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21. 发明授权

CN104730079B 缺陷检测系统有权转让
公开(公告)号：CN104730079B
公开(公告)日：2018-09-07
申请号：CN201510104437.4
申请日：2015-03-10
申请人：盐城市圣泰阀门有限公司
发明人：严涛 , 胡洁 , 赵成志 , 丁超 , 姜晨 , 李天箭 , 周媛 , 李伟 , 童海东
IPC分类号： G01N21/88 , G01N23/041
摘要：本发明提供了一种缺陷检测系统，包括X光机成像装置、可见光成像装置、图像采集装置、图像处理和分析平台以及数据库系统；所述X光机成像装置用于待检测产品的内部检测并生成X光检测图像；所述可见光成像装置用于待检测产品的外部检测并生成可见光检测图像；所述图像采集装置用于采集所述X光检测图像和所述可见光检测图像并发送至所述图像处理和分析平台；所述图像处理和分析平台用于分析处理所述X光检测图像和所述可见光检测图像并生成检测分析结果；所述数据库系统用于存储所述检测分析结果。本发明设置有X光机成像装置、可见光成像装置，能够对待检测产品的内部和外部同时检测。

22. 发明授权

CN117575901B 基于多层膜劳厄透镜的X射线相衬显微拼接方法及系统有权
公开(公告)号：CN117575901B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410043209.X
申请日：2024-01-11
申请人：浙江大学杭州国际科创中心
发明人：包宜骏 , 杨浩彬 , 匡翠方 , 陶思玮 , 田宗翰 , 刘旭
IPC分类号： G06T3/4038 , G06T7/73 , G01N23/041 , G01N23/04 , G01N23/083
摘要：本发明公开一种基于多层膜劳厄透镜的X射线相衬显微拼接方法及系统，系统包括：X射线处理模块限制入射X射线的发射角并进行预聚焦，得到预聚焦X射线；光源聚焦模块对预聚焦X射线实现二维聚焦，得到X射线聚焦光源；探测器模块包括吸收光栅、闪烁体及成像单元，闪烁体位于吸收光栅后方，X射线聚焦光源经吸收光栅叠加，闪烁体转换为可见光波段，在成像单元中形成样品图像及背景图像；图像获取单元获得多幅多模态显微图像，图像拼接单元对不同区域的样品图像及背景图像形成的任意两幅多模态显微图像进行拼接处理，得到拼接显微图像。通过本方法解决了菲涅尔波带片系统成像分辨率低的问题，可以得到高分辨率大视场的显微图像。

23. 发明授权

CN110108735B 一种带有光栅结构的相干散射型X射线探测器及探测方法有权
公开(公告)号：CN110108735B
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN201810079832.5
申请日：2018-01-27
申请人：天津大学
发明人：史再峰 , 李金卓 , 曹清洁 , 高静 , 罗韬
IPC分类号： G01N23/046 , G01N23/041 , G01N23/20008 , G01N23/201 , H01L27/146
摘要：本发明公开了一种带有光栅结构的相干散射型X射线探测器及探测方法，包括探测器像素阵列，以及用于以固定角度收集X射线相干散射光子的吸收光栅和互补光栅；所述吸收光栅设置在所述探测器像素阵列的上表面，所述吸收光栅为由方形实心单元和方形中空单元上下左右交错排列组成的网格状结构，所述吸收光栅内、位于每一个方形中空单元处设置有闪烁晶体；所述互补光栅设置在吸收光栅和所要探测的物体之间，并间隔所述吸收光栅一距离布置，所述互补光栅为由条形实心单元和条形中空单元上下交错排列组成的矩阵状结构。本发明通过一次曝光可获得多种能量组分的X射线散射信息，为CT的成像提供了更多的参数信息，使重建获得的图像更加完整与精确。

