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1. 发明申请

WO2017178878A1 A FULL TIME-DOMAIN METHOD FOR ANALYZING TWO OR MORE SIGNALS FOR ASSESSING THEM AS ELECTROMAGNETIC INTERFERENCE (EMI) 审中-公开
标题翻译：用于分析两个或更多个信号以评估其作为电磁干扰（EMI）的全时域方法
公开(公告)号：WO2017178878A1
公开(公告)日：2017-10-19
申请号：PCT/IB2017/000408
申请日：2017-04-11
申请人： UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA
发明人： SILVA MARTINEZ, Fernando , AZPURUA AUYANET, Baron Marco Aurelio
IPC分类号： G01R23/167 , G01R29/08 , G01R31/00
CPC分类号： G01R31/001 , G01R23/167 , G01R29/0892
摘要： The method comprising: a) receiving, by an electronic test instrument (102), two or more synchronously acquired time-domain EMI signals; b) processing, by a computing device (103), the two or more measured time-domain EMI signals by means of: performing resolution enhancing and data reduction operations on the time-domain EMI signals; filtering the time- domain EMI signals; equalizing the frequency response of the electronic test instrument (102); applying a window function and combining the time-domain EMI signals, in the time domain; c) performing, by the computing device (103), a non-parametric spectral estimation on said processed signal(s) by applying one or more mathematical functions for obtaining the maximum-hold and the RMS power spectral density of the EMI which are then converted to disturbance voltage measurements complying with specific parameters of the EMI regulations; and correcting errors and performing unit conversion in the time and frequency domain using calibration factors.
摘要翻译：该方法包括：a）通过电子测试仪器（102）接收两个或更多个同步获取的时域EMI信号; b）由计算设备（103）通过以下步骤处理所述两个或更多个测量的时域EMI信号：对所述时域EMI信号执行分辨率增强和数据缩减操作; 过滤时域EMI信号; 均衡电子测试仪器（102）的频率响应; 在时域中应用窗口函数并组合时域EMI信号; c）通过应用用于获得EMI的最大保持和RMS功率谱密度的一个或多个数学函数，由计算设备（103）对所述处理后的信号执行非参数谱估计，然后转换为符合EMI规定的特定参数的干扰电压测量; 并使用校准因子纠正错误并在时间和频率范围内执行单位转换。

2. 发明申请

WO2017101205A1 阵列基板的ESD检测方法审中-公开
公开(公告)号：WO2017101205A1
公开(公告)日：2017-06-22
申请号：PCT/CN2016/072776
申请日：2016-01-29
申请人：武汉华星光电技术有限公司
发明人：李亚锋 , 彭香艺
IPC分类号： G09G3/00
CPC分类号： G01R31/001 , G01R31/08 , G02F1/133345 , G02F1/136204 , G02F1/136286 , G02F1/1368 , G02F2001/136254 , G02F2001/136295 , G02F2202/104 , G09G3/006 , G09G3/3648 , G09G2300/0417
摘要：一种阵列基板的ESD检测方法，通过在阵列基板的第一金属层（11）上引出第一导线（21）并连接至第一测试位点（31）；在阵列基板的第二金属层（12）上引出第二导线（22）并连接至第二测试位点（32）；当阵列基板发生ESD故障时，通过电阻检测装置测量所述第一测试位点（31）与第二测试位点（32）之间的电阻值；若所述第一测试位点（31）与第二测试位点（32）之间的电阻值为正无穷，则所述第一金属层（11）与第二金属层（12）之间未发生ESD；若所述第一测试位点（31）与第二测试位点（32）之间的电阻值在可测范围内，则所述第一金属层（11）与第二金属层（12）之间发生ESD；从而根据所测量的第一测试位点（31）与第二测试位点（32）之间的电阻值检测出阵列基板上发生ESD的位置；可快速准确地检测出阵列基板上发生ESD的位置，省时省力，同时可以节省检测成本。

3. 发明申请

WO2015113153A1 SCANNER SYSTEM AND METHOD FOR HIGH-RESOLUTION SPATIAL SCANNING OF AN ELECTROMAGNETIC FIELD RADIATED BY AN ELECTRONIC DEVICE UNDER TEST 审中-公开
标题翻译：扫描仪系统和方法用于高分辨率空间扫描由电子设备测试的电磁场测试
公开(公告)号：WO2015113153A1
公开(公告)日：2015-08-06
申请号：PCT/CA2015/050060
申请日：2015-01-29
申请人： EMSCAN CORPORATION
发明人： PATTON, Ruska , ZHOU, Yiping , MONTAG, Gil , XUE, Robert
IPC分类号： G01R31/00 , G01R29/08 , G01R23/16
CPC分类号： G01R29/0814 , G01R1/07 , G01R1/073 , G01R23/16 , G01R29/08 , G01R29/0878 , G01R31/00 , G01R31/001
摘要： A scanner system and method operable for high-resolution spatial scanning of an electromagnetic field radiated by an electronic device under test (DUT) are provided. The electromagnetic field level radiated by the DUT is measured with a probe array comprising a plurality of spatially separated switched probes, an analyzer, and a computer. An actuator changes the relative position of the probe array to the DUT by a distance less than or equal to the separation distance between the probes, and the electromagnetic field level is measured and stored again.
摘要翻译：提供了一种用于对由被测电子设备（DUT）辐射的电磁场进行高分辨率空间扫描的扫描仪系统和方法。由DUT辐射的电磁场电平由包括多个空间分离的开关探针，分析器和计算机的探针阵列测量。执行器将探头阵列的相对位置改变到DUT的距离小于或等于探头之间的距离，并且电磁场电平被再次测量和存储。

