会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 10. 发明公开
    • 用于从具有电子元件的承架选择性分离电子元件的方法和装置
    • CN112655079A
    • 2021-04-13
    • CN201980057474.0
    • 2019-07-19
    • 贝斯荷兰有限公司
    • A·J·贝伦德森J·G·A·兹韦尔斯
    • H01L21/67B29C45/76B29C45/14H01L23/544
    • 本发明涉及一种用于从具有电子元件(6,16)的承架(5,15,31)选择性分离电子元件(6,16)的装置(1,20,36,38),所述装置包括:至少两个冲压部件(2,3,21,22);用于移动所述冲压部件(2,3,21,22)的驱动装置;用于在所述冲压部件(2,3,21,22)之间引导承架(5,15,31)的引导件;第一冲压部件(2,21)中的多个冲头(7,23,24),这些冲头(7,23,24)连接到各个冲头控制器(8);基于部件质量水平信息(例如,由于单个电子元件(6,16)的故障和/或不正确的模制),确定要选择性地分离的电子元件(6,16),以防止电子元件(11)不符合某些质量要求的产品最终将进入后续处理步骤。选择性分离是由冲头(7,23,24)执行的,冲头是用于从承架(5,15,31)刺穿或冲压那些电子元件(6,16)的工具,这些电子部件必须通过沿着冲压部件(2,3,21,22)移动承架(5,15,31)来选择性地移除。第二冲压部件(3,22)中的开口(10,25,26)可以连接到至少一个收集箱(12,27,28),用于接收冲压出的电子元件(11),其中可以提供多个收集箱(27,28)以使得能够在各个收集箱(27,28)中收集各种质量水平的分离的电子元件(11)。还提供了一种系统(30),用于从具有电子元件(6,16)的承架(5,15,31)中在线选择性地分离电子元件(6,16)。系统(30)还可包括至少一个检查单元(35),用于分别检查承架(5,15,31)中的电子元件(6,16)。系统(30)还可包括作用在具有电子元件(6,16)的承架(5,15,31)上的处理单元(37),例如用于模制,成形(例如弯曲),修整,分离,标记和/或激光化(一部分)电子元件(6,16),这些电子元件可以位于分离装置(36,38)的上游或下游。系统(30)还可以包括两个分离装置(36,38),中间具有成形单元(37),其中,分离装置(36)分离电子元件(6,16),例如电子元件(6,16)已由检查单元(35)检查为尺寸不准确的电子元件(6,16),随后的成形单元(37)例如弯曲经过分离装置(36)之后仍保留在承架(5,15,31)中的电子元件(6,16)的引线,并在最后的过程中使第二分离装置(38)弯曲分离例如在成形单元(37)中的在先处理步骤中被检测为不正确的元件(6,16)。