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金刚石成膜方法、金刚石成膜装置、程序和金刚石材料

申请号 CN202280047714.0 申请日 2022-06-30 公开(公告)号 CN117751208A 公开(公告)日 2024-03-22
申请人 株式会社迪思科; 国立大学法人长冈技术科学大学; 泽边厚仁; 木村丰; 发明人 泽边厚仁; 木村丰; 会田英雄; 大岛龙司;
摘要 金刚石成膜方法包括:基底层形成工序,通过利用了包含铱的第一原料气体的CVD法形成基底层(22);以及金刚石层形成工序,通过利用了包含 烃 气体的第二原料气体的CVD法在基底层(22)上形成单晶的金刚石层(23)。
权利要求

1.一种金刚石成膜方法,包括如下工序:
基底层形成工序,通过利用了第一原料气体的CVD法形成基底层,该第一原料气体包含选自铱、铂、铑、和钨中的至少一种金属;以及
金刚石层形成工序,通过利用了包含气体的第二原料气体的CVD法在所述基底层上形成单晶的金刚石层。
2.根据权利要求1所述的金刚石成膜方法,其中,在所述基底层形成工序中,通过利用了包含所述金属与键合而成的有机金属化合物的所述第一原料气体的CVD法形成混入了所述碳的所述基底层,
在所述金刚石层形成工序中,以混入到所述基底层的所述碳为核形成所述金刚石层。
3.根据权利要求1或2所述的金刚石成膜方法,其中,包括如下工序:
夹层形成工序,通过利用了所述第一原料气体的CVD法在所述金刚石层上形成夹层;以及
第二金刚石层形成工序,通过利用了所述第二原料气体的CVD法在所述夹层上形成与所述金刚石层即第一金刚石层不同的第二金刚石层,该第二金刚石层形成工序与所述金刚石层形成工序即第一金刚石层形成工序不同。
4.根据权利要求1或2所述的金刚石成膜方法,其中,在所述金刚石层形成工序中,通过在所述第二原料气体中混合所述第一原料气体,在所述金刚石层中混入所述金属。
5.一种金刚石成膜装置,具备:
腔室;
第一原料气体供给部,将包含选自铱、铂、铑、钛和钨中的至少一种金属的第一原料气体供给到所述腔室内;
第二原料气体供给部,将包含烃气体的第二原料气体供给到所述腔室内;
能量供给部,对由所述第一原料气体供给部供给到所述腔室内的所述第一原料气体给予能量而在所述腔室内形成基底层或夹层,对由所述第二原料气体供给部供给到所述腔室内的所述第二原料气体给予能量而在所述基底层上或所述夹层上形成金刚石层。
6.根据权利要求5所述的金刚石成膜装置,其中,所述第一原料气体供给部具备:
收纳部,收纳溶解有所述金属与碳键合而成的有机金属化合物的溶剂;以及气体生成部,通过使收纳于所述收纳部的所述溶剂蒸发来生成所述第一原料气体。
7.一种程序,用于使计算机执行如下步骤:
基底层形成步骤,通过利用了第一原料气体的CVD法形成基底层,该第一原料气体包含选自铱、铂、铑、钛和钨中的至少一种金属;以及
金刚石层形成步骤,通过利用了包含烃气体的第二原料气体的CVD法在所述基底层上形成单晶的金刚石层。
8.一种金刚石材料,具备:
基底层,包含选自铱、铂、铑、钛和钨中的至少一种金属;
第一金刚石层,形成于所述基底层上;
夹层,形成于所述第一金刚石层上,且包含与所述基底层相同的所述金属;以及第二金刚石层,形成于所述夹层上,且与所述第一金刚石层不同。
9.根据权利要求8所述的金刚石材料,其中,所述第一金刚石层和/或所述第二金刚石层以与所述基底层相同的所述金属的成分扩散的状态形成。

