本发明涉及激光刻录技术，特别涉及一种刻录脉冲宽度参数的调整方法及装置。 背景技术
刻录机刻录数据的方式是将普通数据转换成二进制数据，并将其依据8-14调制(EFM， Eight to Fourteen Modulation)方式调变后，将二进制数据刻录成光盘上的岸（Land)与 坑（Pit) 。 EFM调变就是根据DVD规格书的定义将原本8位（1字节）的数据转换为14位，通过 加长数据的长度，使数据更易于使用激光刻录与读取。经过EFM调变后的数据可表示为3T至 11T以及14T，其中T代表刻录1位数据所需的时间长度，最短的坑/岸长度需为3T，最长为 14T。以1倍速读取DVD为例，1T为38. 23ns，以4倍速读取DVD为例，1T则为9. 56 ns 。
图1所示为一组EFM数据及将其刻录到光盘上所形成轨道的示意图。激光头读取光盘数据 时，在坑或者岸上，其反射系数不变，都读成"0"，坑和岸的长度决定"0"的个数。在坑 和岸的交界处，其反射系数发生变化，即坑的前后沿读为"1"。
就可刻录的光盘而言，可分为单次刻录与多次覆写。单次刻录之光盘，如CD-R、 DVD-R ，利用激光加热破坏光盘轨道上染料的物理结构产生坑，而未被破坏的部分则为岸；多次覆 写的光盘，如DVD-RW、 DVD-RAM，则是利用激光控制光盘轨道上的温度使其产生相变，进而 产生虚拟的坑与岸。由于刻录原理的不同，覆写式光盘是以多脉冲(Multi-Pulse)的波形来 刻录资料，而单次刻录的光盘则大多是以非多脉冲（Non-Multi Pulse)波形刻录。
刻录时，准确控制岸与坑的长度对于数据正确性有直接影响，其主要参数包括激光功率 、脉冲宽度以及脉冲波形的控制，规格书将其定义为刻录参数。图2为非多脉冲方式中EFM数 据与刻录脉冲波形的对应示意图。所述刻录脉冲包括前脉冲（Ttop， Top Pulse)、后脉冲 (Tlast， Last Pulse)和底脉冲（Tp)。采用前脉冲和后脉冲刻录数据时的刻录功率较高 ，采用底脉冲刻录数据时的刻录功率较低。这样，在刻录一个坑时，在坑两头采用较高激 光功率，而中间部分因为热传递的原因，只需采用较低功率刻录即可。图2中，T0PRnP和 TLASTnP为刻录参数。TOPRnP用于控制长度为nT的坑的刻录脉冲的前脉冲的上升缘（Front Edge)位置，TLASTnP用于控制长度为nT的坑的刻录脉冲的后脉冲的下降缘（Rear Edge)位 置，3《n《14。
由于各光盘厂的染料配方不尽相同，因此各种光盘的刻录脉冲调整参数皆无法共享。目前，刻录机厂商在刻录机量产前，会针对市面上的光盘人工制作刻录脉冲参数调整的动作， 并将各种光盘的刻录脉冲调整参数储存在刻录机的固件中。当用户放入光盘时，刻录机即可 通过光盘上的识别码，在固件中找到相对应的刻录脉冲调整参数，进而成功刻录该光盘。上 述方法的缺点在于，必须浪费许多的人力与时间成本来调整刻录脉冲调整参数，且当需要更 换不同的光学读取头或控制芯片时，就必须再重新调整全部的刻录脉冲调整参数。此外，若 光盘厂所生产的光盘质量不一致，或遇到尚未内建刻录脉冲调整参数的新光盘时，则所刻录 出来的光盘质量就会很差，甚至于无法成功刻录该光盘。 发明内容
有鉴于此，有必要提供一种刻录脉冲宽度参数的调整方法。 此外，还有必要提供一种刻录脉冲宽度参数的调整装置。
一种刻录脉冲宽度参数的调整方法，刻录脉冲包括前脉冲、后脉冲和位于前脉冲与后脉 冲之间的底脉冲；光盘驱动器中存储有第一脉冲宽度参数初始值、测试数据和第一标准长度 ;所述刻录脉冲宽度参数的调整方法包括如下步骤：
