当在诸如光盘的光记录介质上记录数据的时候，在光盘中形成的光道中 形成标记。一个标记被形成为诸如CD-ROM、DVD-ROM等的只读盘的一个 坑。当在相变层中发生相变的时候，在诸如CD-R/RW、DVD-R/RW/RAM等 的可记录盘上形成标记，所述相变层根据温度被改变为结晶的或非结晶的并 覆盖在记录层上。
数据记录方法包括从信号检测来看的标记边缘记录方法和标记位置记录 方法。在标记位置记录方法中，在记录标记的位置，被检测的射频(RF)信号 的幅度从正/负被改变为负/正。在标记边缘记录方法中，在标记的边缘，被检 测的射频(RF)信号的幅度从正/负被改变为负/正。因此准确地记录标记的边缘 以改善再现信号的质量是很重要的。
但是，通过观察按照传统记录方法的覆盖有相变层的盘上记录的标记的 后沿，可以看出标记的形状依赖于标记的长度或在标记之间的距离，即间隔 的距离。换句话说，标记的后沿比前沿宽，这使得记录/再现特性降级。标记 的较长的长度进一步由于热累积使得记录/再现特性降级。
图1A示出了按照传统记录方法的记录波形。参见图1A，存在用于记录 不归零翻转(NRZI)数据的各种记录波形。第一记录波形(a)是针对DVD-RAM 的。记录波形(b)和(c)是针对DVD-RW的。T表示基准时钟信号的周期。按照 标记边缘记录方法，NRZI数据的高电平被利用标记记录，NRZI数据的低电 平被利用间隔记录。用于记录标记的记录波形被称为“记录模式”，用于形成 间隔(消除标记)的记录波形被称为“消除模式”。传统的记录波形(a)、(b)和(c) 每个由多个脉冲构成。每个脉冲的功率电平被控制以具有四个电平之一： Ppeak、Pb1、Pb2和Pb3。如E部分所示，消除模式的功率被保持为一致的预定 DC电平。
由于在传统记录波形中包括的消除模式在预定的时间中被保持在一致的 DC电平，因此大约0-200℃的热被持续施加到相应的区域。因此，如果多次 记录标记，则标记被降级并且其形状变形。结果，记录/再现特性被显著降级。 具体而言，随着用于在盘上记录大量数据的记录密度和线性速度的提高，基 准时钟信号的周期T被减少。结果，当在构成记录波形的脉冲之间的热干扰 提高的时候，记录/再现特性被更大地降级。
图1B和1C示出了在光记录介质上形成的标记的形状。参见图1B和1C， 光记录介质上的光道由凹槽和槽脊构成。为了在光记录介质上记录预定的数 据，在凹槽和槽脊上形成标记或从凹槽和槽脊消除标记。但是，激光束向光 记录介质施加热量以形成或消除标记。这个热量可以引起热电偶接合现象， 其中影响相邻的光道或相邻的标记。图1B图解了通过在容易发生热电偶接合 现象的凹槽和槽脊上形成标记而记录预定数据的方法。图1C图解了仅仅在凹 槽上形成标记的方法，这种方法当前由于很少发生热电偶接合现象而被用于 多数光记录介质。但是，在图1C所示的方法中，也可以由于当形成预定标记 的时候施加了太多的热量而影响预先形成的标记。
不同的记录波形被用于不同种类的盘，即DVD-RAM、DVD-RW等。这 是因为记录层的特性彼此不同。当制造用于在所有种类的盘上记录数据的驱 动器的时候对于不同的盘使用不同的记录波形成为一个问题。这是因为可以 读取所有种类的盘的驱动器应当实现各种记录波形，这增加了成本。

为了解决上述问题，本发明的第一目的是提供一种用于利用记录波形记 录数据的方法和装置，所述记录波形能够防止标记的前沿和后沿变形并防止 由于重复记录导致的降级。
本发明的第二目的是提供一种用于利用记录波形记录数据的方法和装 置，所述记录波形具有能够改善标记的形状的消除模式。
本发明的第三目的是提供一种用于利用记录波形记录数据的方法和装 置，所述记录波形可以适合于具有各种特性的记录层的盘。
本发明的第四目的是提供一种用于根据关于消除脉冲的功率电平的信息 而产生消除波形的方法和装置。
本发明的第五目的是提供一种用于控制预定的消除波形的功率电平以一 致地消除记录标记的方法和装置。
