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    • 1. 发明公开
    • Optical measurement device and probe
    • SONET公司的OPTISCHE MESSVORRICHTUNG
    • EP2620093A1
    • 2013-07-31
    • EP11836283.9
    • 2011-10-25
    • Olympus Corporation
    • SHONO, YukiTAKAOKA, HideyukiITO, Ryosuke
    • A61B1/00G01N21/27
    • G01B9/02091A61B5/0075A61B5/0084G01N21/474G01N2021/4719G01N2021/4742G01N2021/4745
    • An optical measurement apparatus includes: a light source that supplies illumination light having at least one spectral component; an illumination fiber 35 that propagates, to a distal end thereof, light supplied from a proximal end thereof by the light source and illuminates light onto a scattering medium from the distal end; light detection fibers 36 and 37, each of the light detection fibers 36 and 37 outputting, from a proximal end thereof, returned light from the scattering medium, the returned light entering from a distal end thereof, the light detection fibers 36 and 37 having distal end positions different from each other in a longitudinal direction; a detection unit that detects light output from the proximal end of a first light detection fiber and the proximal end of a second light detection fiber; and a measurement unit that measures a property of the scattering medium based on a result of the detection by the detection unit.
    • 光学测量装置包括:光源,其提供具有至少一个光谱分量的照明光; 照明光纤35,其从远端向其远端传播从其近端供给的光,并从远端将光照射到散射介质上; 光检测光纤36和37,每个光检测光纤36和37从其近端输出从散射介质返回的光,从其远端进入的返回光,具有远端的光检测光纤36和37 在纵向上彼此不同的端部位置; 检测单元,其检测从第一光检测光纤的近端输出的光和第二光检测光纤的近端; 以及测量单元,其基于检测单元的检测结果来测量散射介质的特性。
    • 5. 发明公开
    • Vorrichtung zum Prüfen von Bauteilen aud transparentem Material auf Oberflächenfehler und Einschlüsse
    • 一种用于测试部件AUD对于表面缺陷和夹杂物的透明材料。
    • EP0249799A2
    • 1987-12-23
    • EP87107992.7
    • 1987-06-03
    • Battelle-Institut e.V.
    • Schmalfuss, Harald, Dr.Sinsel, FriedelBolz, Reinhold
    • G01N21/88G01M11/02
    • G01M11/0278G01N21/88G01N21/8851G01N21/958G01N2021/4719G01N2021/9511G01N2201/06113G01N2201/065G01N2201/1045
    • Bei einer Vorrichtung zum Prüfen von Bauteilen aus trans­parentem Material auf Oberflächenfehler und Einschlüsse wird das Bauteil (1) mittels eines bewegten Lichtstrahles (7) so abgetastet, daß ein Lichtschnitt des Bauteiles entsteht. Dieser Lichtschnitt wird mittels einer Einrichtung (8) beobachtet, welche geneigt zur Auftreffrichtung des Beleuchtungsstrahles angeordnet ist. Diese Einrichtung enthält ein abbildendes optisches System (9), in dessen Bildebene (10) eine auswechselbare Maske (11) zur Aussonderung des Bildes einer Ebene des Prüflings (1) angeordnet ist. Die Lichtstrahlen, welche diese Maske passieren beaufschlagen einen Empfänger (17), dem eine Anordnung (18) zur Auswertung der Empfängersignale nachgeschaltet ist.
      Mittels einer solchen Vorrichtung lassen sich Oberflä­chenfehler des zu prüfenden Bauteiles feststellen und zwar getrennt nach Vorder- und Rückseite dieses Bau­teiles.
      Um auch anisotropisch streuende Oberflächenfehler, bei­spielsweise Wischer nachweisen zu können ist ein drittes Empfangssystem vorgesehen, welches als Integraloptik ausgebildet ist. Dieses besteht aus mehreren Empfängern die in einer Halbschale angeordnet sind, welche das zu prüfende Bauteil uberspannt.
    • 在用于检查表面缺陷和夹杂物,(1)通过移动光束的装置的部件由透明材料制成的部件的装置(7)被扫描,从而所产生的成分的光截面。 该光部是由相对于照明光束的入射方向倾斜的装置(8)的装置观察到。 此装置包括用于测试样品(1)被布置的平面的图像分离的成像光学系统(9),其在图像平面(10)的可移除掩模(11)。 穿过该掩模的光束照射一个接收器(17),所述装置(18)被连接在接收器信号的评估的下游。 通过这样的装置的方法可以观察到该部件的表面缺陷进行检查和分离成前部和该组件的后侧。 为了能够也各向异性散射检测表面缺陷,例如,提供了第三刮水接收系统,其形成为一体的光学器件。 这包括多个接收器被布置在一个半壳,其中所跨越的部件进行测试的。
    • 9. 发明公开
    • Droplet size measuring apparatus
    • MesserätfürTröpfchengrösse。
    • EP0239370A2
    • 1987-09-30
    • EP87302548.0
    • 1987-03-24
    • KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA
    • Tatsuno, Kyoichi c/o Patent Division
    • G01N15/02G01N21/49
    • G01N15/0211G01N2015/0026G01N2021/4719
    • In the droplet size measuring apparatus of the forward scattering method, particles (6) to be measured in a scattering zone (A) having a predetermined scattering path length (L) are irradiated with parallel laser beams. The irradiated beams are scattered by the particles (6) and the scattering beams are detected by the photodetectors (8-1 - 8-K) arranged at predetermined scattering angles (θ 1 --θ K ). The output of the photodetectors (8-1 -8-K) are input to the arithmetic operating unit (11), thus the intensity distribution I(θ) of the scattered beams is measured. The droplet size distribution n(D) is calculated from the intensity distribution I(θ) using the following equation:
    • 在前向散射法的液滴尺寸测量装置中,用平行激光照射在具有预定散射路径长度(L)的散射区(A)中测量的颗粒(6)。 照射的光束被颗粒(6)散射,并且散射光束由以预定散射角度(θ1SIGARθK)排列的光电检测器(8-1类似于8-K)检测。光电检测器(8-1 类似于8-K)输入到算术运算单元(11),因此测量散射光束的强度分布I(theta)。 使用以下等式从强度分布I(θ)计算液滴尺寸分布n(D):I(θ)= INTEGRAL {I0exp(-I INTEGRAL c(D)n(D)dD。INTEGRAL i(D, theta +θl)n(D)d(D)} dl