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91. 发明专利

JP2004523756A Apparatus and method for disconnection and measurement of movement in the measuring device 有权
公开(公告)号：JP2004523756A
公开(公告)日：2004-08-05
申请号：JP2002572343
申请日：2002-03-08
申请人：ビーコインストルメンツインコーポレイテッド
发明人：アール．マッシー、ジェームズ
IPC分类号： G01B11/00 , G01B5/28 , G01B21/00 , G01B21/30 , G01D5/26 , G01Q10/02 , G01Q10/04 , G01Q30/06 , G01Q30/20 , G01Q60/00 , G01Q70/02 , G01Q90/00 , G01N13/10
CPC分类号： G01Q70/02 , G01B5/28 , G01D5/26 , G01Q10/04 , Y10S977/87 , Y10S977/872
摘要：測定装置（１０４）は第１及び第２直交方向へ移動するように制御される第１アクチュエータステージ（２２０）と、第１アクチュエータステージ（２２０）の付近において第１及び第２直交方向と直交する第３直交方向へ移動するように制御される第２アクチュエータステージ（２２２）とを有する。結合部材（２３０）は第２アクチュエータステージ（２２２）に結合されているとともに、基準構造体（１１１）の第２端部に固定された複数棒連結組立物（２３２）に結合されている。第２アクチュエータステージ（２２２）及び結合部材（２３０）は、連結装置（２３２）を概して第２アクチュエータステージ（２２２）の第１及び第２方向における移動から切り離すように、連結装置（２３２）を第３方向へ移動させる。対物レンズ（５１２）は基準構造体（１１１）の第２端部に固定されており、光源（５１４）及び位置センサ（５１６）の間に配置される。位置センサは第１アクチュエータステージの第１及び第２方向における移動を測定する。

92. 发明专利

JP2004069510A Digital measuring head 有权
公开(公告)号：JP2004069510A
公开(公告)日：2004-03-04
申请号：JP2002229550
申请日：2002-08-07
申请人： Tokyo Seimitsu Co Ltd , 株式会社東京精密
发明人： OGURI MASAAKI
IPC分类号： G01B5/00 , G01B5/28 , G01B7/28 , G01B21/00 , G01D5/38
CPC分类号： G01D5/38 , G01B5/28
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a digital measuring head, capable of measuring a wide range and superior in actuation characteristics and temperature characteristics and in which only a few masters are satisfactory for calibrating specified dimensions.
SOLUTION: The structure of the measuring head of a measuring device for measuring a work W, by bringing a contact 14 into contact with the work W, is constituted of an arm 12 rotation-freely supported on its fulcrum as a center; a finger 13 having the contact 14 at its tip and mounted at a tip part of the arm; and a scale 15 or a reading head 16 provided for a rear end part of the arm 12. By detecting displacements of the contact 14, in contact with the work W by the scale 15 and the reading head 16, the digital measuring head, capable of measuring a wide range and superior in actuation characteristics and temperature characteristics, can be realized. The masters for calibrating specified dimensions are used only in initial adjustments.
COPYRIGHT: (C)2004,JPO

93. 发明专利

JPS5944601A Method for inspecting shape at tip of stylus of stylus type surface roughness tester 失效
标题翻译：用于检查STYLUS型表面粗糙度测试仪的方法
公开(公告)号：JPS5944601A
公开(公告)日：1984-03-13
申请号：JP15520982
申请日：1982-09-08
申请人： Kosaka Kenkyusho:Kk
发明人： KAWABATA FUMIO , MATSUMOTO FUMIO
IPC分类号： G01B5/28 , G01B21/20
CPC分类号： G01B5/28
摘要： PURPOSE:To inspect easily and quickly a stylus by sliding the stylus, which is held mounted to a tester in the same way as in the stage of measurement, in the direction at a right angle to the ridgeline while bringing the same into contact with a stationary knife edge and knowing the shape and radius of curvature at the tip of the stylus. CONSTITUTION:A sharp knife edge 4 of which the radius of curvature at the tip is as small as to be negligible as compared to the radius of curvature at the tip of a stylus is fixed to a measuring base 7 of a surface roughness tester 8. A stylus 9 mounted to an arm 8a is moved beyond a ridgeline 4a in a direction at a right angle thereto in press contact with both slopes of the knife edge. The shape and radius of curvature at the top of the stylus 9 are known in accordance with the magnified recording figure drawn by the device 8. The inspection is thus accomplished easily and quickly in the mounted state.
摘要翻译：目的：通过以与测量阶段相同的方式将测量仪固定在测试仪上的触控笔以与脊线成直角的方向滑动，同时使其与固定的刀刃，并且知道触针尖端的形状和曲率半径。构成：尖头的曲率半径与触笔尖端的曲率半径相比可以忽略的锋利的刀刃4固定在表面粗糙度测定器8的测量基座7上。安装在臂8a上的触针9在刀刃的两个斜面上与其成直角的方向移动超过脊线4a。触针9顶部的形状和曲率半径根据由装置8绘制的放大的记录图形是已知的。因此，检查在安装状态下容易且快速地完成。

