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    • 6. 发明申请
    • TESTING APPARATUS
    • 测试装置
    • US20140015531A1
    • 2014-01-16
    • US14029803
    • 2013-09-18
    • Industrial Technology Research Institute
    • Chien-Ping WangTzung-Te ChenYen-Liang LiuChun-Fan DaiHan-Kuei FuPei-Ting Chou
    • G01R31/26
    • G01R31/2635
    • The disclosure discloses a light emitting diode testing apparatus, which includes a power supply module, a probe, a control unit and a data acquisition unit. The power supply module provides a first current or a second current to a testing item. The probe measures characteristics of the testing item. The control unit controls the power supply module to provide the first current or the second current. The data acquisition unit acquires the characteristics of the testing item from the probe. The power supply module includes a first current source, at least one second current source and at least one protector. The first current source provides the first current to the testing item. The at least one second current source provides at least one additional current. The at least one protector prevents the first current from feeding back to the at least one second current source.
    • 本发明公开了一种发光二极管测试装置,其包括电源模块,探针,控制单元和数据采集单元。 电源模块向测试项目提供第一电流或第二电流。 探头测量测试项目的特征。 控制单元控制电源模块以提供第一电流或第二电流。 数据采集​​单元从探头获取测试项目的特性。 电源模块包括第一电流源,至少一个第二电流源和至少一个保护器。 第一个电流源将第一个电流提供给测试项目。 至少一个第二电流源提供至少一个附加电流。 该至少一个保护器防止第一电流反馈到至少一个第二电流源。