将所述第一脉冲宽度参数初始值转化为多个不同的第一脉冲宽度参数调整值，并分别使 用所述多个不同的第一脉冲宽度参数调整值刻录所述测试数据到光盘上；
分别检测并计算出刻录到所述光盘上的各组测试数据中多个岸的平均长度与所述第一标 准长度的差值，得到多个差值；
将所述多个差值与所述多个不同的第一脉冲宽度参数调整值根据公式Y二aX+b进行一次线 性拟合，得到线性拟合参数a、 b;定义Y为所述差值，X为所述第一脉冲宽度参数调整值；
计算所述第一脉冲宽度参数的最佳值-b/a;
存储所述第一脉冲宽度参数的最佳值-b/a，以利用其对所述光盘进行刻录。 一种刻录脉冲宽度参数的调整装置，刻录脉冲包括前脉冲、后脉冲和位于前脉冲与后脉 冲之间的底脉冲；所述刻录脉冲宽度参数的调整装置包括：
存储单元，用于存储脉冲宽度参数、标准长度及测试数据信息； 控制单元，用于根据获得的脉冲宽度参数信息控制光学读取头的刻录工作； 检测单元，用于检测试刻在光盘上的测试数据的坑和岸的长度信息；
初始参数转换单元，用于将存储在所述存储单元中的脉冲宽度参数初始值转化为多个不 同的脉冲宽度参数调整值；
差值计算模块，用于接收来自所述检测单元的多个岸的长度信息，计算所述多个岸的平 均长度与所述标准长度的差值；线性拟合单元，用于将接收到的多个差值与所述多个不同的脉冲宽度参数调整值根据公 式Y二aX+b进行一次线性拟合，获得线性拟合参数a、 b;定义Y为所述差值，X为所述脉冲宽度 参数调整值；
最佳参数计算单元，用于计算所述脉冲宽度参数的最佳值-b/a。
本发明所述的刻录脉冲宽度参数的调整方法及装置，可针对所放入光盘本身的特性自动 调整出最佳的刻录脉冲宽度参数，如此不仅可以提高盘片的刻录品质，亦可使刻坏光盘的机 率大幅降低。
附图说明
图1为刻录时钟与EFM数据示意图。
图2为非多脉冲方式中EFM数据与刻录脉冲波形的对应示意图。
图3A为实验量测到的岸的Jitter示意图。
图3B为实验量测到的坑的Jitter示意图。
图4A为一次实验量测到的眼孔图样示意图。
图4B为另 一次实验量测到的眼孔图样示意图。
图5为刻录脉冲宽度参数的调整方法的流程图。
图6为 一较佳实施方式的刻录脉冲宽度参数的调整方法的流程图。
图7为一较佳实施方式中调整TLASTnP时的刻录脉冲波形变化示意图。
图8为一较佳实施方式中差值W与TLASTnP的关系图。
图9为一较佳实施方式中调整T0PRnP时的刻录脉冲波形变化示意图。
图10为一较实施方式中差值w与T0PRnP的关系图。
图11为 一较佳实施方式的刻录脉冲宽度参数的调整装置架构图。

在介绍刻录脉冲宽度参数的调整方法之前，首先就相关参数名称加以说明。为方便说明 ，在下文中直接用T表示T时间内激光在光盘上移动的距离。
1.抖动值（Jitter) : Jitter用于量化刻录的坑或岸长度的集中度，其定义为 2. 5T〜3. 5T间所有长度的坑或岸出现次数的标准差。Jitter值越小表示该刻录质量越好。由 于光盘染料的物理特性，以及读取头控制激光脉冲的稳定度，使得刻录到光盘上的坑（ Land)与岸（Pit)长度不可能全部都标准，实际状况会呈现出一种常态分布的情形。如图 3A和图3B所示，其中横轴为量测到的岸与坑的长度，单位为T，纵轴为该长度出现次数r的对 数。如图3中，A点表示3T岸之总次数为1(^2个，B点表示5T坑之总次数为1(^7个，可见，3T坑和岸的数目是最多的。2. 眼孔图样（Eye Pattern):由于刻录到光盘上的激光功率的变化，以及光盘染料对 激光温度的反应各有不同，使得激光头读取各个数据时所产生的振幅也随之不同，若将所有 读取不同长度的坑和岸时产生的波形图连在一起将形成眼孔图样。