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1. 发明专利

FR3122931A1 Procédé et dispositif de contrôle d’un ensemble de calculateurs d’un véhicule 未知
公开(公告)号：FR3122931A1
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：FR2104967
申请日：2021-05-11
申请人： PSA AUTOMOBILES SA
发明人： PETIT BENJAMIN , RAMOS DOS SANTOS GRAZIELE , PIETTRE JEROME
IPC分类号： G06F11/34 , G06F119/04
摘要： L’invention concerne un procédé et un dispositif de contrôle d’un ensemble de calculateurs (10) d’un véhicule comprenant au moins un calculateur (101, 102, 103). Une opération d’incrémentation d’un compteur horaire (104) associé à cet ensemble de calculateurs (10) est déclenchée lorsque la réception d’une requête par cet ensemble de calculateurs (10) déclenche un réveil de l’ensemble de calculateurs (10) associé au compteur horaire (104). La valeur prise par le compteur après incrémentation est comparée à une valeur seuil déterminée pour déclencher la mise en œuvre d’une ou plusieurs actions lorsque la valeur prise par le compteur horaire (104) est supérieure ou égale à la valeur seuil. La ou les actions sont par exemple prévues pour alerter sur le risque d’usure prématurée de l’ensemble de calculateurs (10) et/ou pour réduire l’usage de cet ensemble de calculateurs (10). Figure pour l’abrégé : Figure 1

2. 发明专利

FR3120722A1 Procédé de détermination d’un ou plusieurs modèles de comportement mécanique d’une aube de turbine, et dispositif associé 未知
公开(公告)号：FR3120722A1
公开(公告)日：2022-09-16
申请号：FR2102262
申请日：2021-03-09
申请人： ASSOCIATION POUR LA RECH ET LE DEVELOPPEMENT DES METHODES ET PROCESSUS INDUSTRIELS ARMINES , SAFRAN
发明人： DANIEL THOMAS , CASENAVE FABIEN , RYCKELYNCK DAVID , KETATA ALI
IPC分类号： G06F30/20 , B64F5/00 , G06F30/15 , G06F119/04
摘要： Procédé de détermination d’un ou plusieurs modèles de comportement mécanique d’un e aube de turbine, et dispositif associé Un tel procédé, comprenant les étapes suivantes : étape de simulation numérique simplifiée, au cours de laquelle, pour chaque champ de sollicitation d’un ensemble de champs de sollicitation, on détermine une réponse mécanique simplifiée de l’aube de turbine soumise au champ de sollicitation considéré, étape de partitionnement, au cours de laquelle on subdivise ledit ensemble en K groupes de champs de sollicitation, distincts, sur la base desdites réponses mécaniques simplifiées, étape de pré-caractérisation, au cours de laquelle on détermine un critère de performance ( , G) attendu pour un dictionnaire de modèles de comportement mécanique comportant K modèles, compte tenu dudit partitionnement, détermination du ou des modèles de comportement mécanique, en tenant compte dudit critère de performance. Figure à publier avec l’abrégé : Figure 5

3. 发明专利

FR3119903A1 Procédé et dispositif de contrôle d’un ensemble de calculateurs d’un véhicule 未知
公开(公告)号：FR3119903A1
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：FR2101494
申请日：2021-02-17
申请人： PSA AUTOMOBILES SA
发明人： PETIT BENJAMIN , RAMOS DOS SANTOS GRAZIELE , PIETTRE JEROME
IPC分类号： B60W20/18 , G06F1/32 , G06F119/04
摘要： L’invention concerne un procédé et un dispositif de contrôle d’un ensemble de calculateurs (10) d’un véhicule comprenant au moins un calculateur (101, 102, 103). Un compteur (104) associé à cet ensemble de calculateurs (10) est incrémenté lorsque la réception d’une requête par cet ensemble de calculateurs (10) déclenche un réveil de l’ensemble de calculateurs (10) associé au compteur (104). La valeur prise par le compteur après incrémentation est comparée à une valeur seuil déterminée pour déclencher la mise en œuvre d’une ou plusieurs actions lorsque la valeur prise par le compteur est supérieure ou égale à la valeur seuil. La ou les actions sont par exemple prévues pour alerter sur le risque d’usure prématurée de l’ensemble de calculateurs (10) et/ou pour réduire l’usage de cet ensemble de calculateurs (10). Figure pour l’abrégé : Figure 1

4. 发明授权

US11113442B2 Methods and apparatus for reducing reliability degradation on an integrated circuit 有权
公开(公告)号：US11113442B2
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：US15718685
申请日：2017-09-28
申请人： Intel Corporation
发明人： Ning Cheng , Xiangyong Wang , Mahesh A. Iyer
IPC分类号： G06F30/00 , G06F30/392 , G06F30/34 , G06F30/394 , G06F30/398 , G06F119/04
摘要： An integrated circuit with programmable logic circuitry is provided. The integrated circuit may include quiet regions, toggling regions, or unused regions. An integrated circuit may also include heavily-used metal routing paths, lightly-used metal routing paths, and unused metal routing paths. Circuit design tools may be used to generate multiple configuration images that replace the quiet regions with toggling or unused regions, that swap the heavily-used metal routing paths with lightly-used or unused metal routing paths, or that use random fitter seeds of improve the usage coverage to statistically reduce the always quiet regions on the integrated circuit. The multiple configuration images implement the same design and can be used to reconfigure the integrated circuit upon startup to reduce aging effects and improve circuit performance.

