------G01L1/00 | 力或应力的一般计量 |
| --------G01L1/24 | .通过测量材料受应力时其光学性质的变化，例如，应用光弹性应力分析 |