24. 发明公开

CN116165228A 结构信息取得方法和结构信息取得装置审中-公开
公开(公告)号：CN116165228A
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202211449588.X
申请日：2022-11-18
申请人：株式会社理学 , 丰田自动车株式会社
发明人：影山将史 , 冈岛健一 , 栗林胜 , 三浦雄三 , 永松优一
IPC分类号： G01N23/041 , G01N23/20
摘要：提供一种即使是大型的被摄体，也能够以非破坏的方式比较简便地取得各向异性原材料的取向信息的技术。一种结构信息取得方法和结构信息取得装置，从相位对比度X射线光学系统(2)的射线源(22)以沿着弯曲的各向异性原材料(12)的切线方向的方式朝向被摄体(1)照射X射线。接着，使用透射过被摄体(1)的X射线的检测信号得到散射像。基于该散射像，取得各向异性原材料(12)的结构信息。

25. 发明授权

CN109788928B 放射线相位差摄影装置有权
公开(公告)号：CN109788928B
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN201780059883.5
申请日：2017-07-28
申请人：株式会社岛津制作所 , 国立大学法人大阪大学
发明人：佐野哲 , 田边晃一 , 吉牟田利典 , 木村健士 , 岸原弘之 , 和田幸久 , 和泉拓朗 , 白井太郎 , 土岐贵弘 , 堀场日明 , 志村考功 , 渡部平司 , 细井卓治
IPC分类号： A61B6/00 , G01N23/041
摘要：提供一种能够支持多种拍摄目的的X射线相位差摄影装置。本发明的装置能够变更多缝(3b)的狭缝的排列间距以及相位光栅(5)的相位移位部(5a)的排列间距。多缝(3b)、相位光栅(5)、FPD(4)的位置关系由多缝(3b)的狭缝的排列间距、相位光栅(5)的相位移位部(5a)的排列间距、以及FPD(4)的检测元件的排列间距来决定。根据本发明，通过变更其中的狭缝的排列间距和相位移位部(5a)的排列间距，能够变更多缝(3b)、相位光栅(5)、FPD(4)的位置关系。

26. 发明授权

CN110133012B 基于三探测器光栅干涉仪的单次曝光多模式X射线成像方法有权
公开(公告)号：CN110133012B
公开(公告)日：2022-01-18
申请号：CN201910591538.7
申请日：2019-07-02
申请人：合肥工业大学
发明人：王志立 , 任坤
IPC分类号： G01N23/041
摘要：本发明公开了一种基于三探测器光栅干涉仪的单次曝光多模式X射线成像方法，是在沿Z轴向上依次设置有X射线源、相位光栅、第一探测器、第二探测器和第三探测器构成的三探测器光栅干涉仪；且在沿Y轴向上中心对齐；其中，第一探测器的工作点固定在光强曲线的峰位；第二探测器的工作点固定在光强曲线的腰位；第三探测器的工作点固定在光强曲线的谷位；从而利用第一探测器、第二探测器和第三探测器所获取的图像提取被成像物的吸收、折射和暗场信号。本发明能解决低光子计数时被成像物的折射信号和暗场信号的准确提取问题，从而为发展快速、准确、低辐射剂量的多模式X射线成像技术提供新途径。

27. 发明公开

CN113795751A 在基于光栅的相衬成像和暗场成像中的主动光栅位置跟踪有权
公开(公告)号：CN113795751A
公开(公告)日：2021-12-14
申请号：CN202080032307.3
申请日：2020-11-06
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： S·P·普雷弗尔哈尔 , T·克勒 , A·亚罗申科
IPC分类号： G01N23/041 , A61B6/00
摘要：本发明涉及用于在X射线差分相衬成像和暗场成像中的主动光栅位置跟踪的系统和方法。通过利用光束来照射位于光栅上的反射区并探测通过反射区反射的光束的反射图案来测量被定位在X射线成像设备中的至少一个光栅的对齐。将反射图案与对应于针对X射线差分相衬成像而优化的对齐的参考图案进行比较，并且在对反射图案与参考图案的比较时控制X射线成像设备。