因此，为了实现上述的目的，提供了一种在光记录介质上记录数据的方 法。所产生的是具有消除模式的记录波形，所述消除模式包括具有高于消除 功率电平的高电平和具有低于消除功率电平的低电平的预定脉冲。
所述标记和间隔被按照游程长度受限方案(2，10)而记录。最好利用预定 NRZI的第一电平来记录所述标记，而利用预定NRZI的第二电平来记录所述 间隔。
可以通过在记录介质上记录数据的方法来实现上述目的。其信道被调制 的数字数据被产生。所产生的是具有消除模式的记录波形，所述消除模式包 括具有高于消除功率电平的高电平和具有低于消除功率电平的低电平的预定 脉冲。利用根据电平信息而产生的记录波形，标记被按照数字数据的第一电 平数据而形成，间隔被按照数字数据的第二电平数据而形成。
当产生数字数据的时候，读取记录在光记录介质消除脉冲的电平信息。 而且，当产生记录波形的时候，通过根据电平信息产生的消除脉冲而形成在 所产生的记录波形中包括的消除模式。从用户输入消除脉冲的电平信息。
所述方法是根据(2，10)游程受限方案或(1，7)游程受限方案而执行的。
优选的是，消除模式的第一脉冲的功率电平是消除模式的低电平，并且 消除模式的最后脉冲的功率电平是高电平。优选的是，消除模式的第一脉冲 的功率电平是消除模式的高电平，并且消除模式的最后脉冲的功率电平是高 电平，或者，消除模式的第一脉冲的功率电平是消除模式的低电平，并且消 除模式的最后脉冲的功率电平是低电平，或者，消除模式的第一脉冲的功率 电平是消除模式的高电平，并且消除模式的最后脉冲的功率电平是低电平。
优选的是，多脉冲的高电平持续的时间与多脉冲的低电平持续的时间的 比率是1∶1，并且高电平持续的时间是时钟周期的1/2。
标记是利用预定的NRZI数据的第一电平而形成，间隔是利用NRZI数据 的第二电平而形成。
记录波形包括冷却脉冲，消除模式包括一部分冷却脉冲。如果冷却脉冲 的终点小于或大于从NRZI信号的后沿的0.5T，则构成消除模式的第一脉冲 持续的时间被提高到多于0.5T。
优选的是，构成消除模式的单元脉冲具有高电平和低电平，它们被按照 构成记录波形的第一脉冲持续的时间而被控制。
记录模式包括多脉冲。优选的是，记录模式具有至少两个功率电平。
为了实现上述目的，提供了一种用于在光记录介质上记录数据的装置。 所述装置包括记录波形发生器和拾取单元。记录波形发生器产生具有包括多 脉冲的消除模式的一个记录波形。拾取单元按照所产生的记录波形向光记录 介质进行光照射以形成标记或间隔。
所述装置还包括一个功率信息管理单元，它读取记录在光记录介质上的 消除模式的脉冲电平信息并将它提供到记录波形发生器。记录波形发生器根 据消除模式的电平信息产生具有包括多脉冲的消除模式的记录波形。功率信 息管理单元可以从用户接收消除模式的脉冲电平信息并将其提供到记录波形 发生器。
优选的是，所述装置还包括信道调制器，它调制从外部提供的数据的信 道以产生NRZI数据并向记录波形发生器输出NRZI数据。
优选的是，拾取单元包括电机、光头、伺服电路和激光驱动器。电机转 动光记录介质。光头向光记录介质照射光或接收从光记录介质反射的激光。 伺服电路伺服控制电机和光头。激光驱动器驱动安装在光头上的激光。
附图说明
通过参照附图详细说明本发明的优选实施例，本发明的上述目的和特点 和优点将会变得更加清楚，其中：
图1A是按照传统方法的记录波形的图；
图1B和1C是在光记录介质上形成的标记的形状的图；
图2A和2B是按照本发明的优选实施例的记录装置的方框图；
图3A和3B分别是由在图2A和2B中所示的记录装置实现的示例；
图4A到4C是由记录波形发生器2产生的记录波形的示例；
图5是由记录波形发生器2产生的记录波形的另一个示例；
图6是按照本发明的一个优选实施例的说明四种类型的消除模式的波形 的图；
图7是图6所示的(a)LH的更多的示例；
图8到10是通过模拟记录的标记的形状的图；
图11到15是图解DVD-RAM的特性的图；
图16到20是图解DVD-RW的特性的图；
