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    • 5. 发明专利
    • 下部支線ロッドの劣化測定器、および、下部支線ロッドの劣化測定方法
    • 下分支线路检测装置测量方法及下行分支线路检测方法
    • JP2016109510A
    • 2016-06-20
    • JP2014245774
    • 2014-12-04
    • 日本電信電話株式会社
    • 水沼 守根岸 香織澤田 孝
    • E02D5/80G01N27/72
    • 【課題】下部支線ロッドの付近の埋設土を掘削することなく、地中部の下部支線ロッドの減肉による劣化状況を定量的に把握する。 【解決手段】電柱等の下部支線ロッド10の劣化測定器として鉄芯20を用いる。この鉄芯20は、当該鉄芯20が地中に打設貫入されたときの地上部分に位置する場所に電磁コイル21を巻きつける。また、鉄芯20は、当該鉄芯20が下部支線ロッド10の側面に密着させて地中に打設貫入されたときに、鉄芯20の両端のみが下部支線ロッド10に接するように、下部支線ロッド10との接触面に樹脂板22を挟んでおく。そして、この鉄芯20の電磁コイル21を通電状態にすると、鉄芯20と下部支線ロッド10とをつなぐループ状の磁気回路が構成される。そして、この磁気回路のインダクタンスLの値を測定することで、下部支線ロッド10の劣化により最もくびれた部分の断面積Sを求める。 【選択図】図3
    • 要解决的问题:定量掌握地下部分下部分支线棒的厚度减小导致的劣化状态,而不会在下分支线杆附近钻埋埋土。解决方案:铁芯20用作劣化测量装置 诸如电极的下分支线杆10。 当铁芯20安装并穿入地下时,铁芯20通过将电磁线圈21缠绕到位于接地部的位置而形成。 此外,在铁芯20中,树脂板22夹在与下分支线10的接触表面上,使得当铁芯20安装时,铁芯20的两端仅与下分支线10接触 通过密封在下分支线10的侧面而穿入地下。然后,当铁芯20的电磁线圈21设定为导通状态时,将铁芯20与 构成下分支线10。 然后,通过测量磁路的电感L的值,由于下分支线10的劣化而最大限制的部分的横截面积S。图3