94. 发明专利

JP2018197706A 表面性状測定装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018197706A
公开(公告)日：2018-12-13
申请号：JP2017102609
申请日：2017-05-24
申请人：株式会社ミツトヨ
发明人：梶原俊彦 , 濱伸行 , 中山樹 , 金松敏裕 , 本田博臣
IPC分类号： G01B5/00 , G01B5/20 , G01B21/00
CPC分类号： G01D5/342 , G01B5/28
摘要：【課題】簡便かつ安全に測定器の交換作業ができる表面性状測定装置を提供する。【解決手段】測定器70が駆動機構部に対して着脱することで測定器が交換可能になっている。測定器は、ブラケット200を有し、このブラケットには、該測定器の信号送受信および該測定器への給電を行うための第1コネクタ210が設けられている。駆動機構部は、ブラケットが着脱可能に取り付けられる支持フレーム100を有し、この支持フレームには、第1コネクタと電気的に接続される第2コネクタが設けられている。第1コネクタと第2コネクタとが接続されているときには、第1コネクタと第2コネクタとの間で信号送受信が行われるとともに第2コネクタから第1コネクタに給電される。測定器を駆動機構部に着脱するにあたって、第1コネクタと第2コネクタとの挿抜はホットスワップ可能になっている。【選択図】図6

95. 发明专利

JP6428667B2 基準面の位置測定方法审中-公开
公开(公告)号：JP6428667B2
公开(公告)日：2018-11-28
申请号：JP2016024770
申请日：2016-02-12
申请人：トヨタ自動車株式会社
发明人：フェルネンドデルシャン
IPC分类号： G01B5/008
CPC分类号： G01B5/012 , B23Q17/22 , G01B5/008 , G01B5/28 , G01B21/04

96. 发明专利

JP6401780B2 デバイス审中-公开
公开(公告)号：JP6401780B2
公开(公告)日：2018-10-10
申请号：JP2016508067
申请日：2014-03-26
申请人：ユニリーバー・ナームローゼ・ベンノートシヤープ
发明人：フエツシ,ミリアン , ワイア,ステイーヴン・リー
IPC分类号： A61K8/00 , A61Q5/00 , A61K8/42 , A61K8/34 , A61K8/89 , G01N33/50
CPC分类号： G01B21/30 , A45D44/00 , A45D2044/007 , A61B5/448 , B65D35/04 , B65D77/04 , B65D85/70 , G01B5/28

97. 发明专利

JP2018527641A 走行距離及び速度の推定审中-公开
公开(公告)号：JP2018527641A
公开(公告)日：2018-09-20
申请号：JP2017562060
申请日：2017-07-14
申请人：ケンブリッジモバイルテレマティクス,インク. , CAMBRIDGE MOBILE TELEMATICS, INC.
发明人：ブラッドリーウィリアムフランシス , ジロルイスデイビット , バラクリシュナンハリ , パドウスキグレッグ
IPC分类号： G08G1/00
CPC分类号： G07C5/02 , B60G17/016 , B60T8/00 , B60T8/172 , B60T2210/36 , E01C19/22 , E01C19/28 , G01B5/28 , G01H17/00 , G01M17/013 , G01N3/32 , G01N19/00 , G01N29/14 , G01N29/44 , G01N29/46 , G01N2291/0258 , G01P15/00 , G06F7/60 , G06F7/70 , G07C5/00 , G07C5/008 , G07C5/08 , G07C5/0816 , G07C5/085
摘要：車両使用状況を決定する手法は、車両と関連する振動信号を提供するセンサを使用し、その振動信号は、使用状況を推論するために使用される。使用状況は、速度の特定の範囲又は道路のタイプに関連していてもよい移動距離を含むことができる。較正フェーズにおいて、例えばGPS信号に基づいた補助測定を使用して、振動信号と使用状況との間の関係を決定する。監視フェーズでは、決定された関係を使用して振動信号から使用状況を推論する。