图21A和21B分别是图解按照AglnSbTe记录层和GeSbTe记录层的温度 的成核和晶体生长率的图；
图22A和22B是按照本发明的优选实施例的记录方法的流程图。

以下，参照附图来详细说明本发明的优选实施例。
图2A和2B是按照本发明的优选实施例的记录装置的方框图。参见图 2A，在光记录介质200上形成标记或间隔以记录数据的记录装置包括拾取单 元1、记录波形发生器2和信道调制器3。
信道调制器3将输入的数据调制为信道比特序列。记录波形发生器2被 提供关于信道比特序列和消除功率Pb1和Pb2的信息，并产生用于记录信道比 特序列的记录波形。所产生的记录波形包括具有消除多脉冲的一个消除模式。 后面将详细说明记录波形。拾取单元1按照所产生的记录波形向光记录介质 200照射光以形成标记和间隔。
参见图2B，在光记录介质200上形成标记或间隔以记录数据的记录装置 包括拾取单元1、记录波形发生器2、信道调制器3和功率信息管理单元4。
信道调制器3将输入的数据调制为信道比特序列。功率信息管理单元4 从光记录介质200读取关于消除功率Pb1和Pb2的信息或从外部接收信息。
记录波形发生器2被提供关于信道比特序列和消除功率Pb1和Pb2的信 息，并根据关于消除功率Pb1和Pb2的信息而产生用于记录信道比特序列的记 录波形。所产生的记录波形包括具有消除多脉冲的一个消除模式。后面将详 细说明记录波形。拾取单元1按照所产生的记录波形向光记录介质200照射 光以形成标记和间隔。
功率信息管理单元4首先根据关于消除功率Pb1和Pb2的信息以在预定范 围(如±20％的范围)内预定值的间距(如电平值的3-4％的值)在光记录介质200 的测试区域中执行测试来记录和消除预定的测试数据(随机数据或预定数据)。 接着，功率信息管理单元4根据测试结果在测试条件中选择最佳条件(如抖动 值最小、分辨率最高、调制程度最大的条件)，并将最佳条件提供到记录波形 发生器2。
图3A和3B分别是由在图2A和2B中所示的记录装置实现的示例。与 图2A和2B中相同的元件被以相同的附图标记来说明，因此省略它们的详细 描述。
参见图3A，记录装置包括拾取单元1、记录波形发生器2、信道调制器 3。拾取单元1具有电机11、伺服电路12、光头13和激光驱动器14。电机 11转动光盘200。伺服电路12伺服控制电机11和光头13。光头13向光盘 200照射激光并接收从光盘200反射的激光。激光驱动器14驱动安装在光头 13上的激光器(未示出)。
信道调制器3将输入的数据调制为信道比特序列，并输出不归零翻转 (NRZI)数据。记录波形发生器2根据关于消除功率Pb1和Pb2的信息产生用于 记录NRZI数据的记录波形，并将其提供到在拾取单元1中的激光驱动器14。
激光驱动器14利用所接收的波形控制激光器以在光记录介质200上形成 标记或间隔。
参见图3B，记录装置包括拾取单元1、记录波形发生器2、信道调制器3 和功率信息管理单元4。拾取单元1包括电机11、伺服电路12、光头13和 激光驱动器14。电机11转动光记录介质200。伺服电路12伺服控制电机11 和光头13。光头13向光盘200照射激光并接收从光盘200反射的激光。激 光驱动器14驱动安装在光头13上的激光器(未示出)。
信道调制器3将输入的数据调制为信道比特序列，并输出NRZI数据。 功率信息管理单元4读取记录在光记录介质上的关于消除功率Pb1和Pb2的信 息或从外部接收所述信息。记录波形发生器2根据关于消除功率Pb1和Pb2的 信息产生用于记录NRZI数据的记录波形，并将其提供到在拾取单元1中的 激光驱动器14。
激光驱动器14利用所接收的波形控制激光以在光记录介质200上形成标 记或间隔。
