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1. 发明专利

JP2021015516A 画像処理装置、画像処理方法、及びプログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2021015516A
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：JP2019130489
申请日：2019-07-12
申请人：株式会社リコー
发明人：植草茂
IPC分类号： G06F13/36 , G06F13/12 , B41J5/30 , G06F13/28
摘要：【課題】電子回路規模の大型化を抑制しつつ、画像データを高速転送すること。【解決手段】開示の技術の一態様に係る画像処理装置は、格納された画像データから生成されたN個の色画像データを外部装置に転送するN−1個以下の転送部と、前記転送部により転送された前記色画像データのデータ量に基づいて、前記転送部が転送する前記色画像データを時系列に切り替える切替制御部と、を備える。【選択図】図2

2. 发明专利

JP2017015597A 集積回路におけるセルフテスト回路およびデータ処理回路审中-公开
标题翻译：自测电路和在集成电路中的数据处理电路
公开(公告)号：JP2017015597A
公开(公告)日：2017-01-19
申请号：JP2015133726
申请日：2015-07-02
申请人：株式会社リコー
发明人：植草茂
IPC分类号： H01L21/822 , H01L27/04 , G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31727 , G01R31/31723 , G01R31/3187
摘要：【課題】回路をテスト動作モードに切り替えずに、回路を駆動するクロック速度を最高速度から落とすことなく、高い故障検出率を維持しながら、回路内の各FFの故障検出が可能な集積回路におけるセルフテスト回路を提供する。【解決手段】1/N周期ずつ位相シフトされた第1位相から第N位相をそれぞれ有する同一周期のN個のクロック信号を含む多相クロック信号によって駆動される集積回路におけるセルフテスト回路10は、パラレル形式の入力テストデータ120をN並列にシリアル変換し、N並列出力される各ビットを、第1位相から第N位相までの各位相に対応するタイミングでシリアル出力信号152として冗長遅延量だけ遅延出力するシリアル化回路6と、4つの位相の各々に対応するタイミングに同期して、シリアル出力信号152を、N並列ビット列として取り込んで論理テストを行う論理テスト回路2と、を具備する。【選択図】図2
摘要翻译：没有电路切换到操作的测试模式中，在不降低时钟速度从最大速度驱动电路，同时保持高的故障覆盖率A，故障检测是可能的集成电路电路中每个FF 以提供自测试电路。自检电路10在分别与所述N个相位同期的N个时钟信号由所述多相位时钟信号包括1 / N周期由相移的第一阶段驱动集成电路，并行格式到串变换成N个并行的120输入测试数据，每个位为N个并行输出端，冗余延迟量作为在对应于所述第一阶段的每个阶段的定时串行输出信号152，直到N个相位延迟用于输出，同步地对应于每个四个阶段的定时，包括一串行输出信号152，逻辑测试电路2用于执行逻辑测试的串联电路6被取为N个并行位序列，使用。 .The

3. 发明专利

JP6881118B2 画像処理装置、駆動制御装置、光源制御装置、画像形成装置、および画像処理方法有权
公开(公告)号：JP6881118B2
公开(公告)日：2021-06-02
申请号：JP2017137334
申请日：2017-07-13
申请人：株式会社リコー
发明人：植草茂
IPC分类号： G03G15/00 , G03G15/04 , B41J2/47 , G02B26/12 , B41J5/30

4. 发明专利

JP2017208739A 画像処理装置、駆動制御装置、光源制御装置、画像形成装置、および画像処理方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017208739A
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：JP2016100837
申请日：2016-05-19
申请人：株式会社リコー
发明人：植草茂 , 藤田勇人 , 岩田宗朗
IPC分类号： H04N1/40 , B41J2/505 , H04N1/409
CPC分类号： H04N1/4092 , H04N1/3935 , H04N1/40068 , H04N2201/0094
摘要：【課題】画像処理の負荷を軽減しつつ、細線化処理により細線が消えてしまう現象を抑制する画像処理装置、駆動制御装置、光源制御装置、画像形成装置、および画像処理方法を提供する。【解決手段】第1解像度から第2解像度の画像データへ変換する解像度変換部を有する解像度変換パスと、イメージマトリクスが、エッジかつ段差の部分を示す第1パターンと一致するかを判定する第1マッチング部と、第1パターンと一致すると判定されたイメージマトリクスの対象画素を、第2解像度の第1画素パターンに置き換える第1変換部と、を有する第1細線化パスと、対象画素が細線構造に含まれる画素であるかを検知する検知部と、第1パターンと一致するかの判定結果、および、細線構造に含まれる画素であるかの検知結果に基づいて、解像度変換パスからの画像データ、または、第1細線化パスからの画像データを選択する選択部と、を備えたことを特徴とする。【選択図】図11