从眼孔图样的物理意义可 以看出，当刻录的坑/岸长度都非常标准时，如图4A所示，其曲线会非常清晰，表示Jitter 值也非常小；反之，当刻录的坑/岸较杂乱，刻录质量也较差时，如图4B所示，其曲线越模 糊，表示Jitter值越高。3. 刻录脉冲的脉冲宽度参数：其包括前脉冲前缘参数TOPRnP和后脉冲后缘参数 TLASTnP， 3《n《14。每个刻录脉冲都包括前脉冲（Ttop， Top Pulse)、后脉冲（Tlast， Last Pulse)和底脉冲（Tp)。前脉冲前缘参数TOPRnP用于调整长度为nT的坑的刻录脉冲的 前脉冲的上升缘位置。后脉冲后缘参数TLASTnP用于调整长度为nT的坑的刻录脉冲的后脉冲 的下降缘位置。光盘驱动器中都会预先存储有刻录脉冲的脉冲宽度参数、标准长度和至少一组测试数据 信息。该脉冲宽度参数的取值可根据不同光盘驱动器的硬件架构有所不同。 请参阅图5， 一种刻录脉冲宽度参数的调整方法包括以下步骤：步骤S101，将一个脉冲宽度参数的初始值XK)转化为c个不同的脉冲宽度参数调整值Xn、 X12、 . . . Xlc， c为大于l的自然数。其中，将脉冲宽度参数的初始值XK)转化为多个不同的 脉冲宽度参数调整值的转换方法是对初始值Xn)进行增减变换。例如，将脉冲宽度参数初始 值乂1()=0. 1T通过增减变换得到5个调整值：-0. 2T， -0. 1T， 0T， 0. 2T和0. 3T。该刻录脉冲宽度参数可以是前脉冲前缘参数TOPRnP，也可以是后脉冲后缘参数TLASTnP步骤S103，从光盘驱动器中获得测试数据，并分别使用上述c个不同的脉冲宽度参数调 整值Xn、 X12、 . . . Xk刻录测试数据到光盘上。步骤S105，分别检测并计算出刻录到光盘上的测试数据中多个岸的平均长度与预设标准 长度的差值，得到c个差值。其中，检测刻录到光盘上的c组测试数据中多个岸的长度时，仅检测长度在一定范围的 岸的长度，而预设标准长度为对应上述长度范围的标准长度。例如，预设标准长度采用3T的 标准长度时，仅检测长度在0.5T到3.5T范围的岸的长度，而预设标准长度采用4T的标准长 度时，仅检测长度在3.5T到4.5T范围的岸的长度，以此类推。由于在实际刻录中，长度为3T的坑和岸的数目是最多的，因此在较佳实施方式中，预设标准长度采用3T的标准长度，检测时仅检测长度在O. 5T到3. 5T范围的岸的长度。
步骤S107，将步骤S105得到的c个差值与上述c个不同的脉冲宽度参数调整值Xn、 X12、 ...Xk进行一次线性拟合，获得线性拟合参数^、 ln，并求出上述差值为O时，该脉冲宽
度参数的值-tnAn。 -lnAn代表着该脉冲宽度参数的最佳值。
其中，上述线性拟合是根据公式i^^v+ln进行的，定义u为所述差值，v为所述脉冲宽度 参数调整值。
步骤si09，存储该脉冲宽度参数的最佳值-lnAn，以利用其对所述光盘进行刻录。
下面以调整5T坑（即11=5)的刻录脉冲的宽度为例阐述上述调整方法，流程图如图6所示 。其余3T、 4T及6T至14T坑的刻录脉冲的调整方法与5T坑的完全相同。在较佳实施方式中， 考虑到7T以上的坑的刻录脉冲受温度的影响特别小，因此为了减少调整的参数，仅调整
3T〜7T坑的脉冲宽度参数即可，7T以上的坑的脉冲宽度参数只要与7T的相同即可。 设定刻录倍数为2，光盘驱动器中预设有如表l所示的脉冲宽度参数初始值。 表l 2刻录倍数下之脉冲宽度参数初始值
脉冲宽度参数的名称 刻录倍数为2时脉冲宽度参数初始值