图4A到4C是由记录波形发生器2产生的记录波形的示例。在图4A中， 需要N-2个波形来在整数2-14的基准时钟信号的任意N个周期记录标记，需 要N-1脉冲来在基准时钟信号的任意N个周期产生用于消除现有标记的间 隔。在图4B中，需要N-1个波形来在整数2-14的基准时钟信号的任意N个 周期T记录标记，需要N-1脉冲来在基准时钟信号的任意N个周期产生用于 消除现有标记的间隔，以便记录脉冲的第一个的结束位置对应于第一时钟脉 冲的结束部分。在图4C中，需要N-1个波形来在整数2-14的基准时钟信号 的任意N个周期T记录标记，需要N-2脉冲来在基准时钟信号的任意N个周 期产生用于消除现有标记的间隔，以便记录脉冲的第一个的结束位置对应于 第二时钟脉冲的结束部分，并且最后一个记录脉冲对应于NRZI的结束部分。
参见图4A，NRZI数据根据信道调制器3的调制方法而改变。换句话说， 在NRZI数据被调制为游程长度受限(RLL)(2，10)数据的情况下，即，按照8 到14调制法(EFM)、8到14改进调制法(EFM+)、D(8-15)和双调制法(？)，标 记的最小长度是3T，标记的最大长度是11T。在此，D(8-15)是在“Optical Data Storage(0DS)(光学数据存储)”，2001中Massida的“Optical Disc Recording System of 25GB Capacity(25GB容量的光盘记录系统)”中公布的调制方法。 双调制法在下列文件中得到公布：本发明的申请人在1999年9月30日提交 的并在2000年11月25日公开的韩国专利申请第99-42032号，题目为“Method Of Arranging RLL Code Having Improved DC Restraint Capability，Modulation and Demodulation Method，and Demodulation Apparatus(排列具有改进的DC限 制能力的RLL码的方法、调制和解调方法以及解调装置)”。当使用RLL(1， 7)的时候，最小记录标记是2T并且最大记录标记是8T。
当以标记形成NRZI数据的高电平和以间隔形成低电平的时候，记录波 形包括用于记录具有7T长度的标记的记录模式、用于形成具有3T长度的间 隔的消除模式和用于记录具有3T长度的标记的记录模式。
记录模式由一个脉冲序列组成。消除模式也由在F部分所示的一个脉冲 序列构成。Tmp表示构成记录模式的多脉冲的宽度。在此，多脉冲表示至少 一个宽度和功率强度相同的脉冲。在本实施例中，Tmp是0.5T。Tlp表示构 成记录模式的最后脉冲的宽度。Tcl表示冷却脉冲持续的时间。冷却脉冲包括 记录模式和消除模式。Temp表示构成消除模式的消除多脉冲的宽度。在这个 实施例中，Temp是0.5T，Tsfp表示从当NRZI数据从低电平转换到高电平的 点到当构成记录模式的第一脉冲开始的点的时间。Tsfp影响消除模式的功率 电平。换句话说，如图所示，如果Tsfp大于0.5T，则包括在消除模式中的多 脉冲在低电平Pb1结束，并且后续的Tsfp在多脉冲的高电平Pb2开始。作为对 比，如果Tsfp小于0.5T，则包括在消除模式中的多脉冲在低电平Pb1结束， 并且后续的Tsfp保持多脉冲的低电平Pb1。
参见图4B，两种记录模式示例被示出：当以标记形成NRZI数据的高电 平和以间隔形成低电平的时候，记录波形包括用于记录具有7T长度的标记的 记录模式、用于形成具有长度3T的间隔的消除模式和用于记录具有长度2T 的标记的记录模式；当以标记形成NRZI数据的高电平和以间隔形成低电平 的时候，记录波形包括用于记录具有7T长度的标记的记录模式、用于形成具 有长度5T的间隔的消除模式和用于记录具有长度2T的标记的记录模式。在 记录标记部分中的脉冲的数量比在图4B中所示的脉冲的数量多1。
参见图4C，两种记录模式示例被示出：当以标记形成NRZI数据的高电 平和以间隔形成低电平的时候，记录波形包括用于记录具有7T长度的标记的 记录模式、用于形成具有长度3T的间隔的消除模式和用于记录具有长度2T 的标记的记录模式；当以标记形成NRZI数据的高电平和以间隔形成低电平 的时候，记录波形包括用于记录具有7T长度的标记的记录模式、用于形成具 有长度5T的间隔的消除模式和用于记录具有长度2T的标记的记录模式。在 记录标记部分中的脉冲的数量比在图4A中所示的脉冲的数量多1，但是比在 图4C中所示的脉冲的数量少1。
