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1. 发明公开

CN116666187A 对带正电离子和带负电离子进行质量分析的方法和设备审中-公开
公开(公告)号：CN116666187A
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202310167375.6
申请日：2023-02-27
申请人：托夫沃克股份公司
发明人： U·罗纳 , F·洛佩兹希尔菲克
IPC分类号： H01J49/04 , H01J49/40 , H01J49/00
摘要：本发明涉及一种利用质量分析仪装置(10)对带正电离子和带负电离子进行质量分析的方法。该方法包括将带正电离子和带负电离子经由质量分析仪装置(10)的进口(13)导入到质量分析仪装置(10)的质量分析室(14)。该方法还包括：在质量分析室(14)内将带正电离子从进口(13)转移至质量分析仪装置(10)的第一质量分析仪(11)并利用第一质量分析仪(11)对带正电离子进行质量分析；在质量分析室(14)内将带负电离子从进口(13)转移至质量分析仪装置(10)的第二质量分析仪(12)并利用第二质量分析仪(12)对带负电离子进行质量分析。本发明还涉及一种利用根据本发明的方法对带正电离子和带负电离子进行质量分析的质量分析仪装置(10)。

2. 发明公开

CN115380628A 微波驱动的等离子体离子源审中-实审
公开(公告)号：CN115380628A
公开(公告)日：2022-11-22
申请号：CN202180027304.5
申请日：2021-04-01
申请人：托夫沃克股份公司
发明人： M·坦纳
IPC分类号： H05H1/30 , H01J49/10 , H05H1/46
摘要：本发明涉及一种用于将待电离样品电离成样品离子的微波驱动的等离子体离子源(1)，该微波驱动的等离子体离子源(1)包括用于将样品从微波驱动的等离子体离子源(1)的外部送入微波驱动的等离子体离子源(1)的内部(3)的样品入口(6)；用于生成微波以从等离子体气体(100)生成等离子体(101)的微波发生器(10)；提供等离子体炬的定向方向(29)的等离子体炬(20)具有内部(21)，用于容纳(2)由等离子体气体(100)生成等离子体(101)的过程以及通过将样品暴露于等离子体(101)而将样品电离成样品离子的过程，其中等离子体炬(20)包括炬出口(22)，其用于将等离子体(101)和样品离子基本上沿着等离子体炬的定向方向(29)从等离子体炬(20)的内部(21)排放至外部，炬出口(22)具有炬孔径。此外，微波驱动的等离子体离子源(1、201)包括屏蔽层(4)，其用于屏蔽从微波驱动的等离子体离子源(1)的内部(3)传送至微波驱动的等离子体离子源(1)的外部的微波，其中屏蔽层(4)包括屏蔽出口(5)，其用于将等离子体(101)和样品离子基本上沿着等离子体炬定向方向(29)从微波驱动的等离子体离子源(1)的内部(3)排放至微波驱动的等离子体离子源(1)的外部，屏蔽出口(5)具有屏蔽孔径。由此，屏蔽出口(5)与炬出口(22)流体耦合，以将等离子体(101)和样品离子基本上沿着等离子体炬的定向方向(29)从等离子体炬(20)的内部(21)排放至微波驱动的等离子体离子源(1)的外部，其中屏蔽孔径的尺寸小于炬孔径的尺寸的150％优选小于炬孔径的尺寸的125％、特别优选小于炬孔径的尺寸的110％。屏蔽孔径的尺寸和炬孔径的尺寸均以面积为单位测量。

3. 发明公开

CN115308316A 用于对样品进行质量分析的方法和装置审中-实审
公开(公告)号：CN115308316A
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202210418516.2
申请日：2022-04-20
申请人：托夫沃克股份公司
发明人：索尼娅·克利 , 斯蒂芬·布鲁克林 , 马克·戈宁 , 乌尔斯·罗纳 , 卡斯滕·施特默
IPC分类号： G01N30/02 , G01N30/72
摘要：本发明涉及一种对样品进行质量分析的方法，将样品电离成第一样品离子和第二样品离子并且利用质量分析器从第一样品离子和第二样品离子获得质谱。由此，重复地，从样品获得第一测量物，并将其绕过任何色谱柱而转移到第一离子源并由第一离子源将其电离成第一样品离子，其中，从相应的第一测量物获得的第一样品离子被转移到质量分析器，其中，利用质量分析器从第一样品离子获得至少一个第一质谱，所述第一样品离子从由第一离子源电离并从所述第一离子源转移的相应的第一测量物获得。此外，至少一次，在与相应的第二测量物相关联并具有窗口宽度的时间窗口内从样品获得第二测量物。

