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    • 1. 发明专利
    • 記憶體介面的阻抗組態裝置
    • 内存界面的阻抗组态设备
    • TW202030603A
    • 2020-08-16
    • TW109113146
    • 2019-03-20
    • 慧榮科技股份有限公司SILICON MOTION, INC.
    • 宋威良SUNG, WEI-LIANG張啓彬CHANG, CHI-PING
    • G06F9/455G06F12/00
    • 本發明提出一種記憶體介面的阻抗組態裝置,至少包含處理單元,用於將關聯於第一接收器的晶粒內終點的第一阻值設為第一預設阻值;將關聯於第二傳送器的驅動可變電阻的第二阻值設為第二預設阻值;為多個測試組合執行測試,其中,每個組合包含關聯於第一傳送器的驅動可變電阻的第三阻值及關聯於第二接收器的晶粒內終點的第四阻值;以及儲存每個測試組合的測試結果至靜態隨機存取記憶體的特定位置,使得校準主機可從靜態隨機存取記憶體取得每個測試組合的測試結果,並依據測試結果決定記憶體介面的阻抗設定。
    • 本发明提出一种内存界面的阻抗组态设备,至少包含处理单元,用于将关联于第一接收器的晶粒内终点的第一阻值设为第一默认阻值;将关联于第二发送器的驱动可变电阻的第二阻值设为第二默认阻值;为多个测试组合运行测试,其中,每个组合包含关联于第一发送器的驱动可变电阻的第三阻值及关联于第二接收器的晶粒内终点的第四阻值;以及存储每个测试组合的测试结果至静态随机存取内存的特定位置,使得校准主机可从静态随机存取内存取得每个测试组合的测试结果,并依据测试结果决定内存界面的阻抗设置。
    • 3. 发明专利
    • 定位記憶體錯誤發生位置的方法
    • 定位内存错误发生位置的方法
    • TW202022606A
    • 2020-06-16
    • TW107143030
    • 2018-11-30
    • 英業達股份有限公司INVENTEC CORPORATION
    • 陳金CHEN, JIN鮑凱BAO, KAI
    • G06F11/07G06F12/00
    • 本發明提供定位記憶體錯誤發生位置的方法,能精准地定位出記憶體錯誤發生的記憶體插條位置,包括:獲取記錄有記憶體錯誤的記憶體校正錯誤日誌檔,並從中提取記憶體錯誤對應的記憶體位址、MISC寄存器的值及錯誤類型。若通道上所接記憶體插條的數量大於1,則根據記憶體位址、MISC寄存器的值及錯誤類型計算得到記憶體錯誤對應的記憶體的系統位址。根據記憶體的系統位址計算得到記憶體錯誤對應的CPU位置和位於本地代理中的記憶體控制器位置,根據記憶體錯誤對應的記憶體的系統位址、記憶體錯誤對應的CPU位置和位於本地代理中的記憶體控制器位置計算得到記憶體錯誤對應的通道位置和通道位址,根據記憶體錯誤對應的通道位置和通道位址,計算得到記憶體錯誤對應的記憶體插條位置。
    • 本发明提供定位内存错误发生位置的方法,能精准地定位出内存错误发生的内存插条位置,包括:获取记录有内存错误的内存校正错误日志档,并从中提取内存错误对应的内存位址、MISC寄存器的值及错误类型。若信道上所接内存插条的数量大于1,则根据内存位址、MISC寄存器的值及错误类型计算得到内存错误对应的内存的系统位址。根据内存的系统位址计算得到内存错误对应的CPU位置和位于本地代理中的内存控制器位置,根据内存错误对应的内存的系统位址、内存错误对应的CPU位置和位于本地代理中的内存控制器位置计算得到内存错误对应的信道位置和信道位址,根据内存错误对应的信道位置和信道位址,计算得到内存错误对应的内存插条位置。