图5是由记录波形发生器2产生的记录波形的另一个示例。参见图5， 当以标记形成NRZI数据的高电平和以间隔形成低电平的时候，记录波形包 括用于记录具有7T长度的标记的记录模式、用于形成具有长度5T的间隔的 消除模式和用于记录具有长度3T的标记的记录模式。
记录模式由一个脉冲序列组成。消除模式也由在G部分所示的一个脉冲 序列构成。Tmp表示构成记录模式的多脉冲的宽度。多脉冲表示至少一个宽 度和功率强度相同的脉冲。在本实施例中，Tmp是0.5T。Tlp表示构成记录 模式的最后脉冲的宽度。Tcl表示冷却脉冲持续的时间。冷却脉冲包括记录模 式和消除模式。Temp表示构成消除模式的消除多脉冲的宽度。在这个实施例 中。Temp是0.5T，Tsfp表示从当NRZI数据从低电平转换到高电平的点到当 构成记录模式的第一脉冲开始的点的时间。Tsfp影响消除模式的功率电平。 换句话说，如图所示，如果Tsfp大于0.5T，则包括在消除模式中的多脉冲在 低电平Pb1结束，并且后续的Tsfp在多脉冲的高电平Pb2开始。作为对比，如 果Tsfp小于0.5T，则包括在消除模式中的多脉冲在低电平Pb1结束，并且后 续的Tsfp保持多脉冲的低电平Pb1。
图6是按照本发明的一个优选实施例的说明四种类型的消除模式的波形 的图。参见图6，按照本发明的一个消除模式被划分成四种类型：(a)LH，(b)HH， (c)HL和(d)LL。为了容易识别差别，每个消除模式被标记为一个圆圈。(a)LH 指示构成消除模式的第一脉冲的功率等于后续消除多脉冲的低电平Pb1，构成 消除模式的最后消除多脉冲在低电平Pb1结束，并且后续Tsfp的功率电平等 于消除多脉冲的高电平Pb2。(b)HH指示构成消除模式的第一脉冲的功率等于 后续消除多脉冲的高电平Pb2，构成消除模式的最后消除多脉冲在高电平Pb2 结束，并且后续Tsfp的电平保持在消除多脉冲的高电平Pb2。(c)HL指示构成 消除模式的第一脉冲的功率等于后续消除多脉冲的高电平Pb2，构成消除模式 的最后消除多脉冲在高电平Pb2结束，并且后续Tsfp的电平等于消除多脉冲 的低电平Pb1。最后，(d)LL指示构成消除模式的第一脉冲的功率等于后续消 除多脉冲的低电平Pb1，构成消除模式的最后消除多脉冲在低电平Pb1结束， 并且后续Tsfp的电平保持在消除多脉冲的低电平Pb1。
在图4A到6所示的记录波形的示例中，记录波形的最后脉冲的Tcl的电 平等于记录脉冲的高电平，但是可以具有在记录脉冲的高电平和消除脉冲的 高电平之间的任何中间的电平值。
图7是图6所示的(a)LH的其他示例。参见图7，(e)LH2与图6的(a)LH 相同，除了时间Temp1和Temp2分别是0.7T和0.3T，其中Temp1是构成一 个周期的消除多脉冲的高电平Pb2持续的时间，Temp2是低电平Pb1持续的时 间。(f)LH3也与图6的(a)LH相同，除了时间Temp是1.0T，Temp是高电平 Pb2持续的时间和消除多脉冲的低电平Pb1持续的时间。在此，时间Temp1和 时间Temp2的比率是m∶n(m和n是整数)，其中Temp1是构成一个周期的消 除多脉冲的高电平Pb2持续的时间，Temp2是低电平Pb1持续的时间。这个比 率值可能变化。
按照本发明的记录波形具有包括消除多脉冲的消除模式以便减少标记的 后沿的变形和改善标记的再现特性，其中消除多脉冲具有高电平功率Pb1和低 电平功率Pb2。具体而言，通过将消除多脉冲的高电平功率Pb1和低电平功率 Pb2持续的时间，即“持续时间”控制在时钟周期T的0.25-0.75T的范围内以 选择适合于盘200的热特性的持续时间，形成在前面的实施例中所述的记录 波形。因此，记录波形大大地减少了标记的后沿的变形并改善了标记的再现 特性。