说明书全文

金刚石成膜方法、金刚石成膜装置、程序和金刚石材料

技术领域

[0001] 本发明涉及金刚石成膜方法、金刚石成膜装置、程序和金刚石材料。

背景技术

[0002] 例如,专利文献1记载的外延金刚石膜的制造方法包括铱薄膜制造工序、偏压成核处理工序和外延金刚石生长工序。
[0003] 上述铱薄膜制造工序是使用高频溅射法通过外延生长基板上形成铱薄膜的工序。应予说明,在该铱薄膜制造工序中,不仅限于高频溅射法,还已知使用DC(直流)溅射法。
[0004] 上述偏压成核处理工序是通过在成膜的铱基底的表面使用对置电极型直流等离子体发生装置暴露包含离子的等离子体来形成外延金刚石核的工序。
[0005] 上述外延金刚石生长工序是使用多电极型直流等离子体CVD(Chemical Vapor Deposition,化学气相沉积)装置通过CVD法在外延金刚石膜基底基板的偏压成核处理表面生长外延金刚石的工序。
[0006] 现有技术文献
[0007] 专利文献
[0008] 专利文献1:日本特开2007-270272号公报

发明内容

[0009] 在上述专利文献1的构成中,在铱薄膜制造工序中使用高频溅射装置,在偏压成核处理工序中使用对置电极型直流等离子体发生装置,在外延金刚石生长工序中使用多电极型直流等离子体CVD装置。这样,在制造金刚石膜时,需要多种装置或方法,并不简单。
[0010] 本发明是鉴于上述实际情况而完成的,其目的在于提供一种能够更简单地形成金刚石层的金刚石成膜方法、金刚石成膜装置、程序和金刚石材料。
[0011] 为了实现上述目的,本发明的第一观点的金刚石成膜方法包括:基底层形成工序,通过利用了第一原料气体的CVD法形成基底层,该第一原料气体包含选自铱、铂、铑、和钨中的至少一种金属;以及金刚石层形成工序,通过利用了包含气体的第二原料气体的CVD法在上述基底层上形成单晶的金刚石层。
[0012] 为了实现上述目的,本发明的第二观点的金刚石成膜装置具备:腔室;第一原料气体供给部,将包含选自铱、铂、铑、钛和钨中的至少一种金属的第一原料气体供给到上述腔室内;第二原料气体供给部,将包含烃气体的第二原料气体供给到上述腔室内;能量供给部,对由上述第一原料气体供给部供给到上述腔室内的上述第一原料气体给予能量而在上述腔室内形成基底层或夹层,对由上述第二原料气体供给部供给到上述腔室内的上述第二原料气体给予能量而在上述基底层上或上述夹层上形成金刚石层。
[0013] 为了实现上述目的,本发明的第三观点的程序使计算机执行如下步骤:基底层形成步骤,通过利用了第一原料气体的CVD法形成基底层,该第一原料气体包含选自铱、铂、铑、钛和钨中的至少一种金属;以及金刚石层形成步骤,通过利用了包含烃气体的第二原料气体的CVD法在上述基底层上形成单晶的金刚石层。
[0014] 为了实现上述目的,本发明的第四观点的金刚石材料具备:包含选自铱、铂、铑、钛和钨中的至少一种金属的基底层、形成于上述基底层上的第一金刚石层、形成于上述第一金刚石层上且包含与上述基底层相同的上述金属的夹层、以及形成于上述夹层上的与上述第一金刚石层不同的第二金刚石层。
[0015] 根据本发明,能够更简单地形成金刚石层。附图说明
[0016] 图1是本发明的一个实施方式的金刚石成膜装置的概略图。
[0017] 图2A是本发明的一个实施方式的金刚石材料生成前的基板支撑部和基板的概略图。
[0018] 图2B是本发明的一个实施方式的基底层形成工序后的基底层的概略图。
[0019] 图2C是本发明的一个实施方式的金刚石层形成工序后的基底层和金刚石层的概略图。
[0020] 图3A是本发明的变形例的夹层形成工序后的基底层、金刚石层和夹层的概略图。
[0021] 图3B是本发明的变形例的第二次金刚石层形成工序后的基底层、两层金刚石层和夹层的概略图。