28. 发明公开

CN113607761A 一种基于光栅干涉仪的X射线多模式成像新方法有权
公开(公告)号：CN113607761A
公开(公告)日：2021-11-05
申请号：CN202110912294.5
申请日：2021-08-10
申请人：合肥工业大学
发明人：王志立 , 陈恒
IPC分类号： G01N23/041 , A61B6/00
摘要：本发明公开了一种基于光栅干涉仪的X射线多模式成像新方法，是应用于沿Z轴向上依次设置有X射线源、相位光栅、吸收分析光栅、探测器所构成的X射线光栅干涉仪中，且在沿Y轴向上中心对齐；X射线源发射的X射线入射到相位光栅被空间调制，出射X射线穿透被成像物体、吸收分析光栅后入射到探测器。空间调制X射线的强度分布被探测器测量并记录；利用提出的信号计算公式处理探测器记录的光强分布数据，能够获取被成像物体的吸收信号、折射信号和暗场信号。本发明能够解决吸收分析光栅的步进位置不满足等间距要求时，被成像物体的吸收信号、折射信号、暗场信号的定量、准确提取问题。

29. 发明公开

CN113543713A 用于X射线暗场、相衬和衰减断层合成图像采集的系统审中-实审
公开(公告)号：CN113543713A
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN202080019259.4
申请日：2020-02-27
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： T·克勒 , A·亚罗申科 , B·J·布伦德尔
IPC分类号： A61B6/00 , G01N23/041 , A61B6/02
摘要：本发明涉及一种用于X射线暗场、相衬和衰减断层合成图像采集的系统(10)。所述系统包括X射线源(20)、干涉仪装置(30)、X射线探测器(40)、控制单元(50)以及输出单元。第一轴线被限定为从所述X射线源的中心延伸到所述X射线探测器的中心。检查区域被定位在所述X射线源与所述X射线之间。所述第一轴线延伸穿过所述检查区域，并且所述检查区域被配置为实现要被检查的对象的位置。所述干涉仪装置被定位在所述X射线源与所述X射线探测器之间。所述干涉仪装置包括第一光栅(32)和第二光栅(34)。第二轴线被限定为垂直于关于所述第一光栅的中心和/或所述第二光栅的中心限定的平面。所述控制单元被配置为控制所述X射线源的移动和/或所述X射线探测器的移动以提供多个图像采集状态，其中，所述X射线源和所述X射线探测器被配置为能操作用于采集图像数据。针对所述多个图像采集状态中的每个图像采集状态，所述第一轴线以不同的角度延伸穿过所述检查区域。所述控制单元被配置为控制所述第一光栅在垂直于所述第二轴线的侧向位置方向上的移动或所述第二光栅在垂直于所述第二轴线的侧向位置方向上的移动。针对所述采集状态中的每个采集状态，所述第一光栅或所述第二光栅在多个侧向位置中的不同的侧向位置处。所述输出单元被配置为输出以下各项中的一项或多项：暗场图像数据、相衬图像数据，以及衰减图像数据。

30. 发明授权

CN108680589B 基于横向错位光栅的三维锥束计算机层析成像方法及装置有权
公开(公告)号：CN108680589B
公开(公告)日：2021-07-16
申请号：CN201810550520.8
申请日：2018-05-31
申请人：北京航空航天大学
发明人：傅健 , 胡棪君
IPC分类号： G01N23/041 , G01N23/046 , G01N23/083
摘要：本发明公开了一种基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法及装置，该方法包括：以横向错位吸收光栅布置Talbot‑Lau三维锥束层析成像结构；以上述结构获取X射线穿过物体后的二维强度图像序列；以傅里叶分析法从采集到的二维强度图像中分离出X射线吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度三种图像序列；利用吸收衬度、差分相位衬度和散射衬度滤波反投影重建算法分别对三种衬度图像序列进行图像重建获得物体三种衬度CT切片图像。本发明无需对吸收光栅进行步进，以传统基于X射线衰减的CT扫描方法即可获得三种衬度CT切片图像，大幅减小了成像时间，降低了成像剂量，提高了系统成像效率和稳定性。

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