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1. 发明专利

JP2019191111A 計測装置审中-公开
公开(公告)号：JP2019191111A
公开(公告)日：2019-10-31
申请号：JP2018087388
申请日：2018-04-27
申请人：株式会社東芝 , 東芝エネルギーシステムズ株式会社
发明人：高橋正雄
IPC分类号： G01R15/24 , G01R33/032
摘要：【課題】高い周波数帯域の電流等の計測対象を計測することができる計測装置を提供する。【解決手段】計測装置は、偏光子と、ファラデー素子と、検光子と、を備える。偏光子は、光源からの計測光を直線偏光に変換する。ファラデー素子は、磁性体の粒子を含み、計測対象に基づく磁界に応じた旋光角で、前記直線偏光に変換された前記計測光の振動方向を旋光させる。検光子は、前記計測光を前記旋光角に応じた強度の前記計測光に変換する。【選択図】図1

2. 发明专利

JP2018038235A 内部アーク保護装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018038235A
公开(公告)日：2018-03-08
申请号：JP2016172114
申请日：2016-09-02
申请人：株式会社東芝 , 東芝エネルギーシステムズ株式会社
发明人：高橋正雄
IPC分类号： H02B1/28 , H02B3/00
摘要：【課題】アークの誤った検出に伴う誤動作の発生を抑制できる内部アーク保護装置の提供。【解決手段】実施の形態に係る内部アーク保護装置は、検出部、判別部、遮断器及び制御部を備える。検出部は、受配電盤の内部における光を検出する。判別部は、検出部により検出された光がアーク光であるか否かを判別する。遮断器は、受配電盤に対する電流の流れを遮断する。制御部は、判別部による判別結果に基づいて、遮断器の動作を制御する。【選択図】図1

3. 发明专利

JP2021131266A 計測装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021131266A
公开(公告)日：2021-09-09
申请号：JP2020025627
申请日：2020-02-18
申请人：株式会社東芝 , 東芝エネルギーシステムズ株式会社
发明人：高橋正雄
IPC分类号： G01R33/032 , G02F1/09 , G01R15/24
摘要：【課題】高い精度での電流計測を可能とする小型の計測装置を提供することである。【解決手段】実施形態の計測装置は、光源と、第一光ファイバと、第一強磁性部材と、偏光子と、ファラデー素子と、検光子と、第二光ファイバと、第二強磁性部材と、検出器と、を備えている。第一光ファイバは、一端が前記光源に連結され、前記光源の光を他端から出射する。第一強磁性部材は、前記第一光ファイバの前記他端側を覆う。偏光子は、前記第一光ファイバから出射した光を直線偏光に変換する。ファラデー素子は、前記直線偏光を、磁界の強さに応じて旋光させる。検光子は、前記直線偏光を、旋光角度に応じた強度の計測光に変換する。第二光ファイバは、一端が前記検光子と対向し、前記計測光を他端から出射する。第二強磁性部材は、前記第二光ファイバの前記一端側を覆う。検出器は、前記第二光ファイバの前記他端から前記計測光を検出する。【選択図】図1

4. 发明专利

JP6929724B2 欠相検知装置、欠相検知システム、および欠相検知方法有权
公开(公告)号：JP6929724B2
公开(公告)日：2021-09-01
申请号：JP2017136485
申请日：2017-07-12
申请人：株式会社東芝 , 東芝エネルギーシステムズ株式会社
发明人：高橋正雄 , 田中雄大 , 三浦祥吾 , 前嶋宏行
IPC分类号： H02H3/34