关于四种类型的消除模式的信息(关于类型或消除脉冲电平Pb1和Pb2的信 息)可以被记录在可记录盘的导入区域或可以作为首标信息包括在一个摇摆 信号中。因此，当记录数据的时候，记录装置从导入区域或摇摆信号读出关 于消除脉冲类型或电平的信息以产生对应的记录波形，以便形成标记和间隔。
当记录/再现数据的时候，四种类型的消除模式可以被用作表示盘的速度 因子或所述类型的标记的符号。例如，所述符号可以表示信息“利用LH类 型消除模式的盘具有速度因子20”。
为了获得对于四种类型消除模式的最佳的记录/再现条件，消除脉冲的电 平值被记录在在每个预定单元(如消除脉冲电平的3-4％的一个单元)中的预定 范围(如±20的范围)内的盘的预定测试区域或从其再现。从这些结果中产生 对应的记录波形以形成标记和间隔。在此，存在几种确定最佳记录条件的方 法：测量抖动以选择抖动值变成最小的条件；测量比特误差率以选择比特误 差率变成最小的条件；推断分辨率(将最短信号的幅度值除以最长信号的幅度 值获得的值)最大的条件；测量调制值(通过将最长信号的高电平值除以最长信 号的低电平值获得的值)以推断调制值最大的记录条件；及测量不对称性以推 断在预定标准内的记录条件。在测试方法中，可以使用任意的模式或预定的 模式。
为了确定本发明的效果，观察通过模拟记录的标记的形状。在模拟中使 用的结构被示出在表1中。使用的盘具有四层的结构。 [表1]   基底   介电层     记录层   介电层   反射层   材料   PC   ZnS-SiO2   Sb-Te共晶体  ZnS-SiO2    Ag合金   厚度  0.6mm     128nm     14nm     16nm     30nm
在波长为405nm、数值口径NA为0.65和线性速度为6m/s的条件下执行 模拟。为了观察标记的形状，记录了具有8T长度的第一标记，然后记录了具 有8T长度的第二标记以便与第一标记的4T重叠。图8到10示出了将使用 传统记录波形时候的标记与使用按照本发明的记录波形的标记相比较的结 果。图8(a)是通过模拟形成的标记，(b)是通过按照本发明的记录波形在标记 (a)上形成的标记，(c)是通过按照现有技术的记录波形在标记(a)上形成的标 记。图9(d)是通过模拟形成的标记，(e)是通过按照本发明的具有消除模式的 记录波形在标记(d)上形成的标记，及(f)是通过按照现有技术的具有DC消除 模式的记录波形在标记(d)上形成的标记。图10(g)是通过模拟形成的标记，(h) 表示通过按照本发明的消除模式将其消除后的标记(g)，及(i)表示通过按照现 有技术的DC消除模式将其消除后的标记(g)。
表2示出了用于模拟的薄膜的参数以用于热分析。     材料     Λ＝405nm   C(J/cm3k)   K(W/cmK)     n     k     ZnS-SiO2    2.300   0.000     2.055     0.0058     Sb-Te共晶体(晶体)    1.650   3.150     1.285     0.0060   Sb-Te共晶体(非晶体)    2.900   2.950     1.285     0.0060     Ag合金    0.170   2.070     2.450     0.2000
参见图8-10所示的模拟结果，可以看出通过按照本发明的具有消除模式 的记录波形形成的标记(b)的后沿在形状上比通过按照现有技术的具有DC消 除模式的记录波形形成的标记(c)的后沿与通过模拟形成的标记更类似。在图 9中，可以看出，通过按照本发明的消除模式形成的标记的前沿的形状好于 按照现有技术的标记的前沿的形状。从模拟结果中，可以确定，通过使用具 有由消除多脉冲构成的消除模式的记录波形，与传统的标记的形状相比，按 照本发明的标记的形状得到改进。消除多脉冲的形状、宽度和功率电平可以 被控制以进一步减少标记形状的变形。