具体实施方式

[0022] 参照附图对本发明的金刚石成膜方法、金刚石成膜装置、程序和金刚石材料的一个实施方式进行说明。本实施方式的金刚石成膜装置例如是微波等离子体CVD装置。
[0023] 如图1所示,金刚石成膜装置10具备第一原料气体供给部11、第二原料气体供给部12、载气供给部16、微波供给部13、腔室14、控制部15、吸引部17、基板支撑部19和气体管18。
[0024] 在腔室14内设置有支撑基板21的基板支撑部19。微波供给部13生成微波作为用于促进气体的化学反应的能量,将生成的微波供给到腔室14内。
[0025] 在腔室14形成有气体吸引孔14i和气体排出孔14o。吸引部17经由未图示的气体管与气体排出孔14o连接,在控制部15的控制下吸引腔室14内的混合气体。
[0026] 第一原料气体供给部11经由气体管18与气体吸引孔14i连接。第一原料气体供给部11能够在控制部15的控制下向腔室14内供给第一原料气体G1并控制所供给的第一原料气体G1的流量。第一原料气体G1是以金属为铱(Ir)的有机金属化合物为原料的气体。该铱(Ir)例如为三(乙酰丙)铱(III)(C15H21IrO6)。
[0027] 第一原料气体供给部11具备收纳部11a和气体生成部11b。
[0028] 收纳部11a收纳溶解有三(乙酰丙酮)铱的醇11c。气体生成部11b通过对收纳部11a内的醇11c进行加热使醇11c蒸发而生成第一原料气体G1。例如,该醇11c在小于100℃、例如30℃下蒸发。
[0029] 第二原料气体供给部12经由气体管18与气体吸引孔14i连接。第二原料气体供给部12能够在控制部15的控制下向腔室14内供给第二原料气体G2并控制所供给的第二原料气体G2的流量。第二原料气体G2例如通过用氢(H2)、氩(Ar)、氮(N2)或氦(He)等稀有气体稀释甲烷(CH4)、乙炔(C2H2)等成为源的烃气体而构成。
[0030] 载气供给部16经由气体管18与气体吸引孔14i连接,在控制部15的控制下将载气Gc供给到腔室14内。载气Gc由氢(H2)、氩(Ar)、氮(N2)或氦(He)等稀有气体构成,用于输送第一原料气体G1或第二原料气体G2。
[0031] 控制部15控制第一原料气体供给部11、第二原料气体供给部12、微波供给部13和吸引部17。控制部15具备由CPU(中央处理单元,Central Processing Unit)等构成的处理部15a、以及由ROM(只读存储器,Read Only Memory)和RAM(随机存取存储器Random Access Memory)等构成的存储器15b。存储器15b中预先存储有规定处理部15a的处理步骤的程序PG。处理部15a根据程序PG生成后述的金刚石材料20(参照图2C)。
[0032] 接下来,对生成金刚石材料20的步骤进行说明。金刚石成膜装置10根据程序PG依次进行基底层形成工序(第一工序)和金刚石层形成工序(第二工序)以生成金刚石材料20。
[0033] 首先,在进行基底层形成工序时,如图2A所示,在腔室14内的基板支撑部19上设置基板21。基板21例如是单晶化镁(MgO)、单晶蓝宝石(Al2O3)或(Si)。基板支撑部19内置有未图示的加热器,通过该加热器,基板21的温度由控制部15控制为适于使后述的基底层22和金刚石层23生长的温度。
[0034] 在基底层形成工序中,控制部15经由第一原料气体供给部11向气体管18供给第一原料气体G1,并且经由载气供给部16向气体管18供给载气Gc。由此,将第一原料气体G1和载气Gc混合而成的混合气体供给到腔室14内。此时,停止从第二原料气体供给部12供给第二原料气体G2。控制部15经由微波供给部13将微波供给到腔室14内的包含第一原料气体G1的混合气体。由此,腔室14内的第一原料气体G1被活化而成为等离子体状态,如图2B所示,在基板21上形成以有机金属化合物气化而成的第一原料气体G1为原料的基底层22。基底层22例如由混入了碳的金属、本例中为铱构成。混入到基底层22的碳成为金刚石核。
[0035] 由此,基底层形成工序结束。
[0036] 接下来,在金刚石层形成工序中,控制部15经由第二原料气体供给部12向气体管18供给第二原料气体G2,并且经由载气供给部16向气体管18供给载气Gc。由此,将第二原料气体G2和载气Gc混合而成的混合气体供给到腔室14内。此时,停止从第一原料气体供给部