5. 发明授权

US11159167B2 Techniques for reducing uneven aging in integrated circuits 有权
公开(公告)号：US11159167B2
公开(公告)日：2021-10-26
申请号：US15714361
申请日：2017-09-25
申请人： Intel Corporation
发明人： Herman Schmit
IPC分类号： H03K3/03 , H03K19/17764 , H03K19/17752 , G06F30/34 , H03K19/17736 , H03K19/1776 , G06F119/04
摘要： An integrated circuit includes first circuits that are configured to implement a user design for the integrated circuit, second circuits that are unused by the user design, and configuration circuitry that couples the second circuits together through a network of conductors. Transistors in the second circuits turn on and off in response to a varying signal that propagates through the second circuits and through the network of conductors while the first circuits implement the user design.

6. 发明授权

US10885250B1 Clock gate placement with data path awareness 有权
公开(公告)号：US10885250B1
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：US16735666
申请日：2020-01-06
申请人： Cadence Design Systems, Inc.
发明人： David White , Andrew Mark Chapman , Thomas Andrew Newton , Zhuo Li
IPC分类号： G06F30/3312 , G06F30/392 , G06F30/396 , G06F119/04 , G06F117/04
摘要： Electronic design automation systems, methods, and media are presented for clock gate placement with data path awareness. One embodiment involves accessing a circuit design with a clock tree, clock gates, and an initial movement area. A set of positions for a set of data path connection points associated with the data routing lines are identified, along with an expansion direction from the initial placement position toward the set of positions for the set of data path connection points, and the initial movement is expanded to consider additional placement options for the clock gate based on the data path connection points.

7. 发明授权

US10699041B2 Age estimator for safety monitoring based on local detectors 有权
公开(公告)号：US10699041B2
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：US16415107
申请日：2019-05-17
申请人： Infineon Technologies AG
发明人： Dirk Hammerschmidt
IPC分类号： G06F30/20 , G06F30/30 , G06F30/333 , G06F119/04
摘要： An age monitoring arrangement includes a sensor, a calculation component, and a timer. The sensor is configured to generate one or more measurements of an environmental property. The calculation component is configured to generate a virtual age and identify an occurrence of an event based on the one or more measurements and a clock using an aging module. The timer is configured to generate the clock.

8. 发明授权

US11537768B2 Method for aging simulation model establishment 有权
公开(公告)号：US11537768B2
公开(公告)日：2022-12-27
申请号：US16820685
申请日：2020-03-16
申请人： NANYA TECHNOLOGY CORPORATION
发明人： Jei-Cheng Huang
IPC分类号： G06F30/20 , G06F119/04
摘要： A method for aging simulation model establishment includes following operations. Provide a planar p-type metal-oxide-semiconductor field-effect transistor (pMOSFET) having a source and a drain. Measure a first reliability degradation data of the pMOSFET. Select a model for the pMOSFET with modeling parameters related to hot carrier induced punch-through (HEIP). The modeling parameters comprise hot carrier injection (HCI) parameters used to fix a simulated current relation between the source and the drain. Construct the modeling parameters by aging parameters multiplied corresponding flags. Perform a simulation of the pMOSFET with the model to have a second reliability degradation data. Update the aging parameters and re-performing the simulation if the first reliability degradation data and second reliability degradation data are not matched. Collect the aging parameters when the first reliability degradation data and the second reliability degradation data are matched to establish the aging simulation model for the pMOSFET.

9. 发明授权

US11471982B2 Unified fatigue life evaluation method for welded structures 有权
公开(公告)号：US11471982B2
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：US16055485
申请日：2018-08-06
申请人： The Regents of The University of Michigan
发明人： Pingsha Dong , Xianjun Pei , Jifa Mei
IPC分类号： B23K31/02 , B23K31/12 , G06F30/23 , G01M5/00 , G06F119/04
摘要： Due to geometric discontinuities introduced by welding and joining processes, stresses or strain cannot be calculated reliably calculated using modern analytical and computer methods as result of stress or strain singularity at joint locations, which leads to severe mesh sensitivity. Design and fatigue evaluation of these structures remain empirical. This disclosure addresses mesh insensitivity of stress/strain calculations for welded structures through a cut-plane traction stress method through a novel post processing of conventional finite element computation results, as well as provides a unified fatigue evaluation procedure for fatigue design and structural life evaluation for both low-cycle and high cycle fatigue regime subjected to either proportional or non-proportional multiaxial fatigue loading, as well as a simple and reliable method for treating spot welds.

10. 发明授权

US10796050B2 Method for generating aging model and manufacturing semiconductor chip using the same 有权
公开(公告)号：US10796050B2
公开(公告)日：2020-10-06
申请号：US16416762
申请日：2019-05-20
申请人： SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
发明人： Moon Su Kim
IPC分类号： G06F30/367 , G06F30/3312 , G01R31/26 , G06F30/36 , G06F30/398 , G06F119/04 , G06F119/12
摘要： A method for generating an aging model used in the design of a semiconductor chip includes: extracting a plurality of aging scenarios including a use condition of the semiconductor chip from an aging model library of the semiconductor chip; calculating a first aging parameter commonly applied to a plurality of semiconductor elements included in the semiconductor chip from the plurality of aging scenarios; and generating characteristic deterioration information due to aging of each of the semiconductor elements through simulation using the first aging parameter and a second aging parameter of each of the semiconductor elements.

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