为了在实验上检验本发明的效果，利用具有波长650nm和NA 0.60的 DVD估测器(estimator)从4.7GB DVD-RAM和4.7GB DVD-RW获得了在图4 和5中示出的用于获得记录波形必要的参数，即持续时间和功率电平。接着， 将重复的记录/再现特性与通过现有方法获得的记录/再现特性相比较。
图11到15是图解DVD-RAM的特性的图。图11-13示出了当利用现有 的DC消除模式从DVD-RAM消除标记的时候按照功率和Tsfp的时间变化的 记录特性数据。在图11-13中，用于测试DC消除处理的功率条件是 Pw＝14.5mW，Pb1＝6.0mW，Pb2＝4.5mW和Pb3＝3.2mW。
图11(a)和(b)示出了当利用现有的DC消除模式消除标记的时候相对于标 记的前沿、后沿和双边缘的按照写入功率Pw和消除功率Pe的抖动特性。
图12-13示出了当利用现有的DC消除模式消除标记的时候测量的结果。 参见图12(a)、(b)和(c)以及图14(a)和(b)，当Tsfp分别是0.5T和0.4T的时候， 相对于具有超过3T和4T长度的NRZI数据的DC消除模式，对应于DC消 除模式的抖动特性是最好的。当Tlp是0.7T的时候，抖动特性好，Tle的值 与抖动特性无关。
根据所获得参数利用具有前面所述的四种类型的消除模式的记录波形来 形成标记，然后测量标记的特性。所测量的结果如下。
图14示出了在图6中所述四种类型的消除模式的抖动特性。参见图 14(a)，可以看出在四种类型中，LH是最好的。当按照图14所示的本发明的 方法测量记录特性的时候，获得了功率条件Pw＝14.5mW，Pb2＝7.0mW， Pb1＝5.0mW和Pc＝3.2mW。在此，ΔPb(Pb2-Pb1)＝2.0mW。功率Pb1和Pb2具 有与记录条件Pe的下列关系：Pc≤Pb1≤Pe，Pe≤Pb2≤Pw。在此，如果Pb1比Pe 小很多，则记录标志不完全被消除。如果Pb2比Pe大很多，则当消除记录标 记的时候建立另一个记录标记，这导致再现信号的降级。因此，最好相对于 Pe而言，Pb1大于0.5*Pe，Pb2小于1.5*Pe。
图14(b)示出了当利用由消除多脉冲构成的消除模式消除标记的时候关 于在消除多脉冲的高电平和低电平之间的差ΔPb(Pb2-Pb1)的抖动特性。可以 看出，抖动特性难于改变到最大到5mW。
图15示出了当利用按照本发明的具有消除模式的记录脉冲重复记录和 再现标记的时候的抖动特性。参见图15，由于利用消除多脉冲消除了标记， 因此标记的重复的记录特性良好。
图16到20是图解DVD-RW的特性的图。
图16-18示出了当利用现有的DC消除模式从DVD-RW盘消除标记的时 候按照功率和Tsfp的时间变化的记录特性数据。在图16-18中，可以看出用 作DC消除处理的测试数据的功率条件是Pw＝14.0mW、Pe＝6.0mW、 Pc＝0.5mW。
图16(a)和16(b)示出了当利用现有的DC消除模式消除标记的时候相对于 标记的前沿、后沿和双边缘的按照写入功率Pw和消除功率Pe的抖动特性。
图17和18示出了当利用现有的DC消除模式消除标记的时候测量的结 果。参见图17和18，最好Ttop相对于具有超过3T和4T的长度的标记分别 是1.2T和1.45T。最好作为构成记录模式的最后脉冲Tlp在0.55T良好，并 且Tle在1.0T和1.1T良好。
根据所获得的参数利用具有前面所述的四种类型的消除模式的记录波形 形成标记，然后测量标记的再现特性。所测量的结果如下。
图19示出了在图6所示的四种类型的消除模式的抖动特性。参见图19， 可以看出在四种类型中，HH是最好的。当测量图19所示的按照本发明的方 法的记录特性的时候，获得了功率条件Pw＝14.0mW、Pb2＝6.5mW、Pb1＝5.5mW 和Pc＝0.5mW。在此，在Pb1和Pb2之间的差是1.0mW，即ΔPb(Pb2-Pb1)＝1.0mW。 当以DC消除模式消除标记的时候，功率Pb1和Pb2具有与记录条件Pe的下列 关系：Pc≤Pb1≤Pe，Pe≤Pb2≤Pw。如果Pb1比Pe小很多，则记录标志不完全被 消除。如果Pb2比Pe大很多，则当消除记录标记的时候建立另一个记录标记， 这导致再现信号的降级。因此，相对于Pe而言，最好Pb1大于0.7*Pe，Pb2 小于1.3*Pe。
