基本信息:
- 专利标题： 一种时钟同步调频连续太赫兹扫频源非线性误差消除系统
- 申请号：CN202510273460.X 申请日：2025-03-10
- 公开(公告)号：CN120102503A 公开(公告)日：2025-06-06
- 发明人： 殷营政 , 林奈 , 张郭勇 , 文磊 , 袁立 , 苑博 , 吴磊
- 申请人： 中国电子科技集团公司第十研究所
- 申请人地址： 四川省成都市金牛区茶店子东街48号
- 专利权人： 中国电子科技集团公司第十研究所
- 当前专利权人： 中国电子科技集团公司第十研究所
- 当前专利权人地址： 四川省成都市金牛区茶店子东街48号
- 代理机构： 成都九鼎天元知识产权代理有限公司
- 代理人： 张洋
- 主分类号： G01N21/3581
- IPC分类号： G01N21/3581 ; G01N21/01
摘要：
本发明公开了一种时钟同步调频连续太赫兹扫频源非线性误差消除系统，包含两种时钟同步收发异源调频连续太赫兹系统误差消除架构设计，分别使用双源混频以及单源差频实现参考信号发生，两种架构都选择10MHz作为参考信号和中频信号的频率，采用同一个100MHz恒温晶振作为调频连续波频率源的参考时钟，并为参考和中频信号提供本振；并将中频信号与参考信号进行混频，得到的差频信号具有时钟同步误差、调制非线性误差等被消除的特点，再经过IQ解调后，可用于太赫兹原位无损检测与成像。本发明为频谱型太赫兹原位无损检测与成像技术所需的低频率非周期中频时域信号提供了实现方法。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/21 | ..影响偏振的性质 |
| ------------G01N21/31 | ...测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术 |
| --------------G01N21/35 | ....利用红外光 |
| ----------------G01N21/3581 | .....利用远红外光；利用太赫兹辐射 |