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1. 发明专利

JP2017201275A 撮像装置有权
公开(公告)号：JP2017201275A
公开(公告)日：2017-11-09
申请号：JP2016093249
申请日：2016-05-06
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：田中正人 , 齋藤達彦 , 小林亮一
IPC分类号： G01J1/42 , H04N5/225 , H04N5/33 , H04N5/361 , H04N5/369 , G01J1/44
摘要：【課題】撮像素子の温度を高精度に測定することができる撮像装置を提供する。【解決手段】撮像装置1は、撮像信号を撮像クロック信号に同期して出力する撮像素子11と、前記撮像素子11を冷却する冷却部12と、前記撮像素子11の温度を示す温度信号をデジタル信号に変換して該デジタル信号をADクロック信号に同期して出力するAD変換部14と、前記AD変換部14から出力されるデジタル信号の値を一定時間に亘って平均化して得られる平均値に基づいて前記冷却部12の冷却動作を制御する制御部16とを備える。前記撮像クロック信号および前記ADクロック信号それぞれの周期の比が互いに素の数の組で表される。【選択図】図1

2. 发明专利

JP5935518B2 多芯ケーブルおよびその整線方法有权
标题翻译：多芯电缆和导线布置方法
公开(公告)号：JP5935518B2
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：JP2012127022
申请日：2012-06-04
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：田中正人 , 渡邊由將
IPC分类号： H01B11/20 , H01B13/00 , H01B13/016 , H01B7/00
CPC分类号： H02G3/02 , H01R9/038 , H05K13/00 , Y10T156/1062

3. 发明专利

JP2016080659A 光干渉断層画像処理方法审中-公开
标题翻译：光干涉图像图像处理方法
公开(公告)号：JP2016080659A
公开(公告)日：2016-05-16
申请号：JP2014215389
申请日：2014-10-22
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：田中正人
IPC分类号： G01N21/17
摘要：【課題】光干渉断層撮影法により取得した断層画像に含まれるノイズを除去するのに好適な光干渉断層画像処理方法を提供する。【解決手段】本発明の光干渉断層画像処理方法は、光干渉断層撮影法により取得した断層画像を処理する方法であって、(1) 断層画像の深さ方向の強度分布の特徴量を算出する特徴量算出ステップと、(2) 測定対象の表面位置および深達限界位置を算出する位置算出ステップと、(3) 前記特徴量および前記深達限界位置に基づいて、輝度低下がない場合の推定特徴量および推定深達限界位置を求める推定ステップと、(4) 前記特徴量,前記推定特徴量,前記深達限界位置,前記推定深達限界位置および前記表面位置に基づいて、深さ方向の各位置での補正量を算出する補正量算出ステップと、(5) の断層画像の深さ方向の強度分布に前記補正量を加えることで断層画像を補正する加算ステップと、を備える。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供一种适用于消除由光干涉层析成像方法获取的断层图像中包含的噪声的光干涉断层图像处理方法。解决方案：根据本发明的光干涉断层图像处理方法是用于处理通过光干涉断层成像方法获取的断层图像，并且包括：（1）特征量计算步骤，计算断层图像的深度方向的特征量; （2）计算测量对象的表面位置和深度到达极限位置的位置计算步骤; （3）基于特征量和深度到达极限位置，当未减小亮度时，获取估计特征量和估计深度到达极限位置的估计步骤; （4）校正量计算步骤，基于特征量，估计特征量，深度到达极限位置，估计深度到达极限位置和表面位置来计算深度方向上的每个位置处的校正量，以及（5）添加步骤，通过将所述校正量与所述断层图像的深度方向上的强度分布相加来校正所述断层图像。选择图：图2

4. 发明专利

JP5772783B2 光断層画像取得装置有权
标题翻译：光学断层图像获得装置
公开(公告)号：JP5772783B2
公开(公告)日：2015-09-02
申请号：JP2012229996
申请日：2012-10-17
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：田中正人 , 祖川伊知郎
IPC分类号： G01N21/17
CPC分类号： G01B9/0207 , G01B9/0203 , G01B9/02044 , G01B9/02091 , G01N21/4795 , A61B5/0066