当利用按照本发明的由消除多脉冲构成的消除模式消除标记的时候，可 以相对于在消除多脉冲的高电平和低电平之间的差ΔPb(Pb2-Pb1)来获得抖动 特性。由于抖动特性被剧烈降级超过3mW，因此选择1mW的功率作为记录/ 再现条件。
图20示出了当利用按照本发明具有消除模式的记录脉冲重复地记录/再 现标记的时候获得的抖动特性。参见图20，可以看出，由于利用消除多脉冲 消除了标记，因此标记的重复的记录特性良好。但是，当标记的记录被重复 多于2000次的时候，抖动特性被剧烈降级。因此，当重复记录标记1000次 的时候使用按照本发明的脉冲消除方法是有益的，重复记录标记1000次在 DVD-RW盘中保证会发生。
上述的实验使用了DVD模式的EFM+调制方法。在一般使用其他调制方 法来稳定地记录记录标志的时候，例如使用RLL(1，7)、D(8-15)和双调制方 法等，也可以获得相同的结果。
图21A和21B分别是图解按照AglnSbTe记录层和GeSbTe记录层的温度 的成核频率和晶体生长率的图。如图4A到7所示。在本发明中，消除多脉 冲的消除功率Pb1大于消除功率Pe，并且消除功率Pb2小于消除功率Pe。换 句话说，按照记录层的特性来控制消除功率。而且，关于消除功率Pb1和Pb2 的信息被记录在光记录介质上，并且驱动器读出关于消除功率Pb1和Pb2的信 息。因此，关于消除功率Pb1和Pb2的信息可以被用作产生消除脉冲的基准信 息。在未记录消除功率Pb1和Pb2的光记录介质的情况下，关于消除功率Pb1 和Pb2的信息可以从外部被输入，并用作产生消除脉冲的基准信息。
参见图21A，晶体生长率和成核频率的温度在主要用于DVD-RW中的 AglnSbTe记录层中相等。当以DC消除功率进行消除的时候，因为热累积， 结束消除的消除区域中的部分的温度变得比开始消除的消除区域中的部分的 温度高。结果，再现信号的质量可能被降级。但是，在本发明中，有可能在 晶体生长率最大的位置设置脉冲功率Pb1和Pb2。在此，可以将结束消除的消 除区域中的部分的温度和开始消除的消除区域中的部分的温度保持为几乎相 同。因此，记录标记被一致地消除，这降低了噪音以便改善再现信号的质量。
参见图21B，在主要用于DVD-RAM中的GeSbTe记录层中，晶体生长 率的温度比成核频率的温度高。因此，在通过脉冲消除获得成核的之后，现 有的标记被具有高温度和高电平Pb2的Pe重写的时候，晶体生长率变得更高。 结果，消除(结晶化)不被很好地进行。因此，当通过本发明的脉冲消除方法记 录记录标记的时候，记录标记的前沿和后沿的特性被改善。而且，记录标记 被一致地消除，这降低了噪音以便改善再现信号的质量。
现在按照上述的结构说明按照本发明的优选实施例的记录方法。
图22A和22B是按照本发明的优选实施例的记录方法的流程图。参见图 22A，在步骤1801，记录装置从外部接收数据、将其调制并产生NRZI数据。 在步骤1802，产生具有包含消除多脉冲的消除模式的记录波形。在步骤1803， 利用所产生的记录波形来在盘200上形成标记或间隔。
参见图22B，在步骤2201，记录装置从外部接收数据、将其调制、产生 NRZI数据并获得关于消除功率Pb1和Pb2的信息。在步骤2202，根据关于消 除功率Pb1和Pb2的信息产生具有消除模式的记录波形。在步骤2203，利用所 产生的记录波形来在盘200上形成标记或间隔。
如上所述，在按照本发明的用于记录数据的方法和装置中，记录波形可 以防止标记的形状由于当记录标记的时候在相邻标记之间的热干扰和热累积 而变形，并可以改善标记的形状。结果，可以改善标记的记录/再现特性。