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    • 1. 发明公开
    • 用于重新校准微机械传感器的方法和可重新校准的传感器
    • CN112119284A
    • 2020-12-22
    • CN201980032683.X
    • 2019-03-07
    • 罗伯特·博世有限公司
    • M·迈尔T·泽布罗夫斯基W·盖格尔R·哈利柳林A·维斯孔蒂
    • G01D18/00
    • 提供一种用于重新校准传感器的方法,所述传感器具有:微机械的传感器结构,所述微机械的传感器结构具有至少一个可偏转的传感器结构元件(1),所述至少一个可偏转的传感器结构元件用于探测及转换物理输入参量为电的传感器信号;第一电路装置(5),所述第一电路装置用于将限定的电测试激励信号施加到所述传感器结构,这导致所述传感器结构元件(1)的测试偏转;第二电路装置(4),所述第二电路装置用于将所述传感器结构元件(1)的所述测试偏转检测为电传感器响应信号Sel;其中,为所述传感器分配信号处理装置(7),用于基于至少一个预先确定的初始调整值Cal(0)来校正所述传感器信号,如此选择所述初始调整值,使得在限定的传感器激励下,补偿所述传感器信号与期望传感器信号的由制造决定的偏差。根据本发明的用于重新校准传感器的所述方法包括以下步骤:a)将限定的电测试激励信号施加到所述传感器结构上;b)检测所述相应的传感器响应信号Sel(i);c)基于传感器响应信号Sel与调整校正值ΔCal之间的预先确定的关系,求取用于所述至少一个初始调整值Cal(0)的调整校正值ΔCal(i);d)确定用于所述传感器信号的校正的至少一个当前的调整值Cal(i),其中,所述至少一个当前的调整值Cal(i)的所述确定基于至少一个初始调整值Cal(0)和所求取的调整校正值ΔCal(i)进行。根据本发明,所述传感器的信号处理装置设计用于:访问预先确定的所存储的传感器响应信号Sel和用于至少一个初始调整值Cal(0)的调整校正值ΔCal之间的关系;基于所述至少一个初始调整值Cal(0)和所求取的调整校正值ΔCal(i),确定用于校正所述传感器信号的当前的调整值Cal(i)。
    • 2. 发明授权
    • 用于重新校准微机械传感器的方法和可重新校准的传感器
    • CN112119284B
    • 2023-08-04
    • CN201980032683.X
    • 2019-03-07
    • 罗伯特·博世有限公司
    • M·迈尔T·泽布罗夫斯基W·盖格尔R·哈利柳林A·维斯孔蒂
    • G01D18/00
    • 提供一种用于重新校准传感器的方法,所述传感器具有:微机械的传感器结构,所述微机械的传感器结构具有至少一个可偏转的传感器结构元件(1),所述至少一个可偏转的传感器结构元件用于探测及转换物理输入参量为电的传感器信号;第一电路装置(5),所述第一电路装置用于将限定的电测试激励信号施加到所述传感器结构,这导致所述传感器结构元件(1)的测试偏转;第二电路装置(4),所述第二电路装置用于将所述传感器结构元件(1)的所述测试偏转检测为电传感器响应信号Sel;其中,为所述传感器分配信号处理装置(7),用于基于至少一个预先确定的初始调整值Cal(0)来校正所述传感器信号,如此选择所述初始调整值,使得在限定的传感器激励下,补偿所述传感器信号与期望传感器信号的由制造决定的偏差。根据本发明的用于重新校准传感器的所述方法包括以下步骤:a)将限定的电测试激励信号施加到所述传感器结构上;b)检测所述相应的传感器响应信号Sel(i);c)基于传感器响应信号Sel与调整校正值ΔCal之间的预先确定的关系,求取用于所述至少一个初始调整值Cal(0)的调整校正值ΔCal(i);d)确定用于所述传感器信号的校正的至少一个当前的调整值Cal(i),其中,所述至少一个当前的调整值Cal(i)的所述确定基于至少一个初始调整值Cal(0)和所求取的调整校正值ΔCal(i)进行。根据本发明,所述传感器的信号处理装置设计用于:访问预先确定的所存储的传感器响应信号Sel和用于至少一个初始调整值Cal(0)的调整校正值ΔCal之间的关系;基于所述至少一个初始调整值Cal(0)和所求取的调整校正值ΔCal(i),确定用于校正所述传感器信号的当前的调整值Cal(i)。