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    • 9. 发明专利
    • Color-coded light for automatic shape instrumentation using photogrammetry
    • 使用照相机进行自动形状仪器的彩色编码光
    • JP2005274567A
    • 2005-10-06
    • JP2005055411
    • 2005-03-01
    • Northrop Grumman Corpノースロップ グラマン コーポレイション
    • CHRIST ROBERT J JRPAPAZIAN JOHN M
    • G01B11/24G01B11/25G01C11/02
    • G01C11/02G01B11/2509G01B11/2545
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photogrammetry system for automatically identifying a specific target, in a short time.
      SOLUTION: The photogrammetry system uses both the 1st bandwidth electromagnetic wave of colored light, partitioned into multiple areas and the 2nd bandwidth electromagnetic wave partitioned into multiple areas of the width different from the 1st bandwidth to irradiate a surface of an object, determining shape of the object from detected projection of the 1st bandwidth and irradiation of the 2nd bandwidth. In order to assist identification process, each of the colored areas is assigned a specific color numeric value. For geometries of the 1st and 2nd bandwidths, parallel zonally-partitioned one, concentric zonally-partitioned one, or horizontally and vertically directional ones are used.
      COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
    • 要解决的问题:在短时间内提供用于自动识别特定目标的摄影测量系统。 解决方案:摄影测量系统使用彩色光的第一带宽电磁波,划分为多​​个区域,并将第二带宽电磁波划分为与第一带宽不同的宽度的多个区域以照射物体的表面,确定 从第一带宽的检测投影和第二带宽的照射的物体的形状。 为了协助识别过程,每个彩色区域被分配一个特定的颜色数值。 对于第一和第二带宽的几何形状,使用平行分区划分的一个,同心的区域划分的一个,或水平和垂直方向的。 版权所有(C)2006,JPO&NCIPI
    • 10. 发明专利
    • Detection system and method of the edge invisible
    • JP2004516456A
    • 2004-06-03
    • JP2002519871
    • 2001-08-10
    • ノースロップ グラマン コーポレイション
    • エル シュルト,ロバート
    • G01B15/00G01B15/02
    • G01B15/02
    • 見えないエッジの検出システムが開示される。 本システムは、表面、及び、該表面の下方に位置する見えないエッジを有するワークピースを含む。 放射線源は、ワークピースの表面に沿って移動し、放射線を発生する。 放射線レシーバは、ワークピースの表面に沿って移動し、反射した放射線を受ける。 放射線レシーバに結合するプロセッサは、前記反射した放射線のカウントレートを算出し、前記見えないエッジに対応したカウントレートの変化を算出し、該変化を前記ワークピース上の位置に関連付ける。 見えないエッジの検出方法が開示される。 第1ステップでは、表面、及び、該表面の下方に位置する見えないエッジを有するワークピースを設置する。 第2ステップでは、放射線源を用いて前記ワークピースの表面に放射線を方向付ける。 第3ステップでは、放射線レシーバを用いて、反射した放射線を捕捉する。 第4ステップでは、プロセッサを用いて、前記反射した放射線のカウントレート、及び、前記見えないエッジに対応する前記カウントレートの変化を算出する。 最後のステップでは、前記カウントレートの変化を前記ワークピースの表面上の位置に関連付ける。