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1. 发明公开

CN101960256A 测量仪器的自动校准有权
公开(公告)号：CN101960256A
公开(公告)日：2011-01-26
申请号：CN200880127641.6
申请日：2008-02-29
申请人：特林布尔公司
发明人： C·格拉瑟
IPC分类号： G01C15/00 , G01C25/00
CPC分类号： G01C25/00 , G01C15/00
摘要：本发明提供一种用于校准大地测量仪器的方法、一种仪器以及该仪器的计算机程序产品。在本发明的方法和大地测量仪器中，探测对由该仪器进行的测量有影响的至少一个参数的值，并将该值和预定阈值进行比较。基于探测值和预定阈值之间的比较，将仪器瞄准参考目标，以及使用该参考目标进行校准。本发明的优势在于，提高了由该仪器进行的测量的准确性和可靠性。另外，本发明优势在于，减少了对机械稳定性的要求。

2. 发明授权

CN101960256B 测量仪器的自动校准有权
公开(公告)号：CN101960256B
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：CN200880127641.6
申请日：2008-02-29
申请人：特林布尔公司
发明人： C·格拉瑟
IPC分类号： G01C15/00 , G01C25/00
CPC分类号： G01C25/00 , G01C15/00
摘要：本发明提供一种用于校准大地测量仪器的方法、一种仪器以及该仪器的计算机程序产品。在本发明的方法和大地测量仪器中，探测对由该仪器进行的测量有影响的至少一个参数的值，并将该值和预定阈值进行比较。基于探测值和预定阈值之间的比较，将仪器瞄准参考目标，以及使用该参考目标进行校准。本发明的优势在于，提高了由该仪器进行的测量的准确性和可靠性。另外，本发明优势在于，减少了对机械稳定性的要求。

3. 发明授权

CN101583841B 测地仪的对准有权
公开(公告)号：CN101583841B
公开(公告)日：2011-02-16
申请号：CN200780050134.2
申请日：2007-01-25
申请人：特林布尔公司
发明人： S·斯瓦赫尔姆 , C·格拉瑟 , M·沃格尔 , N·梅恩
IPC分类号： G01C1/04 , G01C15/00
CPC分类号： G01C15/002 , G01C1/04
摘要：公开了一种用于将测量仪对准被选目标的方法。该方法包括以下步骤：利用测量仪中的相机捕获图像；通过在测量仪所捕获的图像中识别一个目标点来选择一个目标；根据在所述图像中识别出的目标点计算第一水平和垂直的旋转角；旋转测量仪经过所述第一水平和垂直的旋转角到达中间瞄准线；测量沿所述中间瞄准线到一个点的距离；以及根据所述图像中的目标点以及所述测得的距离，计算第二水平和垂直的旋转角。该方法可以利用计算机软件、硬件、固件或其组合实现。还公开了执行本方法的一种测量仪。

4. 发明授权

CN105026886B 跟踪器单元和跟踪器单元中的方法有权
公开(公告)号：CN105026886B
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201280078101.X
申请日：2012-11-01
申请人：特林布尔公司
发明人： C·格拉瑟 , S·柯克
IPC分类号： G01C1/02 , G01C1/04 , G01C15/00
CPC分类号： G01S17/66 , G01C15/002 , G01S7/481 , G01S7/4813 , G01S7/4972
摘要：公开了一种用于测量仪器(诸如，全站仪)的跟踪器单元。该跟踪单元包括被布置在不同位置处的第一光学辐射源和至少第二光学辐射源并且所述第一光学辐射源和所述至少第二光学辐射源中的每一个相对于跟踪器指向轴线非同轴地布置且当被激活时适于朝向反射目标发射光学辐射。所述第一光学辐射源和所述至少第二光学辐射源被布置在如下的位置处，即使得所述跟踪器指向轴线和所述第一光学辐射源的位置限定第一平面并且所述跟踪器指向轴线和所述至少第二光学辐射源的位置限定第二平面，所述第一光学辐射源和所述至少第二光学辐射源被布置成使得在垂直于所述第一平面的平面内，所述第一光学辐射源相对于所述跟踪器指向轴线同轴，且在垂直于所述第二平面的平面内，所述至少第二光学辐射源相对于所述跟踪器指向轴线同轴。基于由所述第一光学辐射源发射的光学辐射的反射所生成的、照射在光传感器上光学辐射，生成至少一个第一组信号。基于由所述至少一个第二光学辐射源发射的光学辐射的反射所生成的、照射在光传感器上的光学辐射，生成至少一个第二组信号。通过在所述跟踪器单元中采用相对于所述跟踪器指向轴线偏心地布置的至少两个光学辐射源，在跟踪器单元中可以采用一个非同轴光学配置，同时允许模仿或“模拟”所述跟踪器单元中的同轴光学行为。