T0PR3P -O.05T
T0PR4P…14P 0T
TLAST3P…14P 0T
本较佳实施方式中，刻录脉冲宽度参数的调整方法包括如下步骤：
步骤S202，选择表1中参数TLAST5P的初始值X^0T，以每次的调整幅度为O. 1T增减出5个
TLAST5P的调整值：-0. 1T， 0. 1T， 0. 2T， 0. 3T， 0. 4T。
步骤S204，采用TLAST5P^0. 1T试刻一组随机的EFM测试数据在光盘上。 检测刻录到光盘上的测试数据中长度L符合以下三个条件的岸：0.5T《L《3.5T， 0. 5T《 Tj，p《3. 5T， （n-O. 5) T《Tk，P《（n+0. 5) T。其中，定义Tj，p为长度为L的岸之后的坑的长度 ，定义Tk，p为长度为L的岸之前的坑的长度。由于本较佳实施方式是以调整5T坑（即!!=5)的 刻录脉冲的宽度为例说明的，因此上面的第三个条件中，4.5T《Tk，p《5.5T。 计算出所有符合条件的岸的平均长度与3T的标准长度的差值。
然后，分别采用其余四个TLAST5P调整值（0. 1T， 0. 2T， 0. 3T和0. 4T)试刻随机的EFM测 试数据在光盘上，并分别按照上述方法计算出符合条件的岸的平均长度与3T的标准长度的差 值，得到四个差值。图7所示为采用TLAST5P4.4T的刻录脉冲的变化情况示意图。
步骤S206，根据上述步骤可以得到五组TLAST5P调整值与对应差值的组合，根据上述组合和公式W二a2Z+b2作一次线性拟合，得到线性拟合参数a2、 b2，并求出W为0时，Z的值-b2/a2 ，如图9所示。定义W为得到的差值，Z为TLAST5P的调整值，则值-b2/a2代表着TLAST5P的最佳值。
步骤S208，采用步骤S206处得到的参数TLAST5P的最佳值-b2/a2在光盘上刻录测试数据 ，检测刻录的数据的刻录品质是否符合要求。如果符合，执行步骤S210，否则跳到步骤 S202，以不同的调整幅度增减出多个TLAST5P的调整值，以重新确定该后脉冲后缘参数的最 佳值。
所述检测刻录品质是否符合要求可通过检测刻录之数据的Jitter值和奇偶校验 PI/PO (Parity Inner/Parity Outer)来确定，Jitter和PI/PO检测都是DVD规格书规定的检测 项目，不再赘述。
步骤S210，选择表1中T0PR5P的初始值X^0T，以每次的调整幅度为O. 1T增减出5个调整 值：-0. 1T， 0. 1T， 0.2T， 0.3T， 0. 4T。
步骤S212，分别采用上述5个调整值试刻随机的EFM测试数据在光盘上。
与步骤S204类似地，分别检测并计算出刻录到光盘上的测试数据中符合以下条件的岸的 平均长度与3T的标准长度的差值，得到5个差值：0. 5T《L《3. 5T， 0. 5T《Tj，P《3. 5T，（ n-0.5) T《TK，P《（n+0.5) T。其中，定义Tj，p为长度为L的岸之前的坑的长度，定义TK，p为长 度为L的岸之后的坑的长度。
图9所示为采用T0PR5P4. 4T的刻录脉冲的变化情况示意图。
步骤S214，根据步骤S212可以得到五组T0PR5P值与对应差值的组合，根据上述组合和公 式^a3Z+b3作一次线性拟合，得到线性拟合参数a3、 b3，并求出当^0时，z的值-b3/a3。定义 w为得到的差值，z为T0PR5P的调整值，则值-b3/a3代表着T0PR5P的最佳值。
步骤S216，采用步骤S214处得到的T0PR5P的最佳值-b3/a3在光盘上刻录测试数据，检测 刻录的数据的刻录品质是否符合要求。如果符合，执行步骤S218，否则跳到步骤S210，以不 同的调整幅度增减出多个T0PR5P调整值，以重新确定该前脉冲前缘参数的最佳值。
