会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 6. 发明专利
    • Vorrichtung zum Bearbeiten von Proben
    • DE102006054609B4
    • 2015-05-07
    • DE102006054609
    • 2006-11-17
    • LEICA MIKROSYSTEME GMBH
    • LIHL REINHARD DRZIMMERMANN MICHAELHALLADY ANDREASBOCK GÜNTHER
    • G01N1/06G01N1/04G01N1/28
    • Vorrichtung (1) zum Bearbeiten von Proben (15) für ein nachfolgendes Schneiden der Proben mit einem Mikrotom oder einem Ultramikrotom zur nachfolgenden Probenuntersuchung der geschnittenen Proben mit einem Mikroskop, mit einer Beobachtungseinrichtung (2) zum Beobachten einer Probe (15), einer Probenhalterung (3) zur Aufnahme der zu bearbeitenden Probe (15) und einer Werkzeughalterung (6) für ein Werkzeug zur Probenbearbeitung, dadurch gekennzeichnet, dass die Werkzeughalterung (6) entlang einer Richtung normal zu ihrer Längsachse (L') mittels eines Schwenkarms (22) verschwenkbar und um ihre Längsachse (L') drehbar ist und dass ein Antrieb (31) für einen wählbaren Ablauf der Verschwenkung des Schwenkarms (22) vorhanden ist, wobei der Schwenkarm (22) über eine Gelenkstange (25) mit einem Hebel (23) verbunden und der Hebel (23) mit einem Gewicht (26) beaufschlagt ist, wobei die Bewegung des Schwenkarms (22) über eine Bewegung der Gelenkstange (25) und des Hebels (23) erfolgt, wobei die Kraft des Gewichts (26) über den Hebel (23) und die Gelenkstange (25) auf den Schwenkarm (22) mit dem Werkzeug in der Werkzeughalterung (6) übertragen wird, und wobei eine Kurvenscheibe (24) mit dem Antrieb (31) verbunden ist und mit dem Gewicht (26) in lösbarem Kontakt steht.