5. 发明专利

JP6828349B2 画像処理装置、画像形成装置および画像処理方法有权
公开(公告)号：JP6828349B2
公开(公告)日：2021-02-10
申请号：JP2016193810
申请日：2016-09-30
申请人：株式会社リコー
发明人：植草茂
IPC分类号： H04N1/387 , G03G15/00 , G03G21/14 , B41J2/47

6. 发明专利

JP6673004B2 画像処理装置、駆動制御装置、光源制御装置、画像形成装置、および画像処理方法有权
公开(公告)号：JP6673004B2
公开(公告)日：2020-03-25
申请号：JP2016100837
申请日：2016-05-19
申请人：株式会社リコー
发明人：植草茂 , 藤田勇人 , 岩田宗朗
IPC分类号： H04N1/40 , B41J2/505 , H04N1/409

7. 发明专利

JP2018052063A 画像処理装置、画像形成装置および画像処理方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018052063A
公开(公告)日：2018-04-05
申请号：JP2016193810
申请日：2016-09-30
申请人：株式会社リコー
发明人：植草茂
IPC分类号： H04N1/409 , G03G15/00 , G03G21/14 , B41J2/47
摘要：【課題】細線化処理により細線が消えてしまうことを抑制可能な画像処理装置、画像形成装置および画像処理方法を提供する。【解決手段】設定部3271は、複数のテストパターンの出力結果に基づいて、細線構造の幅の閾値を設定する。第1の変換部3263は、対象画素が細線化処理の対象である場合、対象画素に対して細線化処理を行い、第1の解像度よりも高い第2の解像度に変換する処理を行い、第2の画像データに変換する。第2の変換部3264は、対象画素に対して解像度変換処理を行って第3の画像データに変換する。検知部3266は、対象画素が、閾値以下の幅を示す細線構造に含まれる画素であるか否かを検知する。選択部3268は、検知部3266により、対象画素が閾値以下の幅を示す細線構造に含まれる画素であると検知された場合は、第3の画像データを選択する一方、閾値以下の幅であると検知されなかった場合は、第2の画像データを選択する。【選択図】図14

8. 发明专利

JP2016065796A 位置検出装置、モータ駆動装置および画像処理装置审中-公开
标题翻译：位置检测装置，电动机驱动装置和图像处理装置
公开(公告)号：JP2016065796A
公开(公告)日：2016-04-28
申请号：JP2014194724
申请日：2014-09-25
申请人：株式会社リコー
发明人：植草茂
IPC分类号： H02P6/08 , G03G21/00 , G01D5/245
摘要：【課題】センサのオフセットを考慮してより高精度に位置検出をすることができる位置検出装置を提供する。【解決手段】ホール素子201、202、203にバイアス電圧を印加する増幅器301が有するスイッチ部301jにより、バイアス電圧を印加する端子Hpと端子Hmとを短絡することができるので、ホール素子201、202、203のバイアス電圧の電位差を確実にゼロにして、ホール素子のオフセットを検出することができる。【選択図】図3
摘要翻译：要解决的问题：提供一种位置检测装置，其可以考虑到传感器的偏移，以更高的精度执行位置检测。解决方案：由于包括在向霍尔元件201,202施加偏置电压的放大器301中的开关部分301j， 203可以使施加偏置电压的端子Hp和端子Hm短路，可以可靠地消除施加到霍尔元件201,202和203的偏置电压之间的电位差，并且可以检测霍尔元件的偏移。选择图：图3

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