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1. 发明公开

CN114502075A 用于X射线管检测器校准的用户界面有权
公开(公告)号：CN114502075A
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202180005698.4
申请日：2021-07-05
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： R·斯特德曼布克 , W·吕腾 , M·西蒙
IPC分类号： A61B6/00 , A61B6/08
摘要：用于支持X射线成像的系统(SYS)和相关方法。该系统(SYS)包括机器学习模块(MLM)，逻辑(LG)，其被配置成计算用于调整X射线成像设备的成像几何构造以实现目标成像几何构造的输出校正信息。调制器(MOD，L‑MOD，H‑MOD，S‑MOD)是被配置成提供用于成像几何构造调整的用户指令的系统。用户指令被基于输出校正信息调制。机器学习模块先前被关于训练数据进行训练，训练数据包括特定用户对先前指令的响应。

2. 发明公开

CN109863424A 对相衬X射线成像和/或暗场X射线成像中的X射线入射条纹图样的X射线探测有权
公开(公告)号：CN109863424A
公开(公告)日：2019-06-07
申请号：CN201880003957.8
申请日：2018-08-13
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： R·斯特德曼布克 , E·勒斯尔 , W·吕腾
IPC分类号： G01T1/20
摘要：在常规的相衬X射线成像系统中，源光栅G0生成照射对象的部分相干线源的阵列以及在该阵列之后的相位光栅G1。该相位光栅的周期性在更远离X射线源的某些情况下自成像，并且在由常规的X射线探测器探测到解调的条纹强度之前由能机械移动的第三吸收分析器光栅G2进行采样。本申请提出使用结构化闪烁体并结合电子信号读出方法直接解调条纹强度，该结构化闪烁体具有与光学探测器层的子像素对齐的多个平板。因此，能够从相衬X射线成像系统中省略能机械移动的第三吸收分析器光栅G2。

3. 发明授权

CN114846359B X射线探测器有权
公开(公告)号：CN114846359B
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202080085614.8
申请日：2020-12-02
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： R·斯特德曼布克 , W·吕腾 , M·西蒙
IPC分类号： G01T1/20
摘要：本发明涉及一种包括两个或更多个闪烁体层的X射线探测器(10)，包括：第一闪烁体层(20)；第二闪烁体层(30)；第一光电二极管阵列(40)；第二光电二极管阵列(50)；以及至少一个发光层(60)。第一闪烁体层被配置为从X射线脉冲中吸收X射线并发射光。第一光电二极管阵列被定位为邻近第一闪烁体层。第一光电二极管阵列被配置为探测由第一闪烁体层发射的光中的至少一些。第二闪烁体层被配置为从X射线脉冲中吸收X射线并发射光。第二光电二极管阵列被定位为邻近第二闪烁体层。第二光电二极管阵列被配置为探测由第二闪烁体层发射的光中的至少一些。至少一个发光层被配置为发射辐射，使得所发射的辐射中的至少一些辐照第一光电二极管阵列并且所发射的辐射中的至少一些辐照第二光电二极管阵列。

4. 发明公开

CN113167912A 混合X射线和光学探测器审中-实审
公开(公告)号：CN113167912A
公开(公告)日：2021-07-23
申请号：CN201980078557.8
申请日：2019-11-21
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： J·W·M·雅各布斯 , R·D·J·H·霍夫欣克 , B·亨德里克斯 , R·F·J·霍尔特辉泽恩 , W·吕腾
IPC分类号： G01T1/16
摘要：本发明涉及一种成像探测器。为了提供具有增强的光学成像能力和简单设计的混合X射线和光学探测器，成像探测器被提供用于捕获光学成像数据和X射线成像数据。所述成像探测器包括基板、光敏传感器、X射线闪烁体和光学部件装置的阵列。所述光敏传感器包括在所述成像探测器上分布的传感器像素。所述X射线闪烁体被配置为将入射X射线辐射的能量转换为光子。每个光学部件装置包括被配置用于朝向所述光敏传感器引导入射光学辐射的至少一个光学部件。所述传感器像素包括光学像素，每个与相应光学部件装置耦合以接收所述入射光学辐射，从而生成所述光学成像数据。所述传感器像素包括X射线像素，其与所述X射线闪烁体耦合以接收转换的光子，从而生成所述X射线成像数据。

5. 发明授权

CN109863424B 对相衬X射线成像和/或暗场X射线成像中的X射线入射条纹图样的X射线探测有权
公开(公告)号：CN109863424B
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201880003957.8
申请日：2018-08-13
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： R·斯特德曼布克 , E·勒斯尔 , W·吕腾
IPC分类号： G01T1/20
摘要：在常规的相衬X射线成像系统中，源光栅G0生成照射对象的部分相干线源的阵列以及在该阵列之后的相位光栅G1。该相位光栅的周期性在更远离X射线源的某些情况下自成像，并且在由常规的X射线探测器探测到解调的条纹强度之前由能机械移动的第三吸收分析器光栅G2进行采样。本申请提出使用结构化闪烁体并结合电子信号读出方法直接解调条纹强度，该结构化闪烁体具有与光学探测器层的子像素对齐的多个平板。因此，能够从相衬X射线成像系统中省略能机械移动的第三吸收分析器光栅G2。