98. 发明专利

JP6392395B1 平面度測定方法及びピン高さ調整方法有权
公开(公告)号：JP6392395B1
公开(公告)日：2018-09-19
申请号：JP2017060268
申请日：2017-03-26
申请人：株式会社アドテックエンジニアリング
发明人：金内伸朗
IPC分类号： G01C9/00 , G01B5/28
CPC分类号： G01B5/28 , G01C9/00
摘要：【課題】多数のピンの上端が成す仮想面のような面の平面度を簡便に測定できる実用的な技術を提供する。【解決手段】平坦な上面及び下面を有し均一な厚さの測定板の上に水準器6が取り付けられた測定ユニット4を、多数のピンのうちの隣り合う三本のピンの上に載せた状態で、直交する二つの水平方向における測定板5の傾きを水準器6により測定し、このステップを各三本のピンに対して順次行う。二回目以降のステップでは、それまでに選択されたピンのうちの一本を重ねて選択しつつ全てのピンについて測定板5の傾きを選択する。測定板5の傾きから、上端が最も高い位置にあるピンと上端が最も低い位置にあるピンとの高さの差違が平面度として算出される。【選択図】図2

99. 发明专利

JP2018138894A 表面測定機用検出器有权
公开(公告)号：JP2018138894A
公开(公告)日：2018-09-06
申请号：JP2017033572
申请日：2017-02-24
申请人：株式会社東京精密
发明人：森井秀樹
IPC分类号： G01B5/28 , G01B5/20
CPC分类号： G01B5/20 , G01B5/28
摘要：【課題】任意の調節範囲における高分解能の測定力の調節、及び高い最大測定力を得ることの両立を可能とする表面測定機用検出器を提供する。【解決手段】接触子(34)を先端に備えたアーム(32)、アームを回転可能に支持する回転軸(30)、アームにおける回転軸の接触子と反対の側の位置に、一端(42A)が接続される伝達部(42)と、伝達部の他端(42B)に、一端(44A)が接続され、接触子に付与される測定力を発生させる弾性部(44)、弾性部の他端(44B)に接続され、移動方向へ弾性部の他端の位置を移動させる位置調節部(46)、アームと接続され、伝達部と接触可能な位置に配置される接触部(54)を備えた傾き調節部(50)を備えている。【選択図】図3

100. 发明专利

JP2018133571A インジウムリン基板、インジウムリン基板の検査方法、およびインジウムリン基板の製造方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018133571A
公开(公告)日：2018-08-23
申请号：JP2018027872
申请日：2018-02-20
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：藤原新也 , 樋口恭明
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/304 , H01L21/20 , H01L21/205 , H01L21/02
CPC分类号： G01B5/28 , B24B37/08 , B24B37/10 , B24B37/105 , B24B57/02 , C30B11/00 , C30B25/20 , C30B29/40 , C30B33/00 , G01Q60/24 , H01L21/02008 , H01L21/02013 , H01L21/02016 , H01L21/02024 , H01L21/02392 , H01L21/0243 , H01L21/02461 , H01L29/20 , H01L33/0062
摘要：【課題】基板上に成長させるエピタキシャル膜の均一性を良好にし、該エピタキシャル膜を用いたエピタキシャルウエハのPL特性および電気特性を向上させることのできるインジウムリン基板、ならびに、インジウムリン基板の検査方法、およびインジウムリン基板の製造方法を提供する。【解決手段】インジウムリン基板は、第1の主面および第2の主面を含むインジウムリン基板であって、前記インジウムリン基板の第1の主面の中心における表面粗さRa1、ならびに、前記第1の主面の外縁部から5mm内側に前記外縁部に沿って等間隔に配置される4箇所における表面粗さRa2、Ra3、Ra4およびRa5の平均値m1は0.5nm以下であり、前記表面粗さRa1、Ra2、Ra3、Ra4およびRa5の標準偏差σ1は0.2nm以下である。【選択図】図1

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