4. 发明申请

WO2014080610A1 回路基板設計システム、回路基板設計方法及びプログラム記録媒体审中-公开
标题翻译：电路基板设计系统，电路基板设计方法和程序记录介质
公开(公告)号：WO2014080610A1
公开(公告)日：2014-05-30
申请号：PCT/JP2013/006761
申请日：2013-11-18
申请人：日本電気株式会社
发明人：小川　雅寿
IPC分类号： G06F17/50 , G01R29/08 , H05K3/00
CPC分类号： G06F17/5081 , G01R31/001 , G06F17/5036 , G06F17/5068 , G06F2217/82 , H05K1/0228 , H05K1/0243 , H05K3/0005
摘要：　回路基板の基板設計情報を入力する入力手段と、基板設計情報を基に回路基板から発生するＥＭＩ特性を導出するＥＭＩ特性導出手段と、ＥＭＩ特性を導出するためのケーブル長補正特性を格納する記憶手段と、ＥＭＩ特性導出手段によって導出されたＥＭＩ特性を出力する出力手段と、を備え、ＥＭＩ特性導出手段は、基板設計情報を基に回路基板の解析モデルとして簡略化された仮想ケーブルが設けられた簡易解析モデルを作成する解析モデル作成手段と、簡易解析モデルの電磁界解析を行うことによって仮想ケーブルを流れる仮想ケーブル電流を算出する基板解析手段と、仮想ケーブル電流とケーブル長補正特性を用いてケーブルを流れる実ケーブル電流を算出し、実ケーブル電流を用いてケーブルから放射されるＥＭＩ特性を算出するＥＭＩ計算手段と、を有し、半導体部品が実装され、かつケーブルが接続された回路基板を設計する回路基板設計システム。
摘要翻译：一种设计电路基板的电路基板设计系统，其上安装有半导体部件并且连接有电缆，所述设计系统配备有：接收用于电路基板的基板设计信息的输入的输入装置; EMI特征导出装置，其基于衬底设计信息导出从电路衬底产生的EMI特性; 存储装置，用于存储用于导出EMI特性的电缆长度校正特性; 以及输出装置，其输出由EMI特性导出装置导出的EMI特性。此外，EMI特性推导装置具有：分析模型创建装置，用于基于衬底设计信息创建具有简化虚拟电缆的简单分析模型，作为用于电路衬底的分析模型; 基板分析是指通过对简单分析模型进行电磁场分析来计算在虚拟电缆中流动的虚拟电缆电流; 以及使用虚拟电缆电流和电缆长度校正特性来计算在电缆中流动的实际电缆电流的EMI计算装置，并且使用实际电缆电流来计算从电缆辐射的EMI的特性。

5. 发明申请

WO2013133946A1 METHOD FOR IDENTIFYING SELF-GENERATED SPURIOUS SIGNALS 审中-公开
标题翻译：识别自发性SPR信号的方法
公开(公告)号：WO2013133946A1
公开(公告)日：2013-09-12
申请号：PCT/US2013/026052
申请日：2013-02-14
申请人： LITEPOINT CORPORATION
发明人： OLGAARD, Christian Volf , ZHAO, Qiang
IPC分类号： H04B17/00
CPC分类号： G01R31/2841 , G01R31/001
摘要： A local oscillator (LO) of a test system is set to an initial frequency whereupon a device under test (DUT) transmits a radio frequency (RF) signal to the test system. Characteristics of the RF signal are measured with the test system and used to identify magnitudes and frequencies of spurious signal products. The LO of the test system is reset to one or more subsequent frequencies that are offset from the initial frequency. One or more subsequent RF signals are transmitted from the DUT to the test system, with the DUT maintaining its original signal settings. Characteristics of the subsequent RF signals are measured with the test system and used to identify magnitudes and frequencies of spurious signal products for each of the subsequent LO frequencies. The spurious signal products that have shifted in frequency for each of the subsequent LO frequencies as self-generated signal products can then be identified.
摘要翻译：测试系统的本地振荡器（LO）被设置为初始频率，随后被测器件（DUT）向测试系统发送射频（RF）信号。使用测试系统测量RF信号的特性，并用于识别寄生信号产品的幅度和频率。测试系统的LO被重置为偏离初始频率的一个或多个后续频率。一个或多个随后的RF信号从DUT发送到测试系统，DUT保持其原始信号设置。随后的RF信号的特性用测试系统测量，并用于识别每个后续LO频率的杂散信号产物的幅度和频率。随后可以识别随后的每个LO频率在频率上偏移的杂散信号产物作为自发信号产物。

