基本信息:
- 专利标题： 轮圈粗胚检测装置
- 申请号：CN202410474160.3 申请日：2024-04-19
- 公开(公告)号：CN120176529A 公开(公告)日：2025-06-20
- 发明人： 张晋嘉 , 蔡佳铭 , 刘义桐 , 吴建勋
- 申请人： 财团法人工业技术研究院
- 申请人地址： 中国台湾新竹县
- 专利权人： 财团法人工业技术研究院
- 当前专利权人： 财团法人工业技术研究院
- 当前专利权人地址： 中国台湾新竹县
- 代理机构： 北京市柳沈律师事务所
- 代理人： 王锐
- 优先权： 112149824 2023.12.20 TW
- 主分类号： G01B11/00
- IPC分类号： G01B11/00 ; G01B11/22
摘要：
本发明公开一种轮圈粗胚检测装置，用以检测轮圈粗胚，并包含深度传感器及电连接至深度传感器的运算控制模块。运算控制模块执行路径取得工序、深度测量工序及承载点定位工序。路径取得工序是控制深度传感器扫描轮圈粗胚并计算拟合出其轮缘的中心且据此计算至少一侦测路径。深度测量工序是控制深度传感器根据至少一侦测路径扫描轮缘以撷取其多个深度值。承载点定位工序是根据深度值运算取得多个承载点及承载点相对于轮圈粗胚的一基准点的多个相对位置信息。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |