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1. 发明公开

CN107407709A 电接触装置有权
公开(公告)号：CN107407709A
公开(公告)日：2017-11-28
申请号：CN201680013515.2
申请日：2016-02-15
申请人：精炼金属股份有限公司
发明人：赖纳·施密德
IPC分类号： G01R31/28
摘要：本发明涉及一种用于电触碰接触的接触装置(1)，电触碰接触用于对电测试件、特别是晶片进行电测试，接触装置具有接触头(2)和至少一个电路板(10)，接触头(2)具有多个导向孔(3)，在导向孔中可纵向移动地安装有长形的、通过触碰接触测试件而侧向弹动式屈曲的接触元件(4)，接触元件的一个端部(6)用于触碰接触测试件，接触元件的另一端部(7)与按照预定图案(13)布置的第一接触面(8)处于触碰接触，第一接触面在电路板(10)的一侧面(9)上位于侧面的第一、特别是中央的区域(16)中，特别是按照另一预定图案(14)布置的第二接触面(12)在电路板(10)的另一侧面(11)上处于该另一侧面的第二、特别是中央的区域(17)中，第二接触面穿过电路板(10)与第一接触面(8)电连接，在电路板(10)的所述另一侧面(11)上，在该另一侧面的至少一个第一、特别是边缘的区段(19)中设置有第三接触面(18)，第二接触面(12)中的至少一些借助于被接合的接合线材(20)与第三接触面(18)中的至少一些电连接，第一接触面(8)中的至少一部分和/或第二接触面(12)中的至少一部分分别借助于可切断的导体(39)彼此电连接，并且这些导体(39)中的至少一个被切断。

2. 发明授权

CN101252044B 用于与电气试样触点接通的接触装置以及相应的方法失效
公开(公告)号：CN101252044B
公开(公告)日：2011-02-16
申请号：CN200710159823.9
申请日：2007-12-19
申请人：精炼金属股份有限公司
发明人：阿希姆·韦兰德 , 巩特尔·伯姆
IPC分类号： H01H1/58 , H01R13/629
CPC分类号： G01R31/2863 , G01R31/2874 , G01R31/2889
摘要：本发明涉及一种用于与电气试样、特别是硅圆片触点接通的接触装置(1)，它包括触头(2)(Kontakt-Head)和连接装置(3)(Connector)，其中，触头(2)具有可与试样触点接通的检测触体(6)，它们在检测面(12)所分布的位置由至少一个属于触头(2)的导向元件(9)(测试仪一侧的导板)决定，它固定在触头的夹持装置(11)(Spacer)上，并且，触头(6)在其远离试样的一侧与连接装置(Connector、印制电路板)的接触面(13)实现电气触点接通。发明规定，导向元件(9)由若干分段(17)组成，它们分别具有一部分检测面(12)，并分别通过至少一个固定支承(22)与夹持装置(11)和/或连接装置(3)相连。本发明还涉及一种相应的方法。

3. 发明授权

CN100451660C 电气检测设备失效
公开(公告)号：CN100451660C
公开(公告)日：2009-01-14
申请号：CN200510071474.6
申请日：2005-05-13
申请人：精炼金属股份有限公司
发明人：贡特尔·伯姆
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/06 , G01R31/26
CPC分类号： G01R1/07307 , G01R1/07357 , G01R1/44
摘要：本发明提供一种特别用于晶片检测的电气检测设备。这种检测设备带有一个与被测件相对的触头，触头上带有形成触针布置的销状接触元件；这种设备还带有一个电气连接装置，它的接触面与接触元件上背朝被测件的一端相接触。本发明的特征在于，一个借助滑动导向件从而允许在径向上出现温度膨胀变化的定中心装置使触头和连接装置的中心相互对准。

4. 发明公开

CN101241159A 用于检测电试样的电检测装置无效
公开(公告)号：CN101241159A
公开(公告)日：2008-08-13
申请号：CN200810074395.4
申请日：2008-02-13
申请人：精炼金属股份有限公司
发明人：巩特尔·伯姆 , 彼得·施托尔普 , 格奥尔格·施泰德勒
IPC分类号： G01R31/00 , G01R31/28 , G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2889 , G01R1/07357
摘要：本发明公开了一种用于检测电试样(2)的电检测装置(1)，其包括一个接触器(5)以及具有至少一个电/电子部件(16)的连接装置(7)，该接触器(5)能和电试样(2)相接触，该连接装置(7)包括一个和该接触器(5)进行触点接触的第一接触面(13)，并且该连接装置(7)还包括有一个导体底座(9)以及一个连接元件(9)，其中，该电/电子部件(16)设置在该连接元件(8)的里面或旁边。本发明的电检测装置可以实现在极端的检测条件下检测，特别是高频率下对电试样进行可靠地检测。

5. 发明公开

CN101017183A 电接触装置及电接触方法无效
公开(公告)号：CN101017183A
公开(公告)日：2007-08-15
申请号：CN200710005132.3
申请日：2007-02-07
申请人：精炼金属股份有限公司
发明人：赖纳·施密德
IPC分类号： G01R1/02 , G01R1/06 , G01R31/28 , G01R31/26 , H01R11/18 , H01L21/66
CPC分类号： G01R1/07357 , H01L2924/00013 , H01R2201/12 , H01R2201/20 , H01L2224/29099
摘要：本发明涉及一种用于检测电气试样(2)的电接触装置(1)，包括至少一个根据弯曲导线原理工作的接触元件(15)，它穿过至少一个导孔(10、11、12)且可沿轴向移动并可旋转。按照本发明，接触元件(15)具有以在侧向上、沿至少一个第一方向(19)的偏离(18)为形式的偏置(0)，并且，导孔(10、11、12)具有至少一个指向侧向上的第二方向(20)的、接触元件(15)的导向段(13)，其中，第一方向(19)与第二方向(20)之间形成一个非零的角(α)。此外，本发明还涉及一种相应的方法。