4. 发明授权

CN107636796B 用于质谱分析法的设备和方法有权
公开(公告)号：CN107636796B
公开(公告)日：2019-12-06
申请号：CN201680028887.2
申请日：2016-03-18
申请人：托夫沃克股份公司
发明人： C·坦纳 , M·坦纳 , M·戈南
IPC分类号： H01J49/04 , H01J49/10
摘要：用于质谱分析法的设备包括：部分发生器(10)，用于与触发脉冲同步地产生局部分析物部分；传送系统(20)，耦合到部分发生器(10)，用于输送局部分析物部分；等离子体电离器单元(30)，耦合到传送系统(20)，用于使用等离子体来雾化、汽化和电离接收到的分析物部分；质量分析器(41)，耦合到等离子体电离器单元(30)，用于分析接收到的分析物部分，其包括至少一个检测器；以及数据采集电子器件(50)，连接到至少一个检测器，用于采集由至少一个检测器生成的信号(43)。该设备还包括信号延迟装置(60)，用于接收触发脉冲(11)并发送对应于触发脉冲的延迟信号(61)，以便将所要分析的颗粒在部分生成与检测之间所经历的延迟纳入考虑。

5. 发明授权

CN104024844B 用于确定离子的迁移率的方法和装置有权
公开(公告)号：CN104024844B
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201280064715.2
申请日：2012-08-13
申请人：托夫沃克股份公司
发明人：理查德·科诺陈缪斯
IPC分类号： G01N27/62 , G06F17/00 , H01J49/00
CPC分类号： G01N27/622 , H01J49/02 , H01J49/061 , H01J49/40
摘要：本发明涉及一种用于确定离子迁移率的方法和装置(1)。此方法包括如下步骤：使用受控于调制函数的离子门(2)调制离子束(6)，从而生成调制离子束；导引调制离子束穿过漂移区域(3)；在调制离子束已通过漂移区域(3)后测量调制离子束的信号；以及计算调制函数和信号的相关性以确定离子的迁移率。该装置(1)包括离子门(2)；可导引调制离子束穿过其中的漂移区域(3)；在调制离子束已经通过漂移区域(3)后可测量调制离子束信号的检测器(4)；以及可计算调制函数和信号的相关性以确定离子的迁移率的计算单元(5)。调制函数的自相关性是双值函数。

6. 发明授权

CN108695135B 用于从气溶胶颗粒生成元素离子的离子源和方法有权
公开(公告)号：CN108695135B
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN201711460682.4
申请日：2017-12-28
申请人：托夫沃克股份公司
发明人： U·罗纳
IPC分类号： H01J49/10
摘要：本发明涉及用于从气溶胶颗粒生成元素离子和/或电离的金属氧化物的离子源，其包含：具有内部的减压室；入口和限流装置，用于将包含分散在气体中的气溶胶颗粒的分散体中的气溶胶颗粒引入减压室的内部，该入口经由限流装置将减压室的外部与减压室的内部流体耦合；激光器，用于在减压室的内部的等离子体区中诱导分散体中的等离子体，以将气溶胶颗粒原子化并电离成元素离子和/或电离的金属氧化物；减压室适于在其内部实现并维持0.01mbar至100mbar的压力。本发明进一步涉及用于从气溶胶颗粒生成元素离子和/或电离的金属氧化物的方法。

7. 发明公开

CN109923637A 用于分析气溶胶粒子的化学组分的装置和方法有权
公开(公告)号：CN109923637A
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201780068684.0
申请日：2017-09-07
申请人：托夫沃克股份公司
发明人： F·洛佩兹希尔菲克 , M·戈南 , M·楚比森
IPC分类号： H01J49/04 , H01J49/16 , G01N33/00
摘要：本发明涉及一种用于分析气溶胶粒子的化学组分的装置(1)和方法。该装置(1)包括：提取电子喷雾电离源(2)，其用于从气溶胶粒子中提取组分、特别是有机化合物，并且用于将这些组分电离成离子；以及用于分析这些离子的质量分析仪(3)、特别是飞行时间质量分析仪，质量分析仪(3)流体联接至提取电子喷雾电离源(2)。所述方法包括以下步骤：利用提取电子喷雾电离源(2)从气溶胶粒子中提取组分、特别是有机化合物，并利用提取电子喷雾电离源(2)将这些组分电离成离子；将这些离子转移至质量分析仪(3)、特别是飞行时间质量分析仪，质量分析仪(3)流体联接至提取电子喷雾电离源(2)；以及利用质量分析仪(3)分析这些离子。