5. 发明专利

JP2020072565A 保護継電装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020072565A
公开(公告)日：2020-05-07
申请号：JP2018205282
申请日：2018-10-31
申请人：株式会社東芝 , 東芝エネルギーシステムズ株式会社
发明人：高橋正雄
IPC分类号： H02H3/40 , H02H3/05 , H02H3/28
摘要：【課題】装置コストを増大させることなく、地絡や短絡による事故を精度よく検出することができる保護継電装置を提供することである。【解決手段】実施形態の保護継電装置は、基準値取得部と、校正対象値取得部と、校正部と、判定部とを持つ。前記基準値取得部は、電力系統における所定の保護区間に設けられた送電線の一端を流れる電流の電流値である基準電流値を取得する。前記校正対象値取得部は、前記送電線の他端に設けられた電流測定器により測定された校正対象電流値を取得する。前記校正部は、前記基準値取得部により取得された前記基準電流値に基づいて、前記校正対象値取得部により取得された前記校正対象電流値を校正する。前記判定部は、前記基準値取得部により取得された前記基準電流値と、前記校正部により校正された校正後の前記校正対象電流値との電流差に基づいて、前記保護区間における事故の有無を判定する。【選択図】図1

6. 发明专利

JP2021131265A 計測装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021131265A
公开(公告)日：2021-09-09
申请号：JP2020025625
申请日：2020-02-18
申请人：株式会社東芝 , 東芝エネルギーシステムズ株式会社
发明人：高橋正雄
IPC分类号： G02B6/42 , G02B6/32 , G02B6/27 , G01R15/24
摘要：【課題】高い精度での電流計測を可能とし、シンプルな構造を有する小型の計測装置を提供することである。【解決手段】実施形態の計測装置は、光源と、第一光ファイバと、偏光子と、ファラデー素子と、検光子と、第二光ファイバと、検出器と、を持つ。第一光ファイバは、一端が光源に連結され、光源の光を他端から出射する。偏光子は、第一光ファイバの他端と対向し、光源の光を直線偏光に変換する。ファラデー素子は、直線偏光を、磁界の強さに応じて旋光させる。検光子は、旋光させられた直線偏光を、旋光角度に応じた強度の光に変換する。第二光ファイバは、一端が検光子と対向し、検光子で変換された光を他端から出射する。検出器は、第二光ファイバの他端と対向し、変換された光を検出する。ファラデー素子と第二光ファイバとの距離は、ファラデー素子と第二光ファイバの離間方向における、検光子の幅より大きい。【選択図】図1

7. 发明专利

JP6896592B2 欠相検知装置および欠相検知システム有权
公开(公告)号：JP6896592B2
公开(公告)日：2021-06-30
申请号：JP2017219315
申请日：2017-11-14
申请人：株式会社東芝 , 東芝エネルギーシステムズ株式会社
发明人：高橋正雄
IPC分类号： H02H3/00 , G01R29/18 , G01R31/00 , G01R31/50 , G01R31/54 , G01R31/58 , H02H3/34

8. 发明专利

JP2018028501A 欠相検知システム、欠相検知装置および欠相検知方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018028501A
公开(公告)日：2018-02-22
申请号：JP2016161074
申请日：2016-08-19
申请人：株式会社東芝 , 東芝エネルギーシステムズ株式会社
发明人：高橋正雄 , 田中雄大 , 三浦祥吾 , 前嶋宏行
IPC分类号： G01R31/02 , H02H3/34 , G01R29/18
CPC分类号： G01R29/18 , G01R31/02 , H02H3/34
摘要：【課題】設備構成や負荷状況によらずに地落や短絡を伴わない1相開放故障を機械的に検知できる欠相検知システム、欠相検知装置および欠相検知方法を提供する。【解決手段】実施形態の欠相検知システムは、3相静止誘導電気機器、電流検知器、抽出部、判定部を備える。3相静止誘導電気機器は相毎の配線に励磁電流が流される1次側回路を有する。電流検知器は1次側回路の各相の励磁電流を検知する。抽出部は電流検知器により検知された励磁電流から高調波を抽出する。判定部は抽出部により高調波が抽出されたか否かに応じて励磁電流の検知元の1次側回路の配線が開放状態か接続状態かを判定する。【選択図】図1