6. 发明申请

WO2013010221A1 SPARK TESTING APPARATUS 审中-公开
标题翻译：火花测试装置
公开(公告)号：WO2013010221A1
公开(公告)日：2013-01-24
申请号：PCT/AU2012/000864
申请日：2012-07-19
申请人： CMTE DEVELOPMENT LIMITED , SHEKHAR, Rajiv Chandra , PROCHON, Edward Gus , PIENAAR, Barend Jacobus , LEVER, Paul John Allen
发明人： SHEKHAR, Rajiv Chandra , PROCHON, Edward Gus , PIENAAR, Barend Jacobus , LEVER, Paul John Allen
IPC分类号： G01R27/30 , H02H1/00 , G06F11/26 , E21F9/00 , F02B77/08 , E21F17/18
CPC分类号： G01R31/001 , G01R19/145
摘要： The invention provides a method and apparatus for electronically testing the safety of sources of energy such as electrical circuits, in explosive atmospheres such as high risk mining situations, using an electronic spark tester (EST) in place of the known mechanical spark test apparatus (STA). The EST typically uses an analogue subsystem (5) and a digital subsystem (6) connected by a digital to analogue converter (7) and an analogue to digital connector (8) to apply a simulated spark load to the energy source and measure the time varying current response to that load.
摘要翻译：本发明提供一种用于电子测试能量源的安全性的方法和装置，例如使用电子火花测试仪（EST）代替已知的机械火花试验装置（STA）在诸如高风险采矿情况的爆炸性环境中的电路）。 EST通常使用由数模转换器（7）和模拟到数字连接器（8）连接的模拟子系统（5）和数字子系统（6），以将模拟的火花负载施加到能量源并测量时间对该负载的电流响应变化。

7. 发明申请

WO2011151613A1 SIGNAL PROCESSING APPARATUSES AND METHODS FOR IDENTIFYING CABLE CONNECTIONS BETWEEN PORTS 审中-公开
标题翻译：用于识别端口之间的电缆连接的信号处理装置和方法
公开(公告)号：WO2011151613A1
公开(公告)日：2011-12-08
申请号：PCT/GB2011/000800
申请日：2011-05-25
申请人： CABLE SENSE LIMITED , PEYTON, Anthony , KELLY, John
发明人： PEYTON, Anthony , KELLY, John
IPC分类号： H04B3/46 , H04M3/22 , H04M3/26
CPC分类号： G01R31/001 , H04B3/487 , H04M3/34
摘要： Apparatuses and methods for analysing at least one characteristic of a test signal coupled out from one of a plurality of cable lines by a coupling unit to determine whether that test signal has propagated directly to the coupling unit via a single cable line or has propagated indirectly to the coupling unit via one or more coupling paths between different cable lines. The determination of whether the test signal has propagated directly to the coupling unit via a single cable line or has propagated indirectly to the coupling unit via one or more coupling paths between different cable lines, may advantageously be used for operational or diagnostic purposes, e.g. to identify interconnections between ports in a network.
摘要翻译：用于分析由耦合单元从多条电缆线中的一条耦合出来的测试信号的至少一个特征的装置和方法，以确定该测试信号是否经由单根电缆线直接传播到耦合单元，或间接传播到耦合单元经由不同电缆线之间的一个或多个耦合路径。测试信号是否经由单个电缆线直接传播到耦合单元或经由不同电缆线之间的一个或多个耦合路径间接传播到耦合单元的确定可有利地用于操作或诊断目的，例如，以识别网络中的端口之间的互连。

