基本信息:
- 专利标题： 一种基于大锥度锥形光纤的位移传感系统及测量方法
- 申请号：CN202510301686.6 申请日：2025-03-14
- 公开(公告)号：CN120351849A 公开(公告)日：2025-07-22
- 发明人： 董永超 , 贺聪豪 , 庞家友 , 徐高平 , 王晗
- 申请人： 广东工业大学
- 申请人地址： 广东省广州市越秀区东风东路729号
- 专利权人： 广东工业大学
- 当前专利权人： 广东工业大学
- 当前专利权人地址： 广东省广州市越秀区东风东路729号
- 代理机构： 广州粤高专利商标代理有限公司
- 代理人： 梁佳颖
- 主分类号： G01B11/02
- IPC分类号： G01B11/02 ; G01D5/26
摘要：
本发明涉及光学传感技术领域，更具体地，涉及一种基于大锥度锥形光纤的位移传感系统及测量方法，其中基于大锥度锥形光纤的位移传感系统包括可调谐激光器，光电探测器，以及位于可调谐激光器和光电探测器之间且用于传输光波的大锥度锥形光纤；还包括偏振控制器；还包括一端的腔体靠近大锥度锥形光纤的光学微腔，以及连接光学微腔另一端的位移装置，光学微腔与大锥度锥形光纤始终处于临界耦合状态；还包括分别连接可调谐激光器和光电探测器的计算机。本发明克服现有小锥度锥形光纤其稳定性和抗干扰能力不佳且传感系统的测量灵敏度不高的问题，本发明结合光学微腔与大锥度锥形光纤，可以实现高精度的位移测量，适用对灵敏度要求较高的测量场合。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01B | 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 |
| ------G01B11/00 | 以采用光学方法为特征的计量设备 |
| --------G01B11/02 | .用于计量长度、宽度或厚度 |