基本信息:
- 专利标题： 变锥面弯晶多维度调整机构、方法及变锥面弯晶光路调校系统
- 申请号：CN202510518538.X 申请日：2025-04-24
- 公开(公告)号：CN120028024A 公开(公告)日：2025-05-23
- 发明人： 韦敏习 , 孙奥 , 杨国洪 , 陈韬 , 车兴森 , 邓克立 , 王峰
- 申请人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 申请人地址： 四川省绵阳市绵山路64号
- 专利权人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人： 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人地址： 四川省绵阳市绵山路64号
- 代理机构： 成都睿道智诚专利代理有限公司
- 代理人： 刘粤
- 主分类号： G01M11/02
- IPC分类号： G01M11/02
摘要：
本发明涉及激光成像技术领域，具体涉及变锥面弯晶多维度调整机构、方法及变锥面弯晶光路调校系统，变锥面弯晶多维度调整机构包括壳体、主体、晶体盒以及多维度调节组件；所述主体嵌设于壳体内，并与壳体之间活动连接；所述晶体盒通过连接组件安装于主体的顶部；所述晶体盒包括一体成型的第一腔体、第一延伸部及第二延伸部；所述多维度调节组件包括：第一调节组件，设于壳体上，用于调节主体的水平位移；第二调节组件，设于主体上，用于调节晶体盒的高度；第三调节组件，设于主体上，用于调节晶体盒的旋转角；第四调节组件，设于主体上，用于调节晶体盒的俯仰角。其目的在于，实现变锥面弯晶的多维度高精度调节。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01M | 机器或结构部件的静或动平衡的测试；未列入其他类目的结构部件或设备的测试 |
| ------G01M11/00 | 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 |
| --------G01M11/02 | .光学性质的测试 |