6. 发明公开

CN108430331A 超声波兼容的X射线防散射格栅失效
公开(公告)号：CN108430331A
公开(公告)日：2018-08-21
申请号：CN201680075139.X
申请日：2016-12-15
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： M·西蒙 , W·吕腾 , T·佐尔夫
IPC分类号： A61B6/00 , A61B8/08 , A61B8/00 , G01N29/28 , G21K1/02
CPC分类号： A61B6/4291 , A61B6/4417 , A61B6/502 , A61B6/508 , A61B6/5247 , A61B8/0825 , A61B8/4281 , A61B8/4416 , G01N29/28 , G21K1/02 , G21K1/025
摘要：一种填充有填充材料的防散射装置(ASG)。填充材料(202)具有与人体或动物组织的声阻抗相对应的声阻抗。此外，混合式X射线/超声成像器(IM)包括这样的防散射装置(ASG)。

7. 发明公开

CN107250842A 医学成像探测器有权
公开(公告)号：CN107250842A
公开(公告)日：2017-10-13
申请号：CN201680010838.6
申请日：2016-02-03
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： J·W·M·雅各布斯 , W·吕腾 , M·西蒙
IPC分类号： G01T1/16
摘要：本发明涉及医学成像，并且具体而言涉及医学成像探测器。为了改进和便于信息的收集，例如针对医学诊断，提供了一种医学成像探测器，所述医学成像探测器包括第一传感器布置(12)和第二传感器布置(14)。所述第一传感器布置被配置为提供属于第一成像模态的第一类型的图像数据。所述第二传感器布置被配置为提供属于第二成像模态的第二类型的图像数据。所述第一成像模态是X射线成像模态，而所述第二成像模态是非X射线成像模态。所述第一传感器布置包括一个或多个第一传感器分段(16)，所述一个或多个第一传感器分段被布置在定义第一成像区(20)的第一周线(18)内。所述第二传感器布置包括一个或多个第而传感器分段(22)，所述一个或多个第二传感器分段被布置在定义第二成像区(26)的第二周线(24)内。所述第一成像区和所述第二成像区至少部分地交叠。

8. 发明授权

CN114502075B 用于X射线管检测器校准的用户界面有权
公开(公告)号：CN114502075B
公开(公告)日：2023-02-24
申请号：CN202180005698.4
申请日：2021-07-05
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： R·斯特德曼布克 , W·吕腾 , M·西蒙
IPC分类号： A61B6/00 , A61B6/08
摘要：用于支持X射线成像的系统(SYS)和相关方法。该系统(SYS)包括机器学习模块(MLM)，逻辑(LG)，其被配置成计算用于调整X射线成像设备的成像几何构造以实现目标成像几何构造的输出校正信息。调制器(MOD，L‑MOD，H‑MOD，S‑MOD)是被配置成提供用于成像几何构造调整的用户指令的系统。用户指令被基于输出校正信息调制。机器学习模块先前被关于训练数据进行训练，训练数据包括特定用户对先前指令的响应。

9. 发明授权

CN108291974B 辐射探测器和成像装置有权
公开(公告)号：CN108291974B
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN201680070795.0
申请日：2016-12-02
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： R·斯特德曼布克 , C·里宾 , W·吕腾 , G·福格特米尔
IPC分类号： G01T1/24
摘要：本发明涉及一种辐射探测器，尤其是一种直接转换辐射探测器。为了提供所提供的高电压的简单分布，辐射探测器包括彼此相邻布置的多个探测器模块(10、20)。每个探测器模块包括用于将入射辐射(100)转换成电荷的传感器层(14、24)、沉积在传感器层面向入射辐射(100)的第一表面上的第一电极(15、25)、沉积在传感器层的与第一表面相对的第二表面上的第二电极(16、26)、与第二电极电接触的读出电子器件(12、22)，以及用于承载传感器层和读出电子器件的载体(13、23)。辐射探测器还包括布置在彼此顶部并且在面向入射辐射(100)的一侧覆盖多个探测器模块的导电性导电层(30、32、50)和防散射布置(40)。

10. 发明公开

CN111684311A 用于X射线成像的探测器审中-实审
公开(公告)号：CN111684311A
公开(公告)日：2020-09-18
申请号：CN201880088526.6
申请日：2018-12-31
申请人：皇家飞利浦有限公司
发明人： P·G·范德哈尔 , W·吕腾 , H·施泰因豪泽 , H·斯特格胡伊斯 , O·J·维默斯
IPC分类号： G01T1/20 , G01T1/161
摘要：本发明涉及一种用于X射线成像的系统。系统被解释为将X射线探测器(10)相对于X射线源进行定位(210)，使得X射线源与X射线探测器之间的区域的至少部分是用于容纳对象的检查区域。由处理单元控制(220)X射线源和X射线探测器，以便：在第一成像操作模式中操作(230)；在第二成像操作模式中操作(240)；或者在第一成像模式和第二成像模式中操作(250)；或者在第三成像操作模式中操作(260)。探测器包括第一闪烁体(20)、第二闪烁体(30)、第一传感器阵列(40)以及第二传感器阵列(50)。第一传感器阵列与第一闪烁体相关联。第一传感器阵列包括被配置为探测在第一闪烁体中生成的光学光子的传感器元件阵列。第二传感器阵列与第二闪烁体相关联。第二传感器阵列包括被配置为探测在第二闪烁体中生成的光学光子的传感器元件阵列。第一闪烁体被设置在第二闪烁体上方，使得从X射线源发射的X射线首先遇到第一闪烁体，然后遇到第二闪烁体。第一闪烁体的厚度等于或大于0.6mm。第二闪烁体的厚度等于或大于1.1mm。在第一成像操作模式中，第一闪烁体和第一传感器阵列被配置为提供能用于生成低能量X射线图像的数据。在第二成像操作模式中，第二闪烁体和第二传感器阵列被配置为提供能用于生成高能量X射线图像的数据。在第三成像操作模式中，第一闪烁体、第一传感器阵列、第二闪烁体以及第二传感器阵列被配置为提供能用于生成组合的能量X射线图像的数据。

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