11供给第一原料气体G1。微波供给部13将微波供给到腔室14内的包含第二原料气体G2的混合气体。由此,腔室14内的第二原料气体G2成为等离子体状态,如图2C所示,在基底层22上形成以基底层22中包含的碳为核并以烃气化而成的第二原料气体G2为原料的单晶的金刚石层23。
[0037] 如上所述,金刚石层形成工序结束。由此,利用一台金刚石成膜装置10通过一种方法即CVD法生成具有基底层22和金刚石层23的金刚石材料20。
[0038] 根据以上说明的一个实施方式,起到以下的效果。
[0039] (1)金刚石成膜方法包括:基底层形成工序,通过利用包含作为金属的铱的第一原料气体G1的CVD法在基板21上形成基底层22;以及金刚石层形成工序,通过利用包含烃气体的第二原料气体G2的CVD法在基底层22上形成单晶的金刚石层23。
[0040] 根据该构成,能够通过CVD法形成基底层22和金刚石层23两者。因此,不需要如专利文献1的构成那样的多种装置,能够利用一种CVD装置、即金刚石成膜装置10在基板21上简单地形成基底层22和金刚石层23。
[0041] (2)在基底层形成工序中,通过利用包含铱与碳键合而成的有机铱化合物的第一原料气体G1的CVD法在基板21上形成混入了碳的基底层22。在金刚石层形成工序中,以混入到基底层22的碳为核形成金刚石层23。
[0042] 根据该构成,不需要进行在基底层22形成碳的处理,例如偏压增强成核(Bias Enhanced Nucleation:BEN)处理,能够简单且迅速地形成金刚石层23。
[0043] (3)金刚石材料20具有分别通过CVD法形成的基底层22和金刚石层23。
[0044] 根据该构成,能够简单地形成金刚石材料20。
[0045] (4)金刚石成膜装置10具备:腔室14;第一原料气体供给部11,将包含铱的第一原料气体G1供给到腔室14内;第二原料气体供给部12,将包含烃气体的第二原料气体G2供给到腔室14内;以及作为能量供给部的一个例子的微波供给部13,对由第一原料气体供给部11供给到腔室14内的第一原料气体G1给予能量而在设置于腔室14内的基板21上形成基底层22,对由第二原料气体供给部12供给到腔室14内的第二原料气体G2给予能量而在基底层
22上形成金刚石层23。
[0046] 根据该构成,如上所述,能够在基板21上简单地形成基底层22和金刚石层23。
[0047] 另外,当在一个腔室中实现上述专利文献1记载的三种装置的功能时,需要针对每个工序升高和降低腔室内的温度,花费工夫和时间。对于这一点,根据上述构成,由于利用一种CVD装置即可完成,所以能够减小腔室14内的温度控制的调整范围,能够更简单地形成基底层22和金刚石层23。
[0048] (5)第一原料气体供给部11具备:收纳部11a,收纳作为溶解有铱与碳键合而成的作为有机金属化合物的一种的有机铱化合物的溶剂的一个例子的醇11c;以及气体生成部11b,通过使收纳于收纳部11a的醇11c蒸发来生成第一原料气体G1。
[0049] 在有机金属化合物为固体的情况下,为了生成第一原料气体G1,需要在高温下加热该固体物。对于这一点,根据上述构成,由于有机铱化合物溶于醇11c,所以可以通过在低温下使醇11c来生成第一原料气体G1。因此,能够采用加热温度为低温的加热器作为气体生成部11b,因此能够简化金刚石成膜装置10的构成。
[0050] (6)使作为计算机的一个例子的控制部15执行如下步骤:基底层形成步骤,通过利用包含作为金属的铱的第一原料气体G1的CVD法在基板21上形成基底层22;以及金刚石层形成步骤,通过利用包含烃气体的第二原料气体G2的CVD法在基底层22上形成单晶的金刚石层23。
[0051] 根据该构成,能够简单地形成基底层22和金刚石层23。
[0052] 应予说明,本发明不受以上实施方式和附图的限定。在不改变本发明的主旨的范围内,可以适当地进行变更(也包括构成要素的删除)。以下,对变形的一个例子进行说明。
[0053] (变形例)