9. 发明专利

JP2017003473A 欠陥検出装置、欠陥検出方法及びコンピュータプログラム审中-公开
标题翻译：缺陷检测装置中，缺陷检测方法和计算机程序
公开(公告)号：JP2017003473A
公开(公告)日：2017-01-05
申请号：JP2015118646
申请日：2015-06-11
申请人：株式会社東芝
发明人：橋谷誠一 , 鮫田芳富 , 高橋正雄 , 高仲徹 , 久禮庄太
IPC分类号： G01N25/72
摘要：【課題】広範囲にわたる被験体の欠陥検査をより簡易な構成で実現することができる欠陥検出装置、欠陥検出方法及びコンピュータプログラムを提供することである。【解決手段】実施形態の欠陥検出装置は、情報取得部と、欠陥検出部と、欠陥深さ判定部と、を持つ。情報取得部は、被験体の表面温度を示す表面温度情報と、前記被験体付近における所定期間の気温差を示す気温差情報と、を取得する。欠陥検出部は、前記表面温度情報が示す前記被験体の表面温度の分布に基づいて前記被験体における欠陥の被疑部位及び前記被疑部位の大きさを検出する。欠陥深さ判定部は、前記欠陥検出部によって検出された前記被疑部位の大きさと、前記被疑部位が検出された表面温度情報が取得されたタイミングに応じた気温差情報と、に基づいて前記被疑部位の深さを判定する。【選択図】図2
摘要翻译：的缺陷检测装置可以具有广泛的对象的缺陷检查的更简单的结构来实现，它是提供一种故障检测方法和计算机程序。缺陷检测装置A的实施例具有：信息获取单元，以及缺陷检测单元，和缺陷深度确定单元。信息获取单元获取表示被检体的表面温度的表面温度的信息，和表示在身体附近的受试者中的预定时间段之间的温度差的温度差信息。缺陷检测部分检测在基于表面温度信息表示被检体的表面温度的分布对象的缺陷的疑似位点的位点疑似和大小。缺陷深度确定单元，可疑部位的大小由缺陷检测器检测到时，对应于检测到的定时获得的表面温度信息的疑似部位温度差信息被犯罪嫌疑人的基础上发现确定网站的深度。 .The

10. 发明专利

JP2016142744A 温度補償素子及び光センサシステム审中-公开
标题翻译：温度补偿元件和光学传感器系统
公开(公告)号：JP2016142744A
公开(公告)日：2016-08-08
申请号：JP2015015681
申请日：2015-01-29
申请人：株式会社東芝
发明人：佐々木欣一 , 高橋正雄 , 平田幸久 , 梅崎寛之
IPC分类号： G01R33/032 , G01R15/24 , G02F1/01
CPC分类号： G01R15/24 , G01R33/032 , G02B6/02 , G02B6/024 , G02F1/01
摘要：【課題】効果的に温度補償を行うことができる温度補償素子及び光センサシステムを提供する。【解決手段】温度補償素子1は、偏波面保持ファイバ2、偏波面保持ファイバ2を被覆する保護層3、及び、偏波面保持ファイバ2に応力を印加する応力付与部4を有する。応力付与部4は、金属薄膜層5によって構成され、偏波面保持ファイバ2の一部を被覆している。偏波面保持ファイバ2は、光伝播方向の所定の区間において保護層3によって被覆されていない。金属薄膜層5は、保護層3によって被覆されていない区間の偏波面保持ファイバ2を被覆している。応力付与部4は、光ファイバに光学的に接続されている外部装置の温度変化に応じて、前記光ファイバに非等方的な応力を印加する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供能够有效补偿温度的温度补偿元件和光学传感器系统。解决方案：温度补偿元件1包括：维持光纤2的偏振面; 覆盖保持光纤2的偏振面的保护层3; 以及对维持光纤2的偏振面施加应力的应力赋予部4.应力施加部4由金属薄膜层5构成，并覆盖偏振面保持用光纤2的一部分。偏振面的规定部分平面保持光纤2在光传播方向上没有被保护层3覆盖。金属薄膜层5覆盖未被保护层3覆盖的偏振面保持光纤2的一部分。应力赋予部分4施加各向异性根据与光纤光学连接的外部单元上的温度变化对光纤的应力。图1：

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