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2. 发明公开

CN115362378A 测试装置、控制设备系统和用于测试的方法审中-实审
公开(公告)号：CN115362378A
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN202180028604.5
申请日：2021-04-08
申请人：罗伯特·博世有限公司
发明人： S·朗格 , A·施密德莱因
IPC分类号： G01R31/28
摘要：提出一种用于对电结构元件（40‑48）和/或印制导线结构（50‑58）进行测试的测试装置（10），其中所述测试装置（10）具有多个测试位置（20‑28），所述测试位置用于分别接纳电结构元件（40‑48）并且/或者分别接纳印制导线结构（50‑58），其中所述测试装置（10）还具有用于选择所述测试位置（20‑28）之一的选择机构，其中所述测试装置（10）具有成行（11‑13）布置的电导线和成列（16‑19）布置的电导线，以用于给布置在所选择的测试位置（20‑28）处的电结构元件（40‑48）和/或布置在所选择的测试位置（20‑28）处的印制导线结构（50‑58）供给交流电压，其中所述测试装置（10）具有Z二极管（30‑38）和信号发生器（50），其中所述Z二极管（30‑38）用于将在相应的测试位置（20‑28）处的相应的电结构元件（40‑48）和/或相应的印制导线结构（50‑58）经由所述Z二极管（30‑38）之一与电导线的排（11‑13）之一电连接起来，其中所述信号发生器（50）被构造用于产生测试信号，所述测试信号具有作为矩形信号和波形信号、尤其是正弦信号的和的电压信号，并且其中所述矩形信号的最大电压至少相应于所选择的测试位置（20‑28）的相应的Z二极管（30‑38）的击穿电压，其特征在于电迁移机构（90），所述电迁移机构用于将直流电压信号加载到所述电结构元件（40‑48）和/或印制导线结构（50‑58）上，以便在所述电结构元件（40‑48）和/或印制导线结构（50‑58）中产生电迁移，其中所述直流电压信号的电压大于所选择的测试位置（20‑28）的相应的Z二极管（30‑38）的击穿电压。

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