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1. 发明专利

JP2020201283A 基板検査装置、検査治具、及びその基板検査方法审中-公开
公开(公告)号：JP2020201283A
公开(公告)日：2020-12-17
申请号：JP2020149552
申请日：2020-09-07
申请人：西川秀雄
发明人：西川秀雄
IPC分类号： G01R31/54 , G01R31/28 , H05K3/00 , G01R31/52
摘要：【課題】新基板の登録設定、及び基板の機種変更のセットアップ時間を経時的に短縮する基板検査装置【解決手段】複数の検査端子と基板位置マークのある基板を検査する基板検査装置に搭載される検査治具は、複数のプローブと、その先端を検査端子に案内する案内孔と、複数の治具位置マークがある案内板があって、検査治具移動部に依って移動される。基板を保持して搬送する搬送テーブルは、複数のテーブル位置マークと、複数の治具位置マークを認識する補助カメラがある。主カメラは搬送テーブルと相対的に移動して搬送テーブル上の複数の位置マークを認識する。制御装置は主カメラが認識する複数のテーブル位置マークを基に直交座標の制御座標の原点の位置と座標軸の方向を定めて、主カメラと補助カメラが認識した各々の位置マークの制御座標上の位置から基板と検査治具を位置認識し、整合させる基板検査装置。【選択図】図2

2. 发明专利

JP2020034418A 基板検査装置、検査治具、及びその基板検査方法审中-公开
公开(公告)号：JP2020034418A
公开(公告)日：2020-03-05
申请号：JP2018161175
申请日：2018-08-30
申请人：西川秀雄
发明人：西川秀雄
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/50
摘要：【課題】新基板の登録設定、及び基板の機種変更のセットアップ時間を経時的に短縮する基板検査装置【解決手段】複数の検査端子と基板位置マークのある基板を検査する基板検査装置に搭載される検査治具は、複数のプローブと、その先端を検査端子に案内する案内孔と、複数の治具位置マークがある案内板があって、検査治具移動部に依って移動される。基板を保持して搬送する搬送テーブルは、複数のテーブル位置マークと、複数の治具位置マークを認識する補助カメラがある。主カメラは搬送テーブルと相対的に移動して搬送テーブル上の複数の位置マークを認識する。制御装置は主カメラが認識する複数のテーブル位置マークを基に直交座標の制御座標の原点の位置と座標軸の方向を定めて、主カメラと補助カメラが認識した各々の位置マークの制御座標上の位置から基板と検査治具を位置認識し、整合させる基板検査装置。【選択図】図2

3. 发明专利

JP2015200602A 接触子及び検査治具审中-公开
标题翻译：联系方式和检验
公开(公告)号：JP2015200602A
公开(公告)日：2015-11-12
申请号：JP2014080336
申请日：2014-04-09
申请人：西川秀雄
发明人：西川秀雄
IPC分类号： G01R1/06
摘要：【課題】製造及び保守が容易な4端子測定に好適な検査治具及び接触子を提供する。【解決手段】接触子10は、導電性の接触針11とコイルばね12からなる。コイルばね12は、ばね特性のある本体部122と、接触針11を内側に連結する一端部121と、本体部122のコイル径の内側に最端部123aを有する他端部123からなる。接触針11は円形の軸状部材であって、電子部品に接触する先端111と、先端に続く軸状の突出部112と、一端部121と連結されて本体部122の伸縮を内側から同軸に案内する中継部114と、突出部112と中継部114の間にあって、偏平状に所定長さ圧延されて軸幅が拡大した偏平面には傾斜が有ってコイルばね12の線径分強、突出部112と中継部114との軸が偏心した係止部113がある接触子。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供适用于四端测量并且可以容易地制造和维护的检查夹具和接触片。解决方案：接触件10包括导电接触针11和螺旋弹簧12.线圈弹簧12包括：具有弹簧特性的主体部分122; 一个端部121，用于将接触针11联接在内部; 另一端部123在主体部122的线圈直径的内侧具有最外端部123a。接触针11是圆形的轴状构件，包括：与电子部件接触的前端111; 与尖端连续的轴状突起部112; 连接到一端部121并且从内部同轴地引导主体部122的伸缩的中继部114; 以及设置在突出部112和中继部114之间的接合部113，其中在平坦状态下以预定长度延伸并且轴宽度扩大的平坦表面倾斜，并且存在线径的偏心强度的螺旋弹簧12，突出部112的轴和中继部114是偏心的。