8. 发明公开

CN107941892A 用于确定谱图的方法和设备有权
公开(公告)号：CN107941892A
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201710947870.3
申请日：2017-10-12
申请人：托夫沃克股份公司
发明人： M·戈南 , C·坦纳
IPC分类号： G01N27/62 , G01N30/72 , H01J49/00
CPC分类号： G01N27/622 , H01J49/0036 , H01J49/0072 , G01N30/72 , H01J49/0027
摘要：本发明涉及用于确定包含一种或多种组成部分的样品的谱图的方法和设备，该方法和设备是基于该一种或多种组成部分经历物理过程或化学过程所需的时间。该谱图通过以下方式确定：通过调制单元将该样品分成检验物，对于这些检验物，能够根据调制模式(23)定时地相继启动该物理过程或化学过程，该调制模式是包括N个连续的调制函数(23.1，23.2，23.3)的函数，其中N为2或更大；在N个连续的循环(25.1，25.2，25.3)中用检测器测量该样品的这些组成部分完成该物理过程或化学过程时的时间，其中在相继的循环(25.1，25.2，25.3)中，每个循环(25.1，25.2，25.3)被指派给该调制模式(23)内这些调制函数(23.1，23.2，23.3)中的连续的一个调制函数，其中每个循环(25.1，25.2，25.3)与其所指派的调制函数(23.1，23.2，23.3)的起点(22.1，22.2，22.3)相比以时间上的偏置(26.1，26.2，26.3)开始，其中对于每个循环(25.1，25.2，25.3)而言该偏置(26.1，26.2，26.3)是不同的，其中该检测器提供检测器信号，该检测器信号提供在何时多少数目的组成部分已经完成了该物理过程或化学过程的信息，并且其中该检测器信号具有检测时间分辨率(31)，其中这些偏置(26.1，26.2，26.3)中的至少一个偏置具有不同于零、不同于该检测时间分辨率(31)且不同于该检测时间分辨率(31)的倍数的绝对值；以及用计算单元计算该检测器信号与该调制模式(23)的相关性。

9. 发明公开

CN107636796A 用于质谱分析法的设备和方法有权
公开(公告)号：CN107636796A
公开(公告)日：2018-01-26
申请号：CN201680028887.2
申请日：2016-03-18
申请人：托夫沃克股份公司
发明人： C·坦纳 , M·坦纳 , M·戈南
IPC分类号： H01J49/04 , H01J49/10
摘要：用于质谱分析法的设备包括：部分发生器(10)，用于与触发脉冲同步地产生局部分析物部分；传送系统(20)，耦合到部分发生器(10)，用于输送局部分析物部分；等离子体电离器单元(30)，耦合到传送系统(20)，用于使用等离子体来雾化、汽化和电离接收到的分析物部分；质量分析器(41)，耦合到等离子体电离器单元(30)，用于分析接收到的分析物部分，其包括至少一个检测器；以及数据采集电子器件(50)，连接到至少一个检测器，用于采集由至少一个检测器生成的信号(43)。该设备还包括信号延迟装置(60)，用于接收触发脉冲(11)并发送对应于触发脉冲的延迟信号(61)，以便将所要分析的颗粒在部分生成与检测之间所经历的延迟纳入考虑。

10. 发明授权

CN104769412B 用于判定气溶胶颗粒尺寸的方法和设备有权转让
公开(公告)号：CN104769412B
公开(公告)日：2017-10-27
申请号：CN201380043223.X
申请日：2013-06-12
申请人：托夫沃克股份公司
发明人：理查德·诺陈缪斯
IPC分类号： G01N15/02 , H01J49/00
CPC分类号： G01N15/02 , G01N2015/0026 , G01N2015/0046 , H01J49/0031 , H01J49/40
摘要：本发明涉及一种用于判定气溶胶颗粒尺寸分布的方法和设备(1)。此方法包括如下步骤：使用受控于调制函数的气溶胶颗粒门(2)调制气溶胶颗粒束(6)，从而生成调制气溶胶颗粒束；导引调制气溶胶颗粒束穿过漂移区域(3)；在调制气溶胶颗粒束已通过漂移区域(3)后测量调制气溶胶颗粒束的信号；以及计算调制函数和信号的相关性以确定气溶胶颗粒的尺寸分布。该设备(1)包括气溶胶颗粒门(2)；可导引调制气溶胶颗粒束穿过其中的漂移区域(3)；在调制气溶胶颗粒束已经通过漂移区域(3)后可测量调制气溶胶颗粒束信号的检测器(4)；以及可计算调制函数和信号的相关性以确定气溶胶颗粒的尺寸分布的计算单元(5)。

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