专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

JP6982927B2 回路基板および測定装置有权
公开(公告)号：JP6982927B2
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：JP2017241567
申请日：2017-12-18
申请人：日置電機株式会社
发明人：長井秀行 , 佐藤達也
IPC分类号： H05K3/00 , H05K1/02 , G01R27/02

2. 发明专利

JP6974144B2 処理装置および処理方法有权
公开(公告)号：JP6974144B2
公开(公告)日：2021-12-01
申请号：JP2017233877
申请日：2017-12-06
申请人：日置電機株式会社
发明人：河室佑貴 , 半田信久
IPC分类号： G01R27/02

3. 发明专利

JP2021177149A センサ审中-公开
公开(公告)号：JP2021177149A
公开(公告)日：2021-11-11
申请号：JP2020082647
申请日：2020-05-08
申请人：日置電機株式会社
发明人：笠井真 , 藤岡主吏
IPC分类号： G01R15/16
摘要：【課題】検出電極の挿入部からの予期せぬ電線の離脱を抑制することが可能なセンサを提供する。【解決手段】センサ本体20と、センサ本体20に支持されセンサ本体20より延出した先端部分に電線16が挿入される側方開口状の挿入部である電線挿通部104が形成された検出電極24とを有する。検出電極24の外周部を覆う筒状に形成され検出電極24に沿って移動可能に保持された電極保持部22を有する。電極保持部22を検出電極24に対して先端側Sへ付勢し検出電極24の電線挿通部104に挿入される電線16を電極保持部22で電線挿通部104の壁面に押し付けて電線16の信号を検出する検出状態Dを形成する付勢部材60を有する。電極保持部22を検出電極24に対して基端側Kへ移動操作する操作部64を有する。【選択図】図4

4. 发明专利

JP6965122B2 データ処理装置、測定システムおよびデータ処理用プログラム有权
公开(公告)号：JP6965122B2
公开(公告)日：2021-11-10
申请号：JP2017227694
申请日：2017-11-28
申请人：日置電機株式会社
发明人：飯島匡史
IPC分类号： G01R31/12

5. 发明专利

JP2021167834A 波形表示装置および波形表示用プログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2021167834A
公开(公告)日：2021-10-21
申请号：JP2021113273
申请日：2021-07-08
申请人：日置電機株式会社
发明人：下平誉
IPC分类号： G01R13/20
摘要：【課題】信号波形における所望の位置にカーソル表示を容易に表示させる。【解決手段】波形データに基づく信号波形W1を波形表示画面30に表示させ、かつ信号波形W1における任意の一点を指定するためのカーソル表示31を信号波形W1と共に波形表示画面30に表示させる処理部と、波形表示画面30内の任意の位置を指定する位置指定操作が可能なポインティングデバイスとを備え、処理部は、信号波形W1を波形表示画面30内に表示させている状態においてポインティングデバイスによる位置指定操作が行なわれたときに、位置指定操作によって指定された位置Pa1〜Pa3を基準とする予め規定された検索範囲(検索範囲表示32の内側)を特定すると共に、信号波形W1において予め規定された条件を満たす特異点Pb1〜Pb3が検索範囲内に存在するときに、特異点Pb1〜Pb3の位置にカーソル表示31を表示させる。【選択図】図4

6. 发明专利

JP6946068B2 高調波解析装置有权
公开(公告)号：JP6946068B2
公开(公告)日：2021-10-06
申请号：JP2017117333
申请日：2017-06-15
申请人：日置電機株式会社
发明人：上野俊也
IPC分类号： G01R31/34 , G01R23/16 , G01R23/10 , G01R23/20