步骤S218，存储得到的后脉冲后缘参数TLAST5P的最佳值和前脉冲前缘参数T0PR5P的最 佳值，以利用其对光盘进行刻录。
流程结束。
本较佳实施方式的步骤S204和步骤S212中，之所以仅检测符合上述条件的岸进行测量是 因为：对应nT坑的刻录脉冲的宽度直接影响该坑前、后的岸的长度，如果该nT坑之前/后的 岸都能达到标准长度的话，其本身的长度必然也会标准，又由于在EFM编码后，烧录到光碟上的数据中长度为3T的坑与岸的数目最多（约为长度为4T的1.2倍以上，请参考图3A和图3B) ，因此如果nT坑之前/后长度为3T的岸的长度能调整到标准长度的话，则其之前/后长度为 4T、 5T等的岸也会跟着趋近于标准长度。在步骤S208后，也可先将参数TLAST5P的最佳值保存起来，在步骤S218中再保存参数 T0PR5P的最佳值。在其它实施方式中，可对3T到14T的坑的所有刻录脉冲进行调整，也可以根据具体情况 只调整部分刻录脉冲的脉冲宽度参数。在另一种实施方式中，可先对前脉冲前缘参数TOPRnP进行调整，然后再对后脉冲后缘参 数TLASTnT进行调整，方法与上述类似，不再赘述。上述刻录脉冲宽度参数的调整方法，可自动调整出刻录脉冲宽度参数的最佳值，从而得 到最佳的刻录脉冲宽度，如此不仅可以提高盘片的刻录品质，亦可使刻坏光盘的机率大幅降 低。如图11所示，刻录脉冲宽度参数的调整装置300包括存储单元302、控制单元304、检测 单元306和初始参数转换单元308、差值计算模块310、线性拟合单元312和最佳参数计算单元 314。存储单元302中存储着脉冲宽度参数、测试数据信息和标准长度信息。存储单元302包括 初始参数存储模块322、最佳参数存储模块324、测试数据存储模块326和标准长度存储模块 328。初始参数存储模块322中存储着脉冲宽度参数的初始值，至少包括后脉冲后缘参数 TLASTnP的初始值和前脉冲前缘参数TOPRnP的初始值中的一个。最佳参数存储模块324用于存 储根据当前光盘100测量得出的脉冲宽度参数的最佳值。测试数据存储模块326中存储有试刻 时使用的测试数据。标准长度存储模块328中存储标准3T或4T或5T的长度。在其它实施方式 中，存储单元302可只包括初始参数存储模块322和测试数据存储模块326，参数存储模块 322中最初存储有脉冲宽度参数初始值，在确定脉冲宽度参数的最佳值后被替换为所述脉冲 宽度参数的最佳，用于在下次刻录新光盘时作为脉冲宽度参数的初始值。控制单元304用于根据其接收到的脉冲宽度参数控制光学读取头200的刻录工作。检测单元306用于检测刻录在光盘上的测试数据的坑和岸的信息。初始参数转换单元308用于将存储在初始参数存储模块322中的脉冲宽度参数初始值转化 为多个不同的脉冲宽度参数调整值。差值计算模块310，用于接收来自检测单元306的多个岸的长度信息，计算上述多个岸的平均长度与标准长度（例如3T的标准长度）的差值，输出到线性拟合单元312。线性拟合单元312用于将接收到的多个差值与多个脉冲宽度参数调整值根据公式 y二a4X+b4进行一次线性拟合，获得线性拟合参数a4、 b4，定义y为上述差值，x为上述脉冲宽 度参数调整值。最佳参数计算单元314用于计算脉冲宽度参数的最佳值，该最佳值等于-b4/a4。 上述刻录脉冲宽度参数的调整装置300，可自动调整出最佳的刻录脉冲宽度参数，如此 不仅可以提高盘片100的刻录品质，亦可使刻坏光盘100的机率大幅降低。