会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 9. 发明专利
    • 欠陥検査装置および欠陥検査方法
    • JP2021148557A
    • 2021-09-27
    • JP2020047759
    • 2020-03-18
    • 株式会社メック
    • 布施 正樹
    • G01B11/30G01B11/26G01N21/892
    • 【課題】欠陥の形状を定量的に把握できる欠陥検査装置を提供する。 【解決手段】スリット板に形成されたスリット部の検査対象を搬送する方向に対して直交する方向である幅方向における中央領域を通過する光に合わせてラインセンサの位置を設定したときのラインセンサの出力値である第1出力値と、スリット部の中央領域の外方を通過する光に合わせてラインセンサの位置を設定したときのラインセンサの出力値である第2出力値との比が目標の比となるように設定された欠陥検査装置において、ラインセンサの出力値と検査対象における欠陥部の傾きとの関係を表す傾きデータを記憶する傾きデータ記憶部と、傾きデータを参照することで、ラインセンサの出力値に対応する欠陥の傾きを得る傾き取得部と、傾き取得部によって得られた欠陥の傾きの搬送方向における履歴に基づいて検査対象物の検査対象部位の高さを求める計算部と、を有する。 【選択図】図1