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1. 发明公开

CN117581374A 用于光谱仪的坝和滤波器审中-公开
公开(公告)号：CN117581374A
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202280044631.6
申请日：2022-06-23
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： C·普罗科普 , C·M·奥古恩 , T·胡普福尔
IPC分类号： H01L27/146
摘要：本发明涉及一种制造至少一个光学检测器(110)的方法(126)，该光学检测器用于对预定的关注范围λ[roi]内的电磁辐射进行光学检测。该方法(126)包括：a)在电路载体(114)上设置至少一个检测器像素(112)；b)将至少一种流体材料呈至少一条线(122)地分配在电路载体(114)上，使得流体材料线(122)围封至少一个检测器像素(112)、具体是恰好一个检测器像素，并且使得至少一条流体材料线(122)比检测器像素(112)从电路载体(114)延伸得更高；c)使得至少一条流体材料线(122)至少部分地硬化、具体是固化，从而使得该至少一条线产生围封至少一个检测器像素(112)、具体是恰好一个检测器像素的坝(116)；以及d)将至少一个滤波器基板(118)沉积在至少一个坝(116)上，使得滤波器基板(118)粘附地安装到坝(116)，并且覆盖至少一个检测器像素(112)的至少与电路载体(114)相反的一侧。进一步地，本发明涉及一种用于制造至少一个具有至少两个光学检测器(110)的光学检测器系统(120)的方法(124)，涉及一种光学检测器(110)、一种光学检测器系统(120)、以及一种包括至少一个光学检测器系统(120)的光谱感测应用。

2. 发明公开

CN118119837A 多单检测器专用光谱仪审中-公开
公开(公告)号：CN118119837A
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN202280065930.8
申请日：2022-09-30
申请人：特里纳米克斯股份有限公司
发明人： C·普罗科普 , C·M·奥古恩 , S·库尔卡尼
IPC分类号： G01N21/27 , G01N21/31
摘要：披露了一种用于在至少一次基于分类的光谱测量中测量由至少一个测量对象(118)提供的光辐射(112)的光谱测量设备(110)。该光谱测量设备(110)包括：‑至少一个辐射源(116)，该至少一个辐射源被配置用于至少部分地朝向测量对象(118)发射光辐射(112)，其中，该光辐射(112)至少部分地处于基于分类的光谱测量的所关注光谱范围中；‑至少两个光电检测器(120)，其中，每个光电检测器(120)包括至少一个像素(121)，其中，各像素(121)是有源像素(123)或暗化像素(124)，其中，该光谱测量设备(110)包括至少两个有源像素(123)，其中，该光谱测量设备(110)包括至少一个暗化像素(124)，其中，每个有源像素(123)被配置用于根据对有源像素(123)的照射生成至少一个光电检测器信号，其中，这些有源像素(123)中的至少两个被配置用于检测至少部分不同的光谱范围中的光辐射，其中，每个暗化像素(124)被配置用于生成不取决于对该暗化像素(124)的照射的至少一个光电检测器信号；‑至少一个读出设备(139)，该至少一个读出设备被配置用于测量这些光电检测器信号并生成至少一个光谱数据项；以及‑至少一个评估设备(140)，该至少一个评估设备包括至少一个处理器(142)和至少一个存储器存储装置(144)，其中，该存储器存储装置(144)被配置用于存储‑包括一组不同类的至少一个分类模型，其中，每个类涉及至少一个光谱特性，其中，分类模型被配置用于将至少一个输入数据项分类到这些类中；以及‑至少一个传递函数，该至少一个传递函数被配置用于将光谱数据项转变成适用于分类模型的输入数据项。该评估设备(140)被配置用于通过将分类模型和传递函数应用于光谱数据项来生成至少一个测量信息项。

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