基本信息:
- 专利标题： 电源校准方法、装置、设备、介质和程序产品
- 申请号：CN202510583315.1 申请日：2025-05-07
- 公开(公告)号：CN120405492A 公开(公告)日：2025-08-01
- 发明人： 黄清萍 , 张金宇 , 章勤 , 何权 , 刘利文 , 吕冠达
- 申请人： 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址： 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 专利权人： 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人： 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 代理机构： 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理人： 赵婷
- 主分类号： G01R31/40
- IPC分类号： G01R31/40
摘要：
本公开提供了一种电源校准方法、装置、设备、介质和程序产品。该方法包括：响应于接收到自动校准指令，触发电源的控制系统基于电源参数的当前值调控电源的运行，然后循环执行校准流程直到满足校准成功条件。该校准流程包括：响应于电源的运行状态达到稳定运行条件，采集外部测量设备对电源的目标输出信号的测量结果以得到实际测量值；判断实际测量值和电源控制系统自己测量出的反馈值之间的第一偏差是否满足校准成功条件；若不满足，基于实际测量值和反馈值更新电源参数中的目标校正系数的值；响应于电源参数的更新，重新触发电源的控制系统基于电源参数的当前值调控电源的运行。其中，校准成功条件包括第一偏差小于或等于第一偏差阈值。
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/40 | .测试电源 |