8. 发明申请

WO2010140318A1 電子装置、および、雑音電流測定方法审中-公开
标题翻译：电子设备和噪声电流测量方法
公开(公告)号：WO2010140318A1
公开(公告)日：2010-12-09
申请号：PCT/JP2010/003518
申请日：2010-05-26
申请人：株式会社日立製作所 , 中村聡 , 須賀卓 , 植松裕
发明人：中村聡 , 須賀卓 , 植松裕
IPC分类号： H05K9/00 , G01R29/26 , G01R31/00
CPC分类号： G01R31/001 , G01R29/26 , G01R31/281 , H05K1/0215 , H05K1/0234 , H05K1/141 , H05K3/325 , H05K9/0039 , H05K9/0069 , H05K2201/10022 , H05K2201/10409 , H05K2201/2036
摘要：　筐体内において電子部品を搭載した基板に流れる雑音電流を抑制し、電子装置の誤動作を防止する。電子部品を搭載した基板１０３と筐体１０２とが金属スペーサー１０８およびネジ１０４によって固定されている。金属スペーサー１０８と基板１０３の間には絶縁物を基材とした雑音抑制部材１００が配置されている。雑音抑制部材１００の金属スペーサー側には第１の導電膜が形成され、雑音抑制部材１００の基板側には第２の導電膜が形成され、第１の導電膜と第２の導電膜の間には抵抗部材１０１が配置されている。この抵抗部材によって筐体から基板に流れ込む雑音電流を抑制することが出来る。
摘要翻译：通过其上安装有电子部件的基板的噪声电流被抑制在壳体中，以防止电子设备的故障。其上安装有电子部件的基板（103）通过金属间隔件（108）和螺钉（104）固定到壳体（102）。主要由绝缘物质组成的噪声控制构件（100）设置在金属间隔件（108）和基板（103）之间。第一导电膜形成在噪声控制部件（100）的金属间隔件侧上，第二导电膜形成在噪声控制部件（100）的基板侧。电阻构件（101）设置在第一导电膜和第二导电膜之间。可以通过电阻元件来抑制从外壳引入基板的噪声电流。

9. 发明申请

WO2009110786A1 DETECTING AN INTERFERENCE LEVEL IN AN ELECTRICAL MAINS SUPPLY DISTRIBUTION NETWORK 审中-公开
标题翻译：在电力供应分配网络中检测干扰水平
公开(公告)号：WO2009110786A1
公开(公告)日：2009-09-11
申请号：PCT/NL2009/000047
申请日：2009-02-27
申请人： WATERVAL ELECTRO B.V. , WATERVAL, Raymond, Petrus , VERBATEN, Marco
发明人： WATERVAL, Raymond, Petrus , VERBATEN, Marco
IPC分类号： G01R31/00 , G01R31/42 , H02H1/00
CPC分类号： H02H1/0015 , G01R31/001 , G01R31/088 , H02H1/04
摘要： In electrical mains supply interference voltages may occur which are related to poor connections and poorly functioning contacts in switches present in such distribution networks. Such poor contacts and poorly functioning switches may cause heat generation and may ultimately cause fire. The invention provides determination of an interference level in the voltage of a mains supply on the basis of which fire-hazardous situations can be detected and subsequently remedied. A device and a method according to the invention determine this interference level by detecting interference voltages in a specified frequency band, converting the same into interference pulses and determining the interference level on the basis of the number of interference pulses per unit time. The device and method according to the invention can be used for fire protection.
摘要翻译：在电源电源中，可能会发生与这种分配网络中存在的交换机连接不良和接触不良有关的干扰电压。这种接触不良和功能不良的开关可能会导致发热并最终导致火灾。本发明提供了确定电源的电压中的干扰电平，在此基础上可以检测到火灾危险情况并随后进行补救。根据本发明的装置和方法通过检测指定频带中的干扰电压来确定该干扰电平，将其转换为干扰脉冲，并且基于每单位时间的干扰脉冲数来确定干扰电平。根据本发明的装置和方法可用于防火。

10. 发明申请

WO2008114169A1 CONTACTLESS TRANSMISSION ELEMENT AND METHOD OF CHARACTERIZING THE SAME 审中-公开
标题翻译：无连接传输元件及其特征的方法
公开(公告)号：WO2008114169A1
公开(公告)日：2008-09-25
申请号：PCT/IB2008/050897
申请日：2008-03-12
申请人： NXP B.V. , GRUBER, Bernhard , MORGENROTH, Dirk , SCHWAR, Christian
发明人： GRUBER, Bernhard , MORGENROTH, Dirk , SCHWAR, Christian
IPC分类号： G06K7/00 , G01R1/00 , G01R31/302
CPC分类号： G06K7/0008 , G01R31/001 , G06K7/0095 , G06K7/10465
摘要： A method of characterizing a contactless transmission element (100) is provided, wherein the method comprises sampling a first value of a first physical parameter indicating a property of a contactless transmission element (100), and determining an interference reliability value for the contactless transmission element (100) based on the sampled first value of the first physical parameter. In particular, this interference reliability value may relate to a liability of the contactless transmission element (100) to an external field or to external influences.
摘要翻译：提供一种表征非接触式传输元件（100）的方法，其中该方法包括对表示非接触式传输元件（100）的属性的第一物理参数的第一值进行采样，以及确定非接触传输元件（100）的干扰可靠性值（100）基于所述第一物理参数的所述采样的第一值。特别地，该干扰可靠性值可以涉及非接触式传输元件（100）对外部场的责任或外部影响。

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