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1. 发明专利

JP2014219421A 多核細胞分類および微小核点数化审中-公开
标题翻译：多核细胞分类和微核分选
公开(公告)号：JP2014219421A
公开(公告)日：2014-11-20
申请号：JP2014165786
申请日：2014-08-18
申请人：モレキュラーデバイシーズ, エルエルシー , Molecular Devices Llc , モレキュラーデバイシーズ, エルエルシー
发明人： HONG DIHUI , AVRUM I COHEN
IPC分类号： G01N21/64 , C12Q1/06 , G01N33/48 , G01N33/483
CPC分类号： G06K9/0014 , G06K9/342 , G06K9/48
摘要：【課題】多核細胞分類および微小核点数化を提供すること。【解決手段】細胞含有試料における細胞について核を計数するための方法およびシステムが開示される。該方法は:細胞含有試料の原画像を受信する工程;原画像を1つ以上の核クラスターを含むセグメント画像に変換する工程を含む。該方法は:1つ以上の核クラスターごとに、核クラスターの凸包を得る工程;核クラスターを核クラスターの凸包と比較することにより核クラスター上のどんな欠刻でも位置を突き止める工程;欠刻の集計に基づいて第一の核計数を計算する工程;核クラスターを複数の細胞のうちの細胞に割り当てる工程をさらに含む。該方法は:細胞ごとに、それを構成する核クラスターの第一の核計数を総計することにより第二の核計数を計算すること;複数の細胞のうちの少なくとも1つの第二の核計数に基づく結果を提示することをさらに含む。【選択図】なし
摘要翻译：要解决的问题：提供多核细胞分类和微核评分。公开了一种用于计数含细胞样品中细胞核的方法和系统。该方法包括：接收含有细胞的样品的原始图像; 以及将原始图像变换成包括一个或多个核簇的分割图像。该方法还包括：对于一个或多个核簇中的每一个，获得核簇的凸包; 通过将核簇与核簇的凸包进行比较来定位核簇上的任何缺陷; 基于压痕的计算计算第一核计数; 以及将所述核簇分配给所述多个小区中的小区。该方法还包括：通过总计其组成核簇的第一核计数来计算每个细胞的第二核计数; 以及基于所述多个单元中的至少一个单元的第二核计数呈现结果。

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