5. 发明授权

CN102460864B 光脉冲发射机有权复审申请
公开(公告)号：CN102460864B
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN200980160101.2
申请日：2009-06-30
申请人：特林布尔公司
发明人： Y·古谢夫 , M·赫德曼 , E·凡宁 , C·格拉瑟
IPC分类号： H01S5/062
CPC分类号： H01S5/042 , H01S3/06716 , H01S5/0428 , H01S5/06216
摘要：公开了一种用于驱动激光二极管达到使得能够减轻或消除所谓的尖峰效应的程度的方法，该尖峰效应与在激光辐射过程的开始激光器中注入的载流子的数量超过平衡值相关。这样，尤其将提高可用在测距应用中的主振荡器功率放大器的效率。还公开了一种包括这样的激光二极管的光脉冲发射机。

6. 发明公开

CN105026886A 跟踪器单元和跟踪器单元中的方法有权
公开(公告)号：CN105026886A
公开(公告)日：2015-11-04
申请号：CN201280078101.X
申请日：2012-11-01
申请人：特林布尔公司
发明人： C·格拉瑟 , S·柯克
IPC分类号： G01C1/02 , G01C1/04 , G01C15/00
CPC分类号： G01S17/66 , G01C15/002 , G01S7/481 , G01S7/4813 , G01S7/4972
摘要：公开了一种用于测量仪器(诸如，全站仪)的跟踪器单元。该跟踪单元包括被布置在不同位置处的第一光学辐射源和至少第二光学辐射源并且所述第一光学辐射源和所述至少第二光学辐射源中的每一个相对于跟踪器指向轴线非同轴地布置且当被激活时适于朝向反射目标发射光学辐射。所述第一光学辐射源和所述至少第二光学辐射源被布置在如下的位置处，即使得所述跟踪器指向轴线和所述第一光学辐射源的位置限定第一平面并且所述跟踪器指向轴线和所述至少第二光学辐射源的位置限定第二平面，所述第一光学辐射源和所述至少第二光学辐射源被布置成使得在垂直于所述第一平面的平面内，所述第一光学辐射源相对于所述跟踪器指向轴线同轴，且在垂直于所述第二平面的平面内，所述至少第二光学辐射源相对于所述跟踪器指向轴线同轴。基于由所述第一光学辐射源发射的光学辐射的反射所生成的、照射在光传感器上光学辐射，生成至少一个第一组信号。基于由所述至少一个第二光学辐射源发射的光学辐射的反射所生成的、照射在光传感器上的光学辐射，生成至少一个第二组信号。通过在所述跟踪器单元中采用相对于所述跟踪器指向轴线偏心地布置的至少两个光学辐射源，在跟踪器单元中可以采用一个非同轴光学配置，同时允许模仿或“模拟”所述跟踪器单元中的同轴光学行为。

7. 发明公开

CN102460864A 光脉冲发射机有权复审申请
公开(公告)号：CN102460864A
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：CN200980160101.2
申请日：2009-06-30
申请人：特林布尔公司
发明人： Y·古谢夫 , M·赫德曼 , E·凡宁 , C·格拉瑟
IPC分类号： H01S5/062
CPC分类号： H01S5/042 , H01S3/06716 , H01S5/0428 , H01S5/06216
摘要：公开了一种用于驱动激光二极管达到使得能够减轻或消除所谓的尖峰效应的程度的方法，该尖峰效应与在激光辐射过程的开始激光器中注入的载流子的数量超过平衡值相关。这样，尤其将提高可用在测距应用中的主振荡器功率放大器的效率。还公开了一种包括这样的激光二极管的光脉冲发射机。

8. 发明公开

CN101583841A 测地仪的对准有权
公开(公告)号：CN101583841A
公开(公告)日：2009-11-18
申请号：CN200780050134.2
申请日：2007-01-25
申请人：特林布尔公司
发明人： S·斯瓦赫尔姆 , C·格拉瑟 , M·沃格尔 , N·梅恩
IPC分类号： G01C1/04 , G01C15/00
CPC分类号： G01C15/002 , G01C1/04
摘要：公开了一种用于将测量仪对准被选目标的方法。该方法包括以下步骤：利用测量仪中的相机捕获图像；通过在测量仪所捕获的图像中识别一个目标点来选择一个目标；根据在所述图像中识别出的目标点计算第一水平和垂直的旋转角；旋转测量仪经过所述第一水平和垂直的旋转角到达中间瞄准线；测量沿所述中间瞄准线到一个点的距离；以及根据所述图像中的目标点以及所述测得的距离，计算第二水平和垂直的旋转角。该方法可以利用计算机软件、硬件、固件或其组合实现。还公开了执行本方法的一种测量仪。

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