4. 发明专利

JP6920024B2 基板検査装置、検査治具、及びその基板検査方法有权
公开(公告)号：JP6920024B2
公开(公告)日：2021-08-18
申请号：JP2020149552
申请日：2020-09-07
申请人：西川秀雄
发明人：西川秀雄
IPC分类号： G01R31/54 , G01R31/28 , H05K3/00 , G01R31/52

5. 发明专利

JP5894718B2 接触子、検査治具、及び接触子の製造方法有权
标题翻译：检查夹具的联系方式和联系人
公开(公告)号：JP5894718B2
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：JP2013034077
申请日：2013-02-25
申请人：西川秀雄
发明人：西川秀雄
IPC分类号： G01R1/073 , G01R1/06 , G01R1/067

6. 发明专利

JP6410457B2 接触子、検査治具、及び接触子の製造方法审中-公开
公开(公告)号：JP6410457B2
公开(公告)日：2018-10-24
申请号：JP2014080336
申请日：2014-04-09
申请人：西川秀雄
发明人：西川秀雄
IPC分类号： G01R1/067

7. 发明专利

JP6071633B2 接触子、検査治具、及び接触子の製造方法有权
标题翻译：检查夹具的联系方式和联系人
公开(公告)号：JP6071633B2
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：JP2013034708
申请日：2013-02-25
申请人：西川秀雄
发明人：西川秀雄
IPC分类号： G01R1/067 , G01R31/26 , H01L21/66 , G01R1/073

8. 发明专利

JP6847495B2 基板検査装置、検査治具、及びその基板検査方法有权
公开(公告)号：JP6847495B2
公开(公告)日：2021-03-24
申请号：JP2018161175
申请日：2018-08-30
申请人：西川秀雄
发明人：西川秀雄
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/50

9. 发明专利

JP2018200314A 基板検査装置、検査治具、及びその相対的位置合せ方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018200314A
公开(公告)日：2018-12-20
申请号：JP2018100975
申请日：2018-05-25
申请人：西川秀雄
发明人：西川秀雄
IPC分类号： G01R31/28 , H05K3/00 , G01R31/02
摘要：【課題】新基板の登録設定、及び基板の機種変更のセットアップ時間を経時的に短縮する基板検査装置【解決手段】複数の検査端子と基板位置マークのある基板を検査する基板検査装置に搭載される検査治具は、複数のプローブと、その先端を検査端子に案内する案内孔と、複数の治具位置マークがある案内板があって、検査治具移動部に依って移動される。基板を保持して搬送する搬送テーブルは、複数のテーブル位置マークと、複数の治具位置マークを認識する補助カメラある。主カメラは搬送テーブルと相対的に移動して搬送テーブル上の複数の位置マークを認識する。制御装置は主カメラが認識する複数のテーブル位置マークを基に直交座標の制御座標の原点の位置と座標軸の方向を定めて、主カメラと補助カメラが認識した各々の位置マークの制御座標上の位置から基板と検査治具を認識し、整合させる基板検査装置。【選択図】図2

10. 发明专利

JP5824290B2 検査治具及び接触子有权
标题翻译：检查夹具及接触
公开(公告)号：JP5824290B2
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：JP2011182420
申请日：2011-08-24
申请人：西川秀雄
发明人：西川秀雄
IPC分类号： G01R31/26 , G01R1/067
CPC分类号： G01R1/06722 , G01R1/06738 , G01R1/07328 , G01R31/2808

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