[0054] 在上述实施方式中,金刚石成膜装置10是微波等离子体CVD,但不限于此,也可以是直流(DC)等离子体CVD、高频(RF)等离子体CVD或高密度等离子体CVD等其他等离子体CVD。此外,金刚石成膜装置10不限于等离子体CVD,也可以是热CVD或光CVD等其他CVD装置。
[0055] 金刚石成膜装置10可以在上述实施方式的基底层形成工序(第一工序)和第一次金刚石层形成工序(第二工序)之后进行夹层形成工序(第三工序)和第二次金刚石层形成工序(第四工序)。
[0056] 例如,金刚石成膜装置10在夹层形成工序中,与上述的基底层形成工序同样地通过利用第一原料气体G1的CVD法,如图3A所示在金刚石层23上形成夹层24。夹层24与基底层22同样例如由混入了碳的铱构成。夹层形成工序相当于第二次基底层形成工序,夹层24相当于第二层基底层。
[0057] 金刚石成膜装置10在夹层形成工序之后,与第二工序同样地通过利用第二原料气体G2的CVD法进行第二次金刚石层形成工序(第四工序)。由此,如图3B所示,在夹层24上形成金刚石层25。由此,生成金刚石材料20A。金刚石材料20A具有基底层22、作为第一金刚石层的一个例子的金刚石层23、夹层24和作为第二金刚石层的一个例子的金刚石层25。
[0058] 应予说明,图3B所示的金刚石材料20A具有两层金刚石层23、25,但不限于此,也可以具有三层以上的金刚石层,在各金刚石层之间形成夹层。
[0059] 根据以上说明的变形例,起到以下的效果。
[0060] 金刚石成膜方法包括:夹层形成工序,通过利用包含选择铱作为金属的有机铱化合物的第一原料气体G1的CVD法在作为第一金刚石层的一个例子的金刚石层23上形成由金属构成的夹层24;以及第二金刚石层形成工序,通过利用包含烃气体的第二原料气体G2的CVD法在夹层24上形成与金刚石层23不同的作为第二金刚石层的一个例子的金刚石层25,该第二金刚石层形成工序与作为第一次金刚石层形成工序的第一金刚石层形成工序不同。
[0061] 假设在较厚地形成一层金刚石层的情况下,有该金刚石层的应变变大的险。因此,如上述构成那样,通过在金刚石层23、25之间夹着夹层24,可以期待减小金刚石层23、25的应变。另外,可以期待夹层24补偿金刚石层23、25的晶体缺陷。进而,金刚石材料20A可以利用一种CVD装置、即金刚石成膜装置10简单地形成。
[0062] 在上述实施方式或变形例中,第一原料气体G1是以金属为铱的有机铱化合物为原料的气体,但不限于此,也可以是以金属为铱以外的铂、铑、钛或钨的有机金属化合物为原料的气体。在这种情况下,基底层22或夹层24包含铂、铑、钛、钨中的任一种金属和碳。
[0063] 在上述实施方式或上述变形例中,在金刚石层形成工序,停止从第一原料气体供给部11供给第一原料气体G1,但不限于此,也可以供给第一原料气体G1。例如,在第二工序和第四工序中的至少任一个金刚石层形成工序中,将第一原料气体G1、第二原料气体G2和载气Gc混合而成的混合气体供给到腔室14内。通过使包含第一原料气体G1和第二原料气体G2的混合气体成为等离子体状态,形成包含以第一原料气体G1为原料的金属成分的金刚石层23、25。金刚石层23、25中包含的金属成分是与基底层22或夹层24中包含的金属相同的成分。
[0064] 应予说明,包含金属成分的金刚石层23、25也可以不经由夹层24而层叠。在这种情况下,可以形成为各金刚石层23、25中金属成分的含量不同。
[0065] 根据以上说明的变形例,起到以下的效果。
[0066] 在金刚石层形成工序中,通过在第二原料气体G2中混合第一原料气体G1,在金刚石层23、25中混入金属。由此,金刚石层23、25以与基底层22相同的金属成分扩散的状态形成。
[0067] 根据该构成,可以根据使用目的通过混入金属来改变金刚石层23、25的性质、例如电性质或学性质。例如,期待抑制金刚石层23、25的位错等缺陷。
[0068] 另外,通过采用溶解有收纳于收纳部11a的金属的醇11c被气体生成部11b蒸发的构成,期待金属成分均匀地分布在金刚石层23、25中。由此,例如可以使金刚石层23、25成为金属成分以原子平或分子水平扩散的状态。另外,通过调整第一原料气体G1的流量,可以调整金刚石层23、25中的金属成分的分布程度或扩散程度。
