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    • 9. 发明申请
    • METHOD AND APPARATUS FOR HIGH SENSITIVITY PARTICULATE DETECTION IN INFRARED DETECTOR ASSEMBLIES
    • 用于红外探测器组件中高灵敏度颗粒检测的方法和设备
    • WO2017052744A3
    • 2017-05-04
    • PCT/US2016043758
    • 2016-07-22
    • RAYTHEON CO
    • MARTIN CHADWICK BKREMER REX MTEMKIN JESSE C
    • G01J5/04G01J5/06G01N21/94
    • G01J5/043G01J5/044G01J5/061G01J5/522G01J2005/066G01N21/94G01N2021/157
    • A detector assembly (300, 500) includes a dewar chamber (102, 502) having an aperture (108, 510) and an infrared radiation detector (106, 514). The detector assembly also includes a mirror (304, 400, 410, 504) disposed adjacent the aperture of the dewar chamber, where the mirror has a reflective surface (306, 604) and an emitting region (305, 402, 412, 606) facing the aperture. The infrared radiation detector is configured to detect first radiation and second radiation from the mirror. The first radiation originates from at least one relatively cold surface in the dewar chamber and reflects off the reflective surface of the mirror. The second warm radiation originates from at least one relatively warm surface at or behind the emitting region. The infrared radiation detector is also configured to detect an artifact (322, 712, 722, 802) caused by a particle (110) in the dewar chamber that blocks a portion of the first or second radiation.
    • 检测器组件(300,500)包括具有孔(108,510)和红外辐射检测器(106,514)的杜瓦瓶室(102,502)。 检测器组件还包括设置在杜瓦室的孔附近的反射镜(304,400,410,504),其中反射镜具有反射表面(306,604)和发射区域(305,402,412,606) 面对光圈。 红外辐射检测器被配置为检测来自反射镜的第一辐射和第二辐射。 第一辐射源于杜瓦室中的至少一个相对较冷的表面并且从反射镜的反射表面反射。 第二温暖辐射源自发射区域处或后面的至少一个相对温暖的表面。 红外辐射检测器还被配置为检测由杜瓦室中的颗粒(110)引起的伪影(322,712,722,802),其阻挡第一或第二辐射的一部分。
    • 10. 发明申请
    • VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR SCHIMMELDETEKTION AN BAUSTOFFOBERFLÄCHEN
    • DEVICE AND METHOD FOR建材曲面模具检测
    • WO2017060373A1
    • 2017-04-13
    • PCT/EP2016/073911
    • 2016-10-06
    • FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V.
    • SCHULTE, HenningGRUNA, RobinHOFBAUER, Wolfgang Karl
    • G01N21/64G01N33/38
    • G01N21/6486G01N21/94G01N33/383
    • Die Erfindung betrifft ein Verfahren sowie eine Vorrichtung (100, 500) zum Erfassen und Bestimmen einer Menge von unter Bestrahlung mit ultraviolettem Licht (104, 504) fluoreszierendem Schimmel auf Baustoffoberflächen (101, 501) vor Ort. Die Vorrichtung weist eine Lichtquelle (103, 503) auf, die ausgebildet ist, um ultraviolettes Licht (104, 504) auf einen zu untersuchenden Bereich (102, 502) der Baustoffoberfläche (101, 501) auszusenden. Die Vorrichtung weist ferner einen Lichtempfänger (105, 505) auf, der ausgebildet ist, um Licht (106, 506) von dem zu untersuchenden Bereich (102, 502) zu empfangen. Die Vorrichtung weist außerdem eine Steuereinheit (107, 507) auf, die ausgebildet ist, um das mit dem Lichtempfänger (105, 505) empfangene Licht (106, 506) dahingehend zu überprüfen, ob das empfangene Licht (106, 506) zumindest anteilig fluoresziertes Licht aufweist. Die Steuereinheit (107, 507) ist ausgebildet, um, in dem Fall, dass ein fluoreszierender Lichtanteil erkannt wurde, die Schimmelmenge auf zumindest einem Teil der Baustoffoberfläche (101, 501), auf Grundlage einer zuvor in mindestens einem zu untersuchenden Bereich (102, 502) der Baustoffoberfläche (101, 501) ausgeführten qualitativen Erfassung von Schimmel, quantitativ zu bestimmen.
    • 本发明涉及一种方法和一种用于检测和照射下确定与紫外光(104,504)上的网站建设材料的表面(101,501)的荧光模的量的装置(100,500)。 该装置包括在建筑材料表面(101,501)发射的光源(103,503),其适合于紫外光(104,504)的区域要被检查(102,502)。 该装置还包括一个光接收器(105,505),其适于从所述区域的光检测(106,506)将被测试(102,502)被接收。 该装置还包括接收到的光(106,506)的控制单元(107,507),其适于将所述到光接收器(105,505),以检查作为所接收到的光(106,506)是否至少部分地fluoresziertes 具有光。 所述控制单元(107,507)被适配为,在荧光光分量被检测到的情况下,至少在建筑材料表面(101,501)的一部分的模具数量,一个先前的基础上(在至少一个待检查区域102 以确定502)的建筑材料表面的(101,501执行的模具)定性检测定量。