5. 发明专利

JP5949360B2 多心ケーブル有权
标题翻译：多导体电缆
公开(公告)号：JP5949360B2
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：JP2012199218
申请日：2012-09-11
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：田中正人 , 佐藤和宏 , 林下達則
IPC分类号： H01B11/06 , H01B11/02 , H01B7/17 , H01B11/20
CPC分类号： H01B7/0009 , H01B11/20 , H01B13/02 , H01B7/048

6. 发明专利

JP2016016147A ケーブルおよび超音波カテーテル审中-公开
标题翻译：电缆和超声波导管
公开(公告)号：JP2016016147A
公开(公告)日：2016-02-01
申请号：JP2014141153
申请日：2014-07-09
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：田中正人 , 佐藤和宏 , 林下達則
IPC分类号： H01B11/20 , H01B7/17 , A61B8/12
摘要：【課題】先端の超音波プローブを基端側から駆動する超音波カテーテルに適用可能なケーブルと、該ケーブルを用いて簡単な構成で部品点数を削減し、細径化を可能とした超音波カテーテルを提供する。【解決手段】ケーブル10は、一または複数のコア電線に軸回りの回転力を与える圧延金属が複数層巻き付けられたケーブルである。一構成例では、圧延導体を用いた外部導体13が、中心導体11の周囲に形成された絶縁体12の外側に巻き付けられている。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种可以应用于从基端侧驱动超声波探头的超声波导管的电缆和能够以简单的结构使用电缆减少部件数量的超声波导管，以及减小了直径。解决方案：通过缠绕多个轧制金属层来获得电缆10，以将绕轴旋转的力提供给一个或多个芯线。在一个配置示例中，使用滚动导体的外部导体13缠绕在形成在中心导体11的圆周上的绝缘体12的外部。选择的图示：图1

7. 发明专利

JP2015230168A 光学的測定方法审中-公开
标题翻译：光学测量方法
公开(公告)号：JP2015230168A
公开(公告)日：2015-12-21
申请号：JP2014114694
申请日：2014-06-03
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：上野貴裕 , 長谷川健美 , 平野充遥 , 田中正人 , 外崎省三
IPC分类号： G01N21/17
摘要：【課題】吸収散乱性物質の分布を精度よく求めることができる光学的測定方法を提供する。【解決手段】光学的測定方法は、吸収散乱性物質を含むサンプルに光を照射または伝搬させたときに生じる反射光と参照光とを干渉させて当該干渉光データを波長の関数として検出し、干渉光データを取得するデータ取得ステップと、複数の波長帯における干渉光データから複数の波長帯における光断層画像の構成要素であるラインデータを作成するラインデータ作成ステップと、複数の波長帯におけるそれぞれのラインデータに対して、光の進行方向において空間分解能よりも狭い範囲の領域で反射光量が小さい向きに凸の溝をノイズとして検出し、当該領域において溝の深さを浅くすることによりノイズを低減するノイズ補正ステップと、ノイズを補正されたラインデータに基づいて吸収散乱性物質の分布を求めるデータ処理ステップと、を備える。【選択図】図6
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够以高精度获得吸收性散射物质的分布的光学测量方法。解决方案：光学测量方法包括：数据获取步骤，引导参考光与通过照射产生的反射光之间的干扰包括具有光的吸收性散射物质或允许光在样品中传播的样品，并且检测作为波长的函数的干涉光的数据以获取干涉光数据; 线数据生成步骤，从多个波长带中的干涉光数据生成线数据作为多个波长带中的光学断层图像的结构要素; 噪声校正步骤，在沿着光的行进方向的窄于空间分辨率的区域中朝向较小量的反射光突出的多个波长带中的每个行数据中检测作为噪声的凹槽，并且减少上述区域的凹槽的深度减小噪声; 以及数据处理步骤，基于具有校正噪声的线数据获得吸收性散射物质的分布。

