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1. 发明专利

JP2021169951A 検査装置、及び検査方法审中-公开
公开(公告)号：JP2021169951A
公开(公告)日：2021-10-28
申请号：JP2020072823
申请日：2020-04-15
申请人：ヤマハファインテック株式会社
发明人：三宅康志
IPC分类号： G01R31/12 , H05K3/00 , G01R31/52
摘要：【課題】電気ケーブルに寄生容量がある場合であっても、回路パターン間の絶縁状態を精度よく検査することができる検査装置、及び検査方法を提供する。【解決手段】検査対象となるプリント基板と検査装置とを接続する電気ケーブルと、前記電気ケーブルの寄生容量をキャンセルするキャンセル部と、前記電気ケーブルを介して前記プリント基板の回路パターン間に検査電圧を印加することにより得られる前記回路パターン間の電圧値、又は前記回路パターン間に流れる電流値に基づいて、前記回路パターン間の絶縁状態の良否、又は前記回路パターン間のスパーク発生の有無を判定する判定部と、を備える。【選択図】図1

2. 发明专利

JP2021169952A 検査装置、及び検査方法审中-公开
公开(公告)号：JP2021169952A
公开(公告)日：2021-10-28
申请号：JP2020072824
申请日：2020-04-15
申请人：ヤマハファインテック株式会社
发明人：三宅康志
IPC分类号： G01R19/00 , G01R31/12 , H05K3/00 , G01R31/52
摘要：【課題】スパーク発生の有無の判定の結果に関わらず、検査時におけるプリント基板それぞれの測定値を得ることができる検査装置、及び検査方法を提供する。【解決手段】プリント基板の回路パターン間に検査電圧を印加することにより得られる前記回路パターン間の電圧値、又は前記回路パターン間に流れる電流値に基づいて、前記回路パターン間の絶縁状態の良否、又は前記回路パターン間のスパーク発生の有無を判定するプリント基板の検査装置において、前記回路パターン間に検査電圧を印加することにより得られる前記回路パターン間の電圧値、又は前記回路パターン間に流れる電流値を示す検査結果を取得する取得部と、前記取得部によって取得された前記検査結果を含む検査情報を記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶された前記検査情報を表示する表示部と、を備える。【選択図】図1

3. 发明专利

JP6095735B2 プリント基板検査装置及び検査方法有权
公开(公告)号：JP6095735B2
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：JP2015143817
申请日：2015-07-21
申请人：ヤマハファインテック株式会社
发明人：土田憲吾 , 三宅康志
IPC分类号： H05K3/00 , G01R31/02

4. 发明专利

JP2016033511A プリント基板検査装置及び検査方法有权
标题翻译：印刷板检测装置和检查方法
公开(公告)号：JP2016033511A
公开(公告)日：2016-03-10
申请号：JP2015143817
申请日：2015-07-21
申请人：ヤマハファインテック株式会社
发明人：土田憲吾 , 三宅康志
IPC分类号： H05K3/00 , G01R31/02
摘要：【課題】、電気信号を検出するプローブを導体パターンに対して直接接触させた状態として、信号を確実に検出でき、正確な検査ができるプリント基板検査装置及び検査方法を提供する。【解決手段】プリント基板に形成された導体パターンに対して電気信号を印加し、導体パターンの良否を検査するプリント基板の電気検査装置において、導体パターンの一端に接触される第1プローブと、導体パターンの他端に絶縁体を介して配置される第2プローブと、定電流源と、定電流源に第1プローブを接続するための第1接続装置と、定電流源の基準電位に対する第2プローブの電気的接続状態を変化させるための第2接続装置と、定電流源の基準電位に対する第1プローブの電位を計測するための計測回路とを備える。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够在用于检测电信号的探针直接与导体图案接触的状态下可靠地检测用于精确检查的信号的印刷电路板检查装置和检查方法。解决方案：印刷电路板对形成在印刷电路板上的导体图案施加电信号，并且检查导体图案的质量。电检查装置包括：与导体图案的一端接触的第一探针; 第二探针通过绝缘体布置在导体图案的另一端; 恒流源; 用于将第一探针连接到恒流源的第一连接装置; 第二连接装置，用于相对于恒流源的参考电位改变第二探针的电连接状态; 以及用于测量第一探针相对于恒流源的参考电位的电位的测量电路。选择图：图1

5. 发明专利

JP5727976B2 プリント基板の絶縁検査装置及び絶縁検査方法有权
标题翻译：绝缘检查装置和PCB的绝缘测试
公开(公告)号：JP5727976B2
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：JP2012170642
申请日：2012-07-31
申请人：ヤマハファインテック株式会社
发明人：土田憲吾 , 三宅康志
IPC分类号： H05K3/00 , G01R31/02

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