6. 发明公开

CN1696708A 电气检测设备失效
公开(公告)号：CN1696708A
公开(公告)日：2005-11-16
申请号：CN200510071474.6
申请日：2005-05-13
申请人：精炼金属股份有限公司
发明人：贡特尔·伯姆
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/06 , G01R31/26
CPC分类号： G01R1/07307 , G01R1/07357 , G01R1/44
摘要：本发明提供一种特别用于晶片检测的电气检测设备。这种检测设备带有一个与被测件相对的触头，触头上带有形成触针布置的销状接触元件；这种设备还带有一个电气连接装置，它的接触面与接触元件上背朝被测件的一端相接触。本发明的特征在于，一个借助滑动导向件从而允许在径向上出现温度膨胀变化的定中心装置使触头和连接装置的中心相互对准。

7. 发明授权

CN107407709B 电接触装置有权
公开(公告)号：CN107407709B
公开(公告)日：2019-12-10
申请号：CN201680013515.2
申请日：2016-02-15
申请人：精炼金属股份有限公司
发明人：赖纳·施密德
IPC分类号： G01R31/28
摘要：本发明涉及一种用于电触碰接触的接触装置(1)，电触碰接触用于对电测试件、特别是晶片进行电测试，接触装置具有接触头(2)和至少一个电路板(10)，接触头(2)具有多个导向孔(3)，在导向孔中可纵向移动地安装有长形的、通过触碰接触测试件而侧向弹动式屈曲的接触元件(4)，接触元件的一个端部(6)用于触碰接触测试件，接触元件的另一端部(7)与按照预定图案(13)布置的第一接触面(8)处于触碰接触，第一接触面在电路板(10)的一侧面(9)上位于侧面的第一、特别是中央的区域(16)中，特别是按照另一预定图案(14)布置的第二接触面(12)在电路板(10)的另一侧面(11)上处于该另一侧面的第二、特别是中央的区域(17)中，第二接触面穿过电路板(10)与第一接触面(8)电连接，在电路板(10)的所述另一侧面(11)上，在该另一侧面的至少一个第一、特别是边缘的区段(19)中设置有第三接触面(18)，第二接触面(12)中的至少一些借助于被接合的接合线材(20)与第三接触面(18)中的至少一些电连接，第一接触面(8)中的至少一部分和/或第二接触面(12)中的至少一部分分别借助于可切断的导体(39)彼此电连接，并且这些导体(39)中的至少一个被切断。

8. 发明授权

CN103562733B 弹簧接触插针装置失效
公开(公告)号：CN103562733B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201280025891.5
申请日：2012-05-11
申请人：精炼金属股份有限公司
发明人：约尔格·布尔戈尔德
IPC分类号： G01R1/067
摘要：本发明涉及一种弹簧接触插针装置，其具有弹簧接触插针，该弹簧接触插针具有插针壳体，接触元件可纵向移动地支承在该插针壳体中并由相对于移动方向起作用的弹簧装置加载力，其中，接触元件与弹簧接触插针装置的至少一个第一接口相连接，并且通过接触区域从插针壳体向外突出，以与电测试对象进行电接触。该弹簧接触插针装置具有位置传感器，其中，接触元件为了传递其行程而与用于检测其行程位置的位置传感器的可移动传感元件相连接。

9. 发明公开

CN101634682A 一种用于检测电试样的电检测装置及电检测方法失效
公开(公告)号：CN101634682A
公开(公告)日：2010-01-27
申请号：CN200910151186.X
申请日：2009-07-23
申请人：精炼金属股份有限公司
发明人：贡特尔·伯姆 , 贝里斯拉夫·科皮拉斯 , 西尔维娅·埃尔勒 , 米夏埃尔·霍洛谢尔
IPC分类号： G01R31/00 , G01R1/02 , G01R31/28 , G01R31/26
CPC分类号： G01R1/07378 , G01R1/07357 , G01R31/2886
摘要：本发明涉及一种用于检测电试样的电检测装置，包括一个线路基板，该线路基板通过一个触点间距转换器与一个检测头电连接，其中，所述线路基板与一个第一加强装置机械连接并因此得到加强。至少一个穿过所述线路基板(12)的间隔装置(30)机械连接至所述触点间距转换器(7)，并通过倾斜调节装置(34)固定在所述第一加强装置(26)上。

10. 发明公开

CN101577378A 用于接触电气试样的电气接触元件和接触装置有权
公开(公告)号：CN101577378A
公开(公告)日：2009-11-11
申请号：CN200910138234.1
申请日：2009-05-07
申请人：精炼金属股份有限公司
发明人：阿希姆·韦兰德 , 巩特尔·伯姆
IPC分类号： H01R11/18 , G01R1/067
CPC分类号： G01R1/06733 , G01R1/0675 , G01R1/07357 , H01R13/2407 , H01R13/2435 , H01R2201/20
摘要：本发明涉及一种用于物理接触电气试样的细长电气接触元件(1)，包括用于电气接触的两末端区域(2，3)和位于末端区域(2，3)之间的细长中间区域(4)。提供了中间区域(4)具有基本矩形的横截面并沿其纵向范围构建成薄层状。本发明涉及相应的接触装置(22)。

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