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    • 4. 发明专利
    • 利用磁性以定位光學元件的積體光學晶粒封裝
    • 利用磁性以定位光学组件的积体光学晶粒封装
    • TW202018350A
    • 2020-05-16
    • TW108119747
    • 2019-06-06
    • 美商格芯(美國)集成電路科技有限公司GLOBALFOUNDRIES US INC.
    • 雷馬強仁 庫席克RAMACHANDRAN, KOUSHIK法沙諾 班傑明VFASANO, BENJAMIN V.
    • G02B6/42
    • 本發明提供一種積體光學(Photonic integrated circuit,PIC)封裝,包括一PIC晶粒,其包括電光電路,其中具有一光波導系統及在其一第一表面上的一V形溝槽光纖插座。該V形溝槽光纖插座為了與該光波導系統光學耦接而定位光學元件(如光纖)。光學元件可操作耦接到該光波導系統並定位於該V形溝槽光纖插座中。磁力引致器(Magnetic force inducer,MFI)定位成將該光學元件施力性地引導就位於該V形溝槽光纖插座中,以回應從與該第一表面中的V形溝槽光纖插座相對的方向所施加磁場。在組裝期間,磁場可能施加於該MFI以產生該磁力。在黏附該光學元件之後,該磁場可能保留以允許該PIC封裝更安全移動。該MFI可能與該成品組裝件一起保留並成為其一部分。
    • 本发明提供一种积体光学(Photonic integrated circuit,PIC)封装,包括一PIC晶粒,其包括电光电路,其中具有一光波导系统及在其一第一表面上的一V形沟槽光纤插座。该V形沟槽光纤插座为了与该光波导系统光学耦接而定位光学组件(如光纤)。光学组件可操作耦接到该光波导系统并定位于该V形沟槽光纤插座中。磁力引致器(Magnetic force inducer,MFI)定位成将该光学组件施力性地引导就位于该V形沟槽光纤插座中,以回应从与该第一表面中的V形沟槽光纤插座相对的方向所施加磁场。在组装期间,磁场可能施加于该MFI以产生该磁力。在黏附该光学组件之后,该磁场可能保留以允许该PIC封装更安全移动。该MFI可能与该成品组装件一起保留并成为其一部分。
    • 9. 发明专利
    • 具有一半步級解析度之晶載校正電路及方法
    • 具有一半步级分辨率之晶载校正电路及方法
    • TW202011699A
    • 2020-03-16
    • TW108127917
    • 2019-08-06
    • 美商格芯(美國)集成電路科技有限公司GLOBALFOUNDRIES US INC.
    • 杭特史羅德 艾瑞克HUNT-SCHROEDER, ERIC費爾德 約翰AFIFIELD, JOHN A.
    • H03M1/12
    • 本文揭露的是一種校正電路和方法。該電路包括:DAC,其輸出類比參數並且包括輸出參數調整電路系統;比較器,其接收參考參數和該類比參數;以及控制電路(具有選擇邏輯),其連接至回授迴路中的該比較器和DAC。在校正模式期間,該類比參數的量度在一個方向被調整½ DAC步級,並且使用該回授迴路以實施二元搜尋校正程序。在運作模式期間,該類比參數的該量度在相對方向被調整½ DAC步級。該選擇邏輯選擇由該校正程序所識別的該DAC步級或下一個較高DAC步級作為最終DAC步級。該控制電路輸出對應於該最終DAC步級的最終DAC代碼,並且該DAC基於該最終DAC代碼而產生經校正的參數。
    • 本文揭露的是一种校正电路和方法。该电路包括:DAC,其输出模拟参数并且包括输出参数调整电路系统;比较器,其接收参考参数和该模拟参数;以及控制电路(具有选择逻辑),其连接至回授回路中的该比较器和DAC。在校正模式期间,该模拟参数的量度在一个方向被调整½ DAC步级,并且使用该回授回路以实施二元搜索校正进程。在运作模式期间,该模拟参数的该量度在相对方向被调整½ DAC步级。该选择逻辑选择由该校正进程所识别的该DAC步级或下一个较高DAC步级作为最终DAC步级。该控制电路输出对应于该最终DAC步级的最终DAC代码,并且该DAC基于该最终DAC代码而产生经校正的参数。