7. 发明专利

JP2021139690A 計測装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021139690A
公开(公告)日：2021-09-16
申请号：JP2020036342
申请日：2020-03-04
申请人：日置電機株式会社
发明人：柳澤明 , 小林拓史
IPC分类号： G01D21/00
摘要：【課題】ICタグから計測条件を自動的に取得してこの計測条件で計測処理を実行し、この計測処理後、待避した初期計測条件を自動的に復元する。【解決手段】リーダライタ部3を備え、処理部6は、リーダライタ部3を介してICタグ9との通信が成功してICタグ9から特定計測条件MCnsを受信したときに計測条件領域の計測条件MCm,MCnを初期計測条件MCmi,MCniとして待避領域に待避させる待避処理、および特定計測条件MCnsを新たな計測条件MCnとして計測条件領域に記憶させる計測条件変更処理を実行し、ICタグ9との通信が成功している期間にのみ特定計測条件MCnsに従って動作し、ICタグ9との通信が基準長さの期間に亘って不成功のときに、待避領域の初期計測条件MCmi,MCniを特定計測条件MCnsに代えて計測条件MCm,MCnとして計測条件領域に記憶させる復元処理を実行する。【選択図】図2

8. 发明专利

JP2021124436A 電流供給回路および抵抗測定装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021124436A
公开(公告)日：2021-08-30
申请号：JP2020019293
申请日：2020-02-07
申请人：日置電機株式会社
发明人：塩入章弘 , 若松英彰
IPC分类号： G01R27/08 , G01R27/02
摘要：【課題】電圧制限部において高電圧仕様の半導体部品の使用を回避する。【解決手段】入力抵抗3を介して入力部4aに入力される回路グランドGを基準とする入力電圧Viを増幅し出力部4cと回路グランドGとの間に接続された負荷DUTに対して回路グランドGを基準とする印加電圧Vapとして印加する増幅部4を有して、負荷DUTに出力電流Ioを供給するように構成され、負荷DUTにおける出力部4c側の第1端子TM1と回路グランドGとの間に接続されて、印加電圧Vapを予め規定された分圧比で分圧して第1分圧電圧V1a(V1b)を出力する第1抵抗分圧部6a(6b)と、第1分圧電圧V1a(V1b)を入力して設定電圧V2a(V2b)と比較すると共に、第1分圧電圧V1a(V1b)の絶対値が設定電圧の絶対値V2a(V2b)を上回ったときに入力電圧Viの絶対値を減少させる電圧制限部7a(7b)とを備えている。【選択図】図1

9. 发明专利

JP2021120664A クランプセンサおよび測定装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021120664A
公开(公告)日：2021-08-19
申请号：JP2020014507
申请日：2020-01-31
申请人：日置電機株式会社
发明人：藤森康彦 , 宮澤健明 , 赤松祐太 , 成田康平
IPC分类号： G01R1/22 , G01R15/18
摘要：【課題】被測定対象の導線が高密度に配線されているような箇所でも確実にクランプでき、計測作業がし易いクランプセンサおよび測定装置を提供する。【解決手段】磁性コアの周囲に導線を巻回した有芯コイル7a、8aと、中空チューブに導線を巻回した空芯コイル7b及び8bを有するクランプセンサ7及び8において、有芯コイルの7a及び8aと空芯コイル7b及び8bとを被測定導線の延在方向に沿って配置する。【選択図】図1

10. 发明专利

JP2021117163A 測定装置及び蓄電デバイスの測定方法审中-公开
公开(公告)号：JP2021117163A
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：JP2020012007
申请日：2020-01-28
申请人：日置電機株式会社
发明人：森匠
IPC分类号： H01M10/48 , H02J7/00 , G01R19/165
摘要：【課題】短い時間で蓄電デバイスの状態を求める。【解決手段】蓄電デバイス10の状態を測定する測定装置1は、複数の蓄電デバイス10 1 〜10 n の負極同士を互いに接続する接続部21と、接続部21によって接続された複数の対の蓄電デバイス10 1 〜10 n 間の電位差を測定する差分検出モジュール23と、差分検出モジュール23によって測定される各対の電位差に基づいて蓄電デバイス10 1 〜10 n の状態を識別する処理部33とを備える。【選択図】図1

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式