[0069] 在金刚石层23、25之间,第一原料气体G1相对于第二原料气体G2的浓度也可以不同。由此,可以调整金属成分的体积在金刚石层23、25整体的体积中所占的比例。另外,也可以仅在两层金刚石层23、25中的任意一层中混入金属而在任意另一层中不混入金属。
[0070] 在上述实施方式中,金刚石成膜装置10在基底层形成工序中形成由混入了碳的金属构成的基底层22,但不限于此,也可以通过利用不包含碳的第一原料气体G1来形成由不混入碳的金属构成的基底层22。在这种情况下,例如也可以通过BEN处理在基底层22形成核。在上述变形例中,同样,也可以形成不混入碳的夹层24,通过BEN处理在夹层24形成核。
[0071] 在上述实施方式中,气体生成部11b采用使溶解有收纳于收纳部11a的有机金属化合物的液体的醇11c蒸发的构成,但不限于此,也可以采用通过加热使固体的有机金属化合物气化的构成。
[0072] 本发明的对象可以是程序PG。在这种情况下,该程序PG可以存储于USB(通用串行总线,Universal Serial Bus)存储器、CD-ROM、DVD(数字多功能盘,Digital Versatile Disc)、HDD(硬盘驱动器,Hard Disk Drive)等计算机可读取的记录介质,也可以经由网络下载到计算机。
[0073] 上述实施方式例如公开了以下附记中记载的技术思想。应予说明,附记1~5不以任何方式限制解释本发明。
[0074] (附记1)一种金刚石成膜方法,通过利用包含烃气体的第二原料气体的CVD法形成单晶的金刚石层,该金刚石成膜方法通过在上述第二原料气体中混合包含选自铱、铂、铑、钛和钨中的至少一种的金属的第一原料气体,在上述金刚石层中混入上述金属。
[0075] 以往,金刚石层中位错等缺陷成为课题,但根据上述构成,期待抑制金刚石层的位错等缺陷。
[0076] (附记2)一种金刚石材料,具有:包含选自铱、铂、铑、钛和钨中的至少一种的金属的基底层、以及形成于上述基底层上的单晶的金刚石层。
[0077] (附记3)根据附记2所述的金刚石材料,其中,上述基底层包含成为上述金刚石层的核的碳。
[0078] (附记4)一种金刚石成膜方法,包括如下工序:夹层形成工序,通过利用了第一原料气体的CVD法在第一金刚石层上形成夹层,该第一原料气体包含选自铱、铂、铑、钛和钨中的至少一种的金属;以及金刚石层形成工序,通过利用包含烃气体的第二原料气体的CVD法在上述夹层上形成与上述第一金刚石层不同的金刚石层即第二金刚石层。
[0079] (附记5)包括如下工序:基底层形成工序,通过利用了第一原料气体的CVD法形成基底层,该第一原料气体包含选自铱、铂、铑、钛和钨中的至少一种的金属;金刚石层形成工序,通过利用包含烃气体的第二原料气体的CVD法在上述基底层上形成单晶的金刚石层;夹层形成工序,通过利用上述第一原料气体的CVD法在上述金刚石层上形成夹层;以及第二金刚石层形成工序,通过利用了上述第二原料气体的CVD法在上述夹层上形成与上述金刚石层即第一金刚石层不同的第二金刚石层;在上述第二金刚石层形成工序中,通过在上述第二原料气体中混合上述第一原料气体,在上述第二金刚石层中混入上述金属。
[0080] 本发明可以在不脱离本发明的广义精神和范围的情况下进行各种实施方式和变形。另外,上述实施方式用于说明本发明,并不限定本发明的范围。即,本发明的范围由请求保护的范围而不是实施方式来表示。而且,在请求保护的范围内和与其同等的发明意义的范围内实施的各种变形被视为本发明的范围内。
[0081] 本申请基于2021年7月9日提交的日本专利申请特愿2021-113975号。将日本专利申请特愿2021-113975号的整个说明书、专利请求保护的范围和附图通过引用并入本文。
[0082] 符号说明
[0083] 10…金刚石成膜装置,11…第一原料气体供给部,11a…收纳部,11b…气体生成部,11c…醇,12…第二原料气体供给部,13…微波供给部,14…腔室,14i…气体吸引孔,14o…气体排出孔,15…控制部,15a…处理部,15b…存储器,16…载气供给部,17…吸引部,
18…气体管,19…基板支撑部,20、20A…金刚石材料,21…基板,22…基底层,23、25…金刚石层,24…夹层,G1…第一原料气体,G2…第二原料气体,Gc…载气,PG…程序