8. 发明专利

JP2015064218A 光学的測定システムおよびその作動方法有权
标题翻译：光学测量系统及其操作方法
公开(公告)号：JP2015064218A
公开(公告)日：2015-04-09
申请号：JP2013196894
申请日：2013-09-24
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：長谷川健美 , 田中正人 , 平野充遥 , 外崎省三 , 上野貴裕
IPC分类号： G01N21/17
CPC分类号： G06T7/0085 , A61B1/00 , G01N21/4795 , G06K9/6267 , G06T7/0012 , G06T7/12 , G01N2021/1787 , G06T2207/10004 , G06T2207/10101 , G06T2207/30024 , G06T2207/30101 , G06T2210/41
摘要：【課題】OCTのスペックルノイズによる誤差の影響を低減することができ測定対象物を高精度に測定することができる光学的測定方法等を提供する。【解決手段】本発明の光学的測定方法は、測定対象物からの後方反射光と参照光とが干渉してなる干渉光のスペクトルを取得し、前記干渉光スペクトルに基づいてOCTにより前記測定対象物の2次元の反射率画像を作成し、前記反射率画像において前記測定対象物の複数の組織それぞれが占める領域および前記複数の組織の間の境界を抽出し、前記領域および前記境界に基づいて解析対象範囲および空間平均化範囲を設定し、前記解析対象範囲および前記空間平均化範囲に基づいて分光OCTにより前記複数の組織それぞれにおける構成成分の濃度分布を計算し、前記領域および計算された前記構成成分の濃度分布に基づいて組織の種類を分類して組織分類画像を生成する。【選択図】図3
摘要翻译：要解决的问题：提供能够减少由于OCT的斑点噪声引起的误差的影响的光学测量方法等，并且能够精确地测量测量对象。解决方案：通过光学测量方法，干涉光谱获取由来自测量对象的反射光和参考光之间的干涉而形成的光，通过OCT根据干涉光谱，区域之间的反射率图像的边界产生测量对象的二维反射图像由测量对象中的多个组织中的每一个占据并且提取多个组织，基于区域和边界设置分析对象范围和空间平均范围，多个组织中的组分的浓度分布为基于分析对象范围和空间平均范围的光谱OCT计算，以及组织的类型基于区域和计算的组分的浓度分布进行分类以产生组织分类图像。

9. 发明专利

JP2020144186A 光接続構造审中-公开
公开(公告)号：JP2020144186A
公开(公告)日：2020-09-10
申请号：JP2019039577
申请日：2019-03-05
申请人：住友電気工業株式会社
发明人：田中正人 , 田澤英久 , 島川修 , 大塚節文
IPC分类号： G02B6/35 , G02B26/08 , G02B27/09 , H01S3/067 , H01S3/10 , G02B6/32
摘要：【課題】端面反射を十分に抑制することができる光接続構造を提供する。【解決手段】光接続構造1Aは、第1空間多重伝送路11と、第2空間多重伝送路12と、第1レンズ機構31と、第2レンズ機構32と、端面21a及び端面21bを有し、第1空間多重伝送路11と第1レンズ機構31との間に配置された第1ビーム径変換部21と、を備え、第1レンズ機構31及び第2レンズ機構32は、互いに光学的に結合され、第1レンズ機構31と第2レンズ機構32との間で平行光を伝搬し、端面21aは、第1空間多重伝送路11と接し、端面21bは、複数のコア41の中心軸に垂直な面に対して傾斜しており、第1ビーム径変換部21は、端面21bにおける光の径が端面21aにおける光の径よりも大きくなるように構成されている。【選択図】図2

10. 发明专利

JP6652346B2 自己発熱型定着ローラ有权
公开(公告)号：JP6652346B2
公开(公告)日：2020-02-19
申请号：JP2015157718
申请日：2015-08-07
申请人：住友電気工業株式会社 , 住友電工ファインポリマー株式会社
发明人：中島晋吾 , 菅原潤 , 木澤一浩 , 池田吉隆 , 田中正人
IPC分类号： G03G15/20

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