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1. 发明公开

CN110118707A 一种折反式激光粒度仪审中-公开
公开(公告)号：CN110118707A
公开(公告)日：2019-08-13
申请号：CN201910483659.X
申请日：2019-06-05
申请人：河北工业大学
发明人：魏永杰 , 葛婷婷 , 张中岐
IPC分类号： G01N15/02
摘要：一种折反式激光粒度仪，用于颗粒粒度分布测量。由激光器1发出的光经过扩束准直后形成平行光，照射在颗粒样品2区域，颗粒对光发生散射。颗粒的散射光经过透镜3后到达半透半反镜4，半透半反镜4与光路的光轴成45°摆放。在半透半反镜4后面且位于透镜3的焦平面上放置光电探测器阵列5，用于接收颗粒的散射光；在与光轴垂直的方向上设置透镜6，在透镜3和透镜6的组合焦平面上放置光电探测器阵列7，经半透半反镜4反射和透镜6透射后的颗粒散射信号由光电探测器阵列7接收。由光电探测器阵列5、7接收的颗粒散射信号被采集后，经计算机处理得到颗粒散射的角分布信号，从而得到颗粒粒度分布。

2. 发明公开

CN109470466A 一种液位-时间差的喷雾流量分布测试方法无效
公开(公告)号：CN109470466A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811578834.5
申请日：2018-12-24
申请人：河北工业大学
发明人：魏永杰 , 车进超 , 马宝强 , 葛婷婷 , 张中岐 , 范程程
IPC分类号： G01M13/00 , G01F1/00
摘要：本发明公开了一种液位-时间差的喷雾流量分布测试方法，属于喷嘴雾化性能测量领域。解决喷嘴雾化性能测量中，喷雾流量测量方法效率低、测量方法繁锁的问题。自喷雾开始计时，采用光学方法在采样器阵列的相同高度处测量液面高度，分别记录每个采样器内液体到达采样液面高度的时间。时间越长，说明喷嘴在该采样器位置处的流量越小，通过计算采样器阵列中液体的体积与时长的关系，可以得到喷雾的流量分布。

3. 实用新型

CN211426183U 一种折反式激光粒度仪有权
公开(公告)号：CN211426183U
公开(公告)日：2020-09-04
申请号：CN201920837183.0
申请日：2019-06-05
申请人：河北工业大学
发明人：魏永杰 , 葛婷婷 , 张中岐
IPC分类号： G01N15/02
摘要：一种折反式激光粒度仪。采用激光散射法，解决颗粒粒度分布测量中，测量粒度分布范围小、激光粒度体积大、制作光学透镜和光电探测器阵列困难的问题。由激光器(1)发出的光经过扩束准直后形成平行光，照射在颗粒样品(2)区域，颗粒对光发生散射。颗粒的散射光经过第一透镜(3)后到达半透半反镜(4)，半透半反镜(4)与光路的光轴成45°摆放。半透半反镜(4)的透射和反射比为1∶1，即颗粒样品(2)的散射光有50％透过半透半反镜(4)。在半透半反镜(4)后面且位于第一透镜(3)的焦平面上放置第一光电探测器阵列(5)，用于接收颗粒样品(2)的散射光；在与光轴垂直的方向上设置第二透镜(6)，第二透镜(6)与第一透镜(3)组合成新的透镜组，其组合焦距根据颗粒测量范围要求确定，一般大于第一透镜(3)的焦距。在第一透镜(3)和第二透镜(6)的组合焦平面上放置第二光电探测器阵列(7)，经半透半反镜(4)反射和第二透镜(6)透射后的颗粒散射信号由第二光电探测器阵列(7)接收。由第一光电探测器阵列(5)和第二光电探测器阵列(7)接收的颗粒散射信号进行采集和计算机处理后得到颗粒散射角分布信号，经过计算机处理后得到颗粒粒度分布。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

4. 实用新型

CN211178933U 一种扫描式喷嘴雾场打击力分布测试系统失效
公开(公告)号：CN211178933U
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN201920990932.3
申请日：2019-06-28
申请人：河北工业大学
发明人：魏永杰 , 张中岐 , 葛婷婷 , 李明凯 , 魏文晟 , 车进超 , 马宝强
IPC分类号： G01M13/00 , G01L5/00
摘要：一种扫描式喷嘴雾场打击力分布测试系统。解决喷嘴的喷雾打击力分布测量中，传感器分布安装复杂、防水困难的问题。测量装置设有测量仓，将一个压力传感器(3)固定在测量仓内部中间位置。将喷嘴(1)固定在二维移动机构上，由控制系统控制电机驱动二维移动机构，带动喷嘴(1)实现二维平移。在喷雾过程中，喷嘴(1)每移动一定距离，压力传感器(3)测量一次打击力，由数据处理系统(4)采集并处理，从而实现在雾场覆